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公开(公告)号：CN118501558A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202310122141.X
申请日：2023-02-06
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
Abstract: 本发明涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种天线测试方法、天线测试设备、系统和存储介质，该天线测试方法包括：控制待测试天线移动；在待测试天线移动过程中，获取多个探头对待测试天线发射的电磁波信号进行采集的电磁场分布数据；对多个探头对应的电磁场分布数据进行拼接，获得目标电磁场分布数据。通过在待测试天线移动过程中，由多个探头对待测试天线发射的电磁波信号进行采集，并对多个探头采集的电磁场分布数据进行拼接，可以实现待测试天线在较小的移动范围内移动时，探头的扫描范围为待测试天线的移动范围的数倍，可以大幅减小天线测试系统的体积，同时通过多个探头采集电磁场分布数据，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN101534223A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200810101710.8
申请日：2008-03-11
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04L12/26
Abstract: 本发明提供一种对网络交换设备进行测试的装置和方法，其中装置包括：主控单元分别与测试执行单元和以太网接口处理单元连接；用于向测试执行单元发送测试命令，接收测试结果，向以太网接口处理单元发送端口切换控制信息；以太网接口处理单元用于根据切换控制信息对该单元的多个端口互连；测试执行单元用于接收所述测试命令对被测系统单板配置；还用于通过测试端口发送测试数据，将返回数据与测试数据比较，上报测试结果给主控单元。应用本发明提供的技术，不需要专用仪表，各主要组成单元获取简单，成本低，无技术难度，有利于降低测试设备投入成本；可以方便、快速的对被测系统单板进行功能测试，适合大批量加工的网络交换系统单板进行生产测试。
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公开(公告)号：CN118625081A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202310242590.8
申请日：2023-03-01
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种老化处理方法、装置、电子设备及存储介质，该老化处理方法包括：确定产品的功率放大器的漏极电流；在所述漏极电流符合目标状态电流条件后，获取所述漏极电流对应的目标功放栅压；依据所述目标功放栅压对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果，从而减少射频功率输出，无需使用额外的负载工装对射频功率进行吸收，降低能耗。
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公开(公告)号：CN117527099A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202210901549.2
申请日：2022-07-28
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
Abstract: 本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，属于通信领域。该方法包括：在获取到射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过反馈通道对射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；按照信号处理策略，对多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据信号处理结果，计算待测射频性能指标的测试值。本发明实施例的技术方案极大地提高了射频发射通道的性能测试的便利性，也降低了射频发射通道的性能测试的所需的成本。
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公开(公告)号：CN114953403A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202110188050.7
申请日：2021-02-18
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
Abstract: 本发明实施例公开了一种柔性电路板的热成型装置及方法，柔性电路板的热成型装置包括第一成型机构，所述第一成型机构设置有第一成型部，所述第一成型部用于承载待加工的柔性电路板；第二成型机构，所述第二成型机构设置有与所述第一成型部适配的第二成型部，其中，所述第一成型部和所述第二成型部中至少一者对应设置有用于对所述柔性电路板进行热处理的加热模组。通过加热模组将承载于第一成型部的柔性电路板热弯成预设形状，使柔性电路板的成型时间更短，且成型后的柔性电路板具有规范的折弯形状，同时能长时间维持形状，提高了生产效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101072089A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200610078811.9
申请日：2006-05-08
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04L1/24
Abstract: 本发明公开了一种对传输交叉类单板进行测试的装置，包括一主控制器单元、一测试时钟单元、一显示单元、一业务总线接口单元、一控制总线接口单元，其中，所述装置还包括：一业务总线测试单元和一控制总线测试单元；所述业务总线接口单元通过业务总线、所述控制总线接口单元通过控制总线分别与被测交叉单板之间相互连；所述业务总线测试单元用于对业务总线进行测试，所述控制总线测试单元对控制总线进行测试。本发明装置可方便、快速地测试被测交叉单板是否正常；并能准确定位故障，便于维修；本发明所述测试装置适合于对大批量加工的交叉单板进行生产测试，并且其系统组成简单、设备成本低、操作方便。
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公开(公告)号：CN118501563A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202310144057.8
申请日：2023-02-06
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明实施例提供的一种平面近场测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，包括，获取与待测天线平行的扫描面的电场信息、口径面的口径参数和探头平面波谱，根据电场信息和口径参数计算口径面的口径电场信息，基于口径电场信息和探头平面波谱进行探头补偿，得到待测天线的补偿平面波谱，以对待测天线进行平面近场测试。由于扫描面相比于口径面距离待测天线要远，为了得到扫描面上的电场信息需要大于口径面的扫描区域才行，因此，通过扫描面的电场信息逆推得到口径面的口径电场信息能够有效减小截断的影响，之后再对口径电场信息进行探头补偿以减少探头方向性对待测天线的平面波谱的影响，使测得的天线性质更加准确。
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公开(公告)号：CN117132647A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202210551405.9
申请日：2022-05-18
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种插接头和插接孔的插接方法、系统、相关设备及存储介质，涉及通信领域。该插接头和插接孔的插接方法包括：控制机械臂夹取插接头；控制相机移动，并在移动过程中，通过相机拍摄工作台的至少两个图像，其中，工作台上摆放有插接头座；根据至少两个图像，获取插接孔在工作台上的第一空间位置坐标值，其中，插接孔设置在插接头座上；根据第一空间位置坐标值，控制机械臂将插接头插接在插接孔内。通过本发明，解决了相关技术中无法实现插接头和插接孔自动插接的问题，并有效提高了插接效率。
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公开(公告)号：CN101072089B
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200610078811.9
申请日：2006-05-08
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: H04L1/24
Abstract: 本发明公开了一种对传输交叉类单板进行测试的装置，包括一主控制器单元、一测试时钟单元、一显示单元、一业务总线接口单元、一控制总线接口单元，其中，所述装置还包括：一业务总线测试单元和一控制总线测试单元；所述业务总线接口单元通过业务总线、所述控制总线接口单元通过控制总线分别与被测交叉单板之间相互连；所述业务总线测试单元用于对业务总线进行测试，所述控制总线测试单元对控制总线进行测试。本发明装置可方便、快速地测试被测交叉单板是否正常；并能准确定位故障，便于维修；本发明所述测试装置适合于对大批量加工的交叉单板进行生产测试，并且其系统组成简单、设备成本低、操作方便。
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公开(公告)号：CN101520660A
公开(公告)日：2009-09-02
申请号：CN200810100924.3
申请日：2008-02-26
Applicant: 中兴通讯股份有限公司
IPC: G05B23/02 , G05B19/048
Abstract: 本发明提供一种通用环境监控传感器信号的模拟装置和模拟方法，其中装置包括：顺序连接的主控单元、逻辑单元和接口适配单元；所述主控单元用于向所述逻辑单元发送控制信号；所述逻辑单元用于根据所述控制信号产生并发送传感器信号；所述接口适配单元用于对所述传感器信号进行转换，使转换后的所述传感器信号与真实传感器产生的信号一致。应用本发明提供的技术对大批量生产的环境监控单板进行测试，能够过滤出绝大多数的故障单板以减少后续检测工序，从而从整体上大大降低了测试成本；同时，模拟装置中的各主要测试单元都可参考测试领域内成熟设计电路实现，技术难度低，有利于降低模拟装置投入成本。
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