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公开(公告)号:CN107423497A
公开(公告)日:2017-12-01
申请号:CN201710567993.4
申请日:2017-07-12
Applicant: 中南大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5086
Abstract: 本发明涉及粗糙表面形貌拟合领域,公开了一种粗糙表面微凸体拟合方法和系统,以避免采样间距对微凸体参数计算的影响,提高粗糙表面接触分析的准确性。本发明首先计算得到初始拟合参考线,将高于初始拟合参考线的高度序列z(i)划分为至少两个微凸体,采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合,然后计算待分析粗糙表面的表面微凸体参数,并计算得到待分析粗糙表面的表面接触间隙d;结合表面接触间隙d修正初始拟合参考线,根据修正后的拟合参考线重新划分微凸体,并重新采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合以得到单个微凸体的顶峰曲率,从而计算得到粗糙表面的更为精确的表面微凸体参数。
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公开(公告)号:CN107423497B
公开(公告)日:2018-07-24
申请号:CN201710567993.4
申请日:2017-07-12
Applicant: 中南大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及粗糙表面形貌拟合领域,公开了一种粗糙表面微凸体拟合方法和系统,以避免采样间距对微凸体参数计算的影响,提高粗糙表面接触分析的准确性。本发明首先计算得到初始拟合参考线,将高于初始拟合参考线的高度序列z(i)划分为至少两个微凸体,采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合,然后计算待分析粗糙表面的表面微凸体参数,并计算得到待分析粗糙表面的表面接触间隙d;结合表面接触间隙d修正初始拟合参考线,根据修正后的拟合参考线重新划分微凸体,并重新采用抛物线对每个微凸体上的离散点进行拟合以得到单个微凸体的顶峰曲率,从而计算得到粗糙表面的更为精确的表面微凸体参数。
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