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公开(公告)号：CN105044137A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510525878.1
申请日：2015-08-25
Applicant: 中国地质大学(北京)
IPC: G01N23/20
Abstract: 公开了一种X射线衍射测试金刚石薄膜的方法，该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像，并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中，利用含有NH4F和EDTA的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面，同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合，获得X射线衍射样品架，可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰，另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性，克服容易脆裂的缺点，显著延长其使用寿命。
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公开(公告)号：CN105044138B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201510526083.2
申请日：2015-08-25
Applicant: 中国地质大学(北京)
IPC: G01N23/207
Abstract: 公开了一种三维X射线衍射测试方法，该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像，并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中，利用含有NH4F和EDTA二钠盐的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面，同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合，获得X射线衍射样品架，可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰，另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性，克服容易脆裂的缺点，显著延长其使用寿命。
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公开(公告)号：CN105044138A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510526083.2
申请日：2015-08-25
Applicant: 中国地质大学(北京)
IPC: G01N23/207
Abstract: 公开了一种三维X射线衍射测试方法，该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像，并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中，利用含有NH4F和EDTA二钠盐的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面，同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合，获得X射线衍射样品架，可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰，另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性，克服容易脆裂的缺点，显著延长其使用寿命。
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公开(公告)号：CN105044137B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201510525878.1
申请日：2015-08-25
Applicant: 中国地质大学(北京)
IPC: G01N23/20
Abstract: 公开了一种X射线衍射测试金刚石薄膜的方法，该方法以X射线单次测量实现对称性纳米样品三维成像，并且适用于测量由具有对称外形的纳米晶体构成的薄膜。在该方法中，利用含有NH4F和EDTA的氢氟酸溶液腐蚀样品架毛坯表面，同时利用有效的粘结剂将单晶样品架与金属片进行复合，获得X射线衍射样品架，可大幅降低X射线衍射测试中的基底背景干扰，另外高效粘合剂的使用能够有效地改善样品架韧性，克服容易脆裂的缺点，显著延长其使用寿命。
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