公开(公告)号：CN108088388A

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201810034709.1

申请日：2018-01-15

Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

Inventor： 陈华 ,  张连新 ,  黄文 ,  何建国 ,  郑永成 ,  唐小会 ,  侯晶 ,  刘坤 ,  周涛 ,  陈苓芷

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种工件抛光检测装置。该装置由支架、抛光头、气缸、测头、安装板和激光测距仪组成。工作时将测头固定连接在气缸活塞的下端，气缸运动到下限位时，测头接触式测量工件表面，获取位姿数据，采用最小二乘法计算得到理论工件坐标系与机床坐标系间的变换矩阵，免去装调工件位姿的工序；激光测距仪位于抛光头的Z向正下方，激光测距仪连续扫描工件表面获取等法向间距的抛光轨迹，校核工件位姿免装调时坐标系转换的正确性、校核等法向间距抛光数控程序的正确性、验证抛光数控程序与机床伺服性能的匹配性。该装置节省了抛光工艺辅助时间，保证抛光工艺过程等法向间距抛光，提高了抛光去除的可靠性、抛光质量的可控性和抛光工艺效率。

公开(公告)号：CN108088388B

公开(公告)日：2020-10-23

申请号：CN201810034709.1

申请日：2018-01-15

Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

Inventor： 陈华 ,  张连新 ,  黄文 ,  何建国 ,  郑永成 ,  唐小会 ,  侯晶 ,  刘坤 ,  周涛 ,  陈苓芷

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种工件抛光检测装置。该装置由支架、抛光头、气缸、测头、安装板和激光测距仪组成。工作时将测头固定连接在气缸活塞的下端，气缸运动到下限位时，测头接触式测量工件表面，获取位姿数据，采用最小二乘法计算得到理论工件坐标系与机床坐标系间的变换矩阵，免去装调工件位姿的工序；激光测距仪位于抛光头的Z向正下方，激光测距仪连续扫描工件表面获取等法向间距的抛光轨迹，校核工件位姿免装调时坐标系转换的正确性、校核等法向间距抛光数控程序的正确性、验证抛光数控程序与机床伺服性能的匹配性。该装置节省了抛光工艺辅助时间，保证抛光工艺过程等法向间距抛光，提高了抛光去除的可靠性、抛光质量的可控性和抛光工艺效率。

公开(公告)号：CN108255129B

公开(公告)日：2020-08-28

申请号：CN201810034578.7

申请日：2018-01-15

Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

Inventor： 陈华 ,  张连新 ,  黄文 ,  何建国 ,  郑永成 ,  唐小会 ,  侯晶 ,  刘坤 ,  周涛 ,  陈苓芷

IPC: G05B19/404

Abstract: 本发明公开了一种工件抛光检测方法。该方法的装置由支架、抛光头、气缸、测头、安装板和激光测距仪组成。该方法将测头固定连接在气缸活塞的下端，气缸运动到下限位时，测头接触式测量工件表面，获取位姿数据，采用最小二乘法计算得到理论工件坐标系与机床坐标系间的变换矩阵，免去装调工件位姿的工序；激光测距仪位于抛光头Z向正下方，激光测距仪连续扫描工件表面获取等法向间距的抛光轨迹，校核工件位姿免装调时坐标系转换的正确性、校核等法向间距抛光数控程序的正确性、验证抛光数控程序与机床伺服性能的匹配性。该方法节省了抛光工艺辅助时间，保证了抛光工艺过程等法向间距抛光，提高了抛光去除的可靠性、抛光质量的可控性和抛光工艺效率。

公开(公告)号：CN108255129A

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201810034578.7

申请日：2018-01-15

Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

Inventor： 陈华 ,  张连新 ,  黄文 ,  何建国 ,  郑永成 ,  唐小会 ,  侯晶 ,  刘坤 ,  周涛 ,  陈苓芷

IPC: G05B19/404

Abstract: 本发明公开了一种工件抛光检测方法。该方法的装置由支架、抛光头、气缸、测头、安装板和激光测距仪组成。该方法将测头固定连接在气缸活塞的下端，气缸运动到下限位时，测头接触式测量工件表面，获取位姿数据，采用最小二乘法计算得到理论工件坐标系与机床坐标系间的变换矩阵，免去装调工件位姿的工序；激光测距仪位于抛光头Z向正下方，激光测距仪连续扫描工件表面获取等法向间距的抛光轨迹，校核工件位姿免装调时坐标系转换的正确性、校核等法向间距抛光数控程序的正确性、验证抛光数控程序与机床伺服性能的匹配性。该方法节省了抛光工艺辅助时间，保证了抛光工艺过程等法向间距抛光，提高了抛光去除的可靠性、抛光质量的可控性和抛光工艺效率。

公开(公告)号：CN207688842U

公开(公告)日：2018-08-03

申请号：CN201820059324.6

申请日：2018-01-15

Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

Inventor： 陈华 ,  张连新 ,  黄文 ,  何建国 ,  郑永成 ,  唐小会 ,  侯晶 ,  刘坤 ,  周涛 ,  陈苓芷

IPC: G01B11/24

Abstract: 本实用新型公开了一种工件抛光检测装置。该装置由支架、抛光头、气缸、测头、安装板和激光测距仪组成。工作时将测头固定连接在气缸活塞的下端，气缸运动到下限位时，测头接触式测量工件表面，获取位姿数据，采用最小二乘法计算得到理论工件坐标系与机床坐标系间的变换矩阵，免去装调工件位姿的工序；激光测距仪位于抛光头的Z向正下方，激光测距仪连续扫描工件表面获取等法向间距的抛光轨迹，校核工件位姿免装调时坐标系转换的正确性、校核等法向间距抛光数控程序的正确性、验证抛光数控程序与机床伺服性能的匹配性。该装置节省了抛光工艺辅助时间，保证抛光工艺过程等法向间距抛光，提高了抛光去除的可靠性、抛光质量的可控性和抛光工艺效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利