一种用于半导体晶圆等离子的定位加工装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN118553677A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410818392.6

    申请日:2024-06-24

    Abstract: 本发明公开了一种用于半导体晶圆等离子的定位加工装置,包括固定底座以及连接在所述固定底座上的定位组件;所述定位组件包括供多个半导体晶圆同时固定的定位垫片以及与所述定位垫片配合固定的定位底盘;所述定位底盘上开设有多个供半导体晶圆放置的卡槽,所述定位垫片上开设有与所述卡槽对应相通的定位孔,所述定位垫片位于所述定位孔的周侧设置有与半导体晶圆周侧抵接的多个压片。通过采用半导体晶圆等离子的定位加工装置的使用方法,能够用于小批量加工半导体晶圆,方便多个半导体晶圆同时固定,还能减少等离子体加工过程中对半导体晶圆的加工污染,提高等离子加工的精密性。

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