显影方法及显影装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1501177A

    公开(公告)日:2004-06-02

    申请号:CN200310123329.9

    申请日:2003-11-15

    Abstract: 本发明的显影方法和显影装置中,浓度测定部(222)采取一部分调合罐(186)内的显影液,用吸光光度法测定抗蚀剂浓度,将测定结果(抗蚀剂浓度测定值)传送到控制部(240)。控制部(240)控制TMAH原液供给管(200)、溶媒供给管(204)以及排泄管(208)的各个开关阀(210)、(212)、(216),进行显影液的成分调整,使调合罐(186)内显影液的TMAH浓度是与维持显影速率为一定的抗蚀剂浓度测定值对应的TMAH浓度值。从调合罐(186)向供给罐(188)移送的显影液,由泵(228)驱动通过显影液供给管(224)送到显影处理部(126)的显影液喷嘴DN。因此,在显影处理中,即使多次再利用显影液,也能确保显影均匀性。

    基片处理装置、液处理装置和液处理方法

    公开(公告)号:CN1262888C

    公开(公告)日:2006-07-05

    申请号:CN02141002.X

    申请日:2002-06-19

    Abstract: 目的在于在传输路径上以单位时间高效地从基片上去除处理液。当基片(G)偏离规定位置时,停止旋转传输滚轴(138),使基片(G)静止。之后,操作驱动部(188)使升降轴(186)上升。此时,(基板)182和起模顶杆(184)也上升,起模顶杆(184)从下突起,向传输路径(108)的上方抬起基片(G)。接着,以传输路径(108)的宽度方向上延伸的轴(196)为中心向后仅旋转基板(182)规定角度。此时,起模顶杆(192)、止动部件(194)、基片(G)也在传输路径(108)上向后方仅倾斜相同角度。基片(G)止动于止动部件(194)上,基片(G)上的液体(Q)由于重力而在基片倾斜面上向后方滑落,落到基片的外部。从基片(G)落下的液体(Q)收集在盘(130)中。

    显影方法及显影装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1311303C

    公开(公告)日:2007-04-18

    申请号:CN200310123329.9

    申请日:2003-11-15

    Abstract: 本发明的显影方法和显影装置中,浓度测定部(222)采取一部分调合罐(186)内的显影液,用吸光光度法测定抗蚀剂浓度,将测定结果(抗蚀剂浓度测定值)传送到控制部(240)。控制部(240)控制TMAH原液供给管(200)、溶媒供给管(204)以及排泄管(208)的各个开关阀(210)、(212)、(216),进行显影液的成分调整,使调合罐(186)内显影液的TMAH浓度是与维持显影速率为一定的抗蚀剂浓度测定值对应的TMAH浓度值。从调合罐(186)向供给罐(188)移送的显影液,由泵(228)驱动通过显影液供给管(224)送到显影处理部(126)的显影液喷嘴DN。因此,在显影处理中,即使多次再利用显影液,也能确保显影均匀性。

    基片处理装置、液处理装置和液处理方法

    公开(公告)号:CN1392454A

    公开(公告)日:2003-01-22

    申请号:CN02141002.X

    申请日:2002-06-19

    Abstract: 目的在于在传输路径上以单位时间高效地从基片上去除处理液。当基片(G)偏离规定位置时,停止旋转传输滚轴(138),使基片(G)静止。之后,操作驱动部(188)使升降轴(186)上升。此时,(基板)182和起模顶杆(184)也上升,起模顶杆(184)从下突起,向传输路径(108)的上方抬起基片(G)。接着,以传输路径(108)的宽度方向上延伸的轴(196)为中心向后仅旋转基板(182)规定角度。此时,起模顶杆(192)、止动部件(194)、基片(G)也在传输路径(108)上向后方仅倾斜相同角度。基片(G)止动于止动部件(194)上,基片(G)上的液体(Q)由于重力而在基片倾斜面上向后方滑落,落到基片的外部。从基片(G)落下的液体(Q)收集在盘(130)中。

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