一种磁流变抛光驻留时间的处理方法及装置

    公开(公告)号:CN110134915B

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN201910411413.1

    申请日:2019-05-16

    Abstract: 本发明公开了一种磁流变抛光驻留时间的处理方法及装置,该方法通过采用驻留点矩阵的方法,保持了在卷积计算时矩阵E、P的整体连续性,因此在计算卷积时,可以采用更高效的卷积计算方法;同时该方法从机床动态性能匹配的角度出发,实现了驻留时间计算过程中速度、加速度、速度匀滑性的有效控制,使得驻留时间计算方法具有面形收敛精度高、计算速度快与机床动态性能匹配等优点,适用于磁流变加工中驻留时间的求解,尤其是在大规模计算时相比于矩阵法具有较高的计算效率,是一种有效的驻留时间计算方法,可以提高磁流变加工的面形收敛精度,是值得推广的一种驻留时间计算方法。

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