X射线衍射测试金刚石薄膜的方法

    公开(公告)号:CN105044137B

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201510525878.1

    申请日:2015-08-25

    Abstract: 公开了一种X射线衍射测试金刚石薄膜的方法,该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像,并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中,利用含有NH4F和EDTA的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面,同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合,获得X射线衍射样品架,可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰,另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性,克服容易脆裂的缺点,显著延长其使用寿命。

    一种用于精确抓取的三指自定心电动机械手爪

    公开(公告)号:CN107322623A

    公开(公告)日:2017-11-07

    申请号:CN201710695518.5

    申请日:2017-08-15

    CPC classification number: B25J15/0253 B25J15/10

    Abstract: 本发明公开了一种用于精确抓取的三指自定心电动机械手爪,电机外罩、手爪中部导向件,所述电机外罩内部设置有伺服电机,所述电机外罩尾部设置有航空插头,所述伺服电机前端设置有手爪外罩连接件,所述伺服电机前端设置有联轴器,所述联轴器外部设置有联轴器外罩,所述联轴器外罩前端设置有轴承固定件,所述轴承固定件前端设置有所述手爪中部导向件,所述手爪中部导向件外壁上通过螺钉固定有限位线槽,所述手爪中部导向件前端设置有手指导轨平台,所述手指导轨平台前表面设置有第一手指、第二手指和第三手指,所述手指导轨平台中央设置有润滑挡板。有益效果在于:加工成本低、设备体积小、控制方法简单、精度高、效率高且使用范围广。

    三维X射线衍射测试方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105044138B

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201510526083.2

    申请日:2015-08-25

    Abstract: 公开了一种三维X射线衍射测试方法,该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像,并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中,利用含有NH4F和EDTA二钠盐的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面,同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合,获得X射线衍射样品架,可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰,另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性,克服容易脆裂的缺点,显著延长其使用寿命。

    三维X射线衍射测试方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105044138A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510526083.2

    申请日:2015-08-25

    Abstract: 公开了一种三维X射线衍射测试方法,该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像,并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中,利用含有NH4F和EDTA二钠盐的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面,同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合,获得X射线衍射样品架,可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰,另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性,克服容易脆裂的缺点,显著延长其使用寿命。

    X射线衍射测试金刚石薄膜的方法

    公开(公告)号:CN105044137A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510525878.1

    申请日:2015-08-25

    Abstract: 公开了一种X射线衍射测试金刚石薄膜的方法,该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像,并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中,利用含有NH4F和EDTA的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面,同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合,获得X射线衍射样品架,可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰,另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性,克服容易脆裂的缺点,显著延长其使用寿命。

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