一种基于悬丝法的螺线管线圈的磁轴测量系统

    公开(公告)号:CN109407020B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN201811553643.3

    申请日:2018-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于悬丝法的螺线管线圈的磁轴测量系统,所述系统包括:穿过待测螺线管线圈的金属悬丝,金属悬丝两端均绕过定位滑轮后与牵引重物连接;金属悬丝分别穿过两个互相垂直安装的水平方向光电探测器中部、竖直方向光电探测器中部;金属悬丝分别穿过两个互相垂直安装的亥姆霍兹线圈中部;其中,光电探测器的发光头均连接有一驱动线路,光电探测器的接收头均连接有一信号检测线路;金属悬丝与待测螺线管线圈均分别连接有一驱动电源;其中,光电探测器发光头的驱动线路采用恒流电流驱动。提高测量系统抵抗外界干扰信号影响的能力。

    一种位置探测器及其探测方法

    公开(公告)号:CN106247945B

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201610854656.9

    申请日:2016-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种位置探测器及其探测方法,所述位置探测器包括:第一一维位置敏感器、第二一维位置敏感器、标准位置处理电路、位置信号定标电路、位置信号偏置处理电路,其中,第一一维位置敏感器、第二一维位置敏感器均与标准位置处理电路连接,标准位置处理电路与位置信号定标电路连接,位置信号定标电路与位置信号偏置处理电路连接,第一一维位置敏感器的一端与第二一维位置敏感器的一端之间的夹角为90度,实现了位置探测器及其探测方法设计合理,实时性较好、输出信号速度快、成本较低的技术效果。

    一种基于悬丝法的螺线管线圈的磁轴测量系统

    公开(公告)号:CN109407020A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811553643.3

    申请日:2018-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于悬丝法的螺线管线圈的磁轴测量系统,所述系统包括:穿过待测螺线管线圈的金属悬丝,金属悬丝两端均绕过定位滑轮后与牵引重物连接;金属悬丝分别穿过两个互相垂直安装的水平方向光电探测器中部、竖直方向光电探测器中部;金属悬丝分别穿过两个互相垂直安装的亥姆霍兹线圈中部;其中,光电探测器的发光头均连接有一驱动线路,光电探测器的接收头均连接有一信号检测线路;金属悬丝与待测螺线管线圈均分别连接有一驱动电源;其中,光电探测器发光头的驱动线路采用恒流电流驱动。提高测量系统抵抗外界干扰信号影响的能力。

    一种基于CCD电极直接控制的高速双幅脉冲图像曝光方法

    公开(公告)号:CN107071309A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710316120.6

    申请日:2017-05-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于CCD电极直接控制的高速双幅脉冲图像曝光方法,发光脉冲图像经过成像镜头,然后成像在CCD相机上;针对CCD正常信号电荷包的产生、转移及传输,在两次曝光驱动脉冲中间极短的无效时间内设计一种转移、传输驱动时序,利用转移电极隔离信号电荷包的功能在曝光脉冲无效期间的后期进行信号电荷包的隔离,从而起到两次曝光产生的信号电荷包是可以分辨的效果,并满足在曝光脉冲无效期间实现信号电荷包的正常转移及传输,进而获得一种双幅脉冲图像的超高时间分辨的成像能力。本发明没有了图像增强器对信号的动态范围的压缩作用及附加的额外噪声的影响,最大限度地发挥了CCD本身的成像性能,满足较高的科学成像要求。

    一种天平加载头位姿检测装置

    公开(公告)号:CN107063082A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201610910346.4

    申请日:2016-10-19

    Abstract: 本发明公开了一种天平加载头位姿检测装置,所述装置包括:指示光源、位置探测结构,所述指示光源安装在待检测天平加载头上表面,所述位置探测结构包括:指示光斑照射靶面、光学成像系统、位置探测器,所述指示光斑照射靶面开设有中心孔,所述位置探测器的端面设有开口,所述开口中心线与所述中心孔中心线重合,所述位置探测器固定在所述指示光斑照射靶面的背面,所述光学成像系统位于所述指示光斑照射靶面的正面前方,实现了利用本申请中的装置加载头位置姿态的大范围变化监测与复位位置姿态附近的高精密检测可以同时进行,并满足了加载头位置姿态检测的大范围、高精度测量要求。

    一种电子束发射度测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN103941278B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201410199880.X

    申请日:2014-05-13

    Abstract: 本发明公布了一种电子束发射度测量装置及测量方法,包括测量靶室,在测量靶室的输出端设置有反射镜、以及测量窗口,在所述测量靶室上还安装有真空泵,在所述测量靶室内还安装有一个可沿测量靶室的轴线自由移动的能量转换靶、以及测量能量转换靶位置的测量机构。本发明采用在固定磁场参数条件下通过改变测量位置的方法来减少参与数据拟合时的参数个数到1个;利用刻度指示的可移动能量转换靶及真空动密封机构以保证在改变测量位置时不会破坏加速器的真空环境,并直接获取测量位置数据,可以大幅度提高测量工作效率;通过多个位置测量数据,增加数据测量点的形式以提高拟合的稳定性和精度。

    一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置

    公开(公告)号:CN103940502A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410173537.8

    申请日:2014-04-28

    Abstract: 本发明提供了一种非接触式振动绝对位移的快速光学直接测量装置,所述的测量装置中的光源发出的光线经透镜产生一个圆柱型平行光束,平行光束经光束成型器的限制而形成需要的长度及宽度合适的矩形平行光束,矩形平行光束分别照射在被测量物体和线阵CCD探测器上,线阵CCD探测器将获得特征位置的电信号输送到测量系统及信号处理系统进行处理,处理结果再送到计算机处理。本发明的测量装置结构简单,可靠性高。

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