气化装置以及处理装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100526501C

    公开(公告)日:2009-08-12

    申请号:CN200680000634.0

    申请日:2006-01-13

    CPC classification number: C23C16/4482 C23C16/18

    Abstract: 本发明提供一种气化装置(6),将被压送来的液体原料在减压气氛中使之气化而产生原料气体,将该原料气体与载气一起送出,包括暂时储存压送来的液体原料的贮液室(70)、经由阀口(66)与贮液室连通的气化室(62)、从贮液室的侧就位在分隔阀口的阀座上的阀芯(72)、驱动阀芯的驱动器(81)、设置在朝向阀芯的阀口的位置上的载气喷射口(92)、以及将气化室内的原料气体排出的排出口(28)。根据载气喷射口的特定的配置,防止未经气化的液体原料残留在气化装置的阀口的下游侧。

    气化装置以及处理装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101006197A

    公开(公告)日:2007-07-25

    申请号:CN200680000634.0

    申请日:2006-01-13

    CPC classification number: C23C16/4482 C23C16/18

    Abstract: 本发明提供一种气化装置(6),将被压送来的液体原料在减压气氛中使之气化而产生原料气体,将该原料气体与载气一起送出,包括暂时储存压送来的液体原料的贮液室(70)、经由阀口(66)与贮液室连通的气化室(62)、从贮液室的侧就位在分隔阀口的阀座上的阀芯(72)、驱动阀芯的驱动器(81)、设置在朝向阀芯的阀口的位置上的载气喷射口(92)、以及将气化室内的原料气体排出的排出口(28)。根据载气喷射口的特定的配置,防止未经气化的液体原料残留在气化装置的阀口的下游侧。

    半导体装置的制造装置以及制造方法

    公开(公告)号:CN108368626A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201680070449.2

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 半导体装置的制造装置具有:基板保持部,其用于保持基板;处理液供给部,其用于对被该基板保持部保持的基板供给处理液;电解处理部,其与该基板保持部相向地配置,用于对被该基板保持部保持的基板进行电解处理;以及端子,其用于对基板施加电压,其中,电解处理部具有:直接电极,其与被供给到基板的处理液接触且用于在该直接电极与基板之间施加电压;以及间接电极,其用于在被供给到基板的处理液中形成电场。

    半导体器件检查装置用布线基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN103245802A

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN201310043634.0

    申请日:2013-02-04

    Abstract: 本发明提供一种半导体器件检查装置用布线基板及其制造方法。该半导体器件检查装置用布线基板具有较低的热膨胀率和较高的机械强度,并且能够易于制造且能够谋求降低制造成本。其特征在于,半导体器件检查装置用布线基板包括:金属基材,其是通过将利用蚀刻在规定部位形成有多个透孔的金属板材以使上述透孔的位置重叠的方式层叠并进行固定接合而形成的;树脂层,其配置于上述金属基材的表面和上述透孔的内壁部;导体图案,其以与上述金属基材之间被上述树脂层电绝缘的状态配置。

    电容型传感器
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100422707C

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200580000620.4

    申请日:2005-02-14

    Inventor: 星野智久

    CPC classification number: G01L9/0073 G01D5/24 G01F1/28 G01L9/0016 G01L9/0019

    Abstract: 由于在第一电极(1)和第二电极(2)之间配置屏蔽电极(4),通过电容型传感器检测电路(64)使第一电极(1)和屏蔽电极(4)的交流电位差近乎为零从而使它们同电位,并检测第一电极(1)和第二电极(2)之间的阻抗变化,因而表观上减小了在第一电极(1)和屏蔽电极(4)之间产生的寄生电容两端的电位差或者使其大致为零,由此寄生电容不会起电容器的功能,从而能够表观上消除对检测电容的影响。由此,可通过电容型传感器检测电路(64)只检测电容型传感器(10)的电容变化量。

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