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公开(公告)号：CN103339493A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201180066561.6
申请日：2011-12-26
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N33/53 , G01N33/543 , G01N37/00
CPC classification number: G01N21/6486 , B01J2219/00529 , B01J2219/00576 , B01J2219/00693 , C40B60/12 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N33/54373 , G01N33/582 , G06F19/20
Abstract: 为了提供无论在未配置阳性对照的DNA芯片的分析中，还是样本所包含的DAN量少的芯片的分析中，都可以适当地进行对准处理的分析方法，微阵列的分析方法对在具有凹凸形状的基板表面配置有探针的微阵列照射激励光，并取得来自由激励光进行了激励的各探针的荧光量作为数值数据，包括：步骤（a），对探针的荧光量进行测定而取得荧光图像数据；步骤（b），接受来自基板表面的反射光和／或散射光，根据该光的受光强度取得微阵列的基板表面的凹凸形状作为对准用图像数据；以及步骤（c），基于所述对准用图像数据确定各探针在所述荧光图像数据中的位置。
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公开(公告)号：CN1699915A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN200510077538.3
申请日：2002-02-28
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明的目的在于提供一种显示板的检查方法和检查装置以及制造方法，该方法根据被检查物的结构特性决定对表面形状的检查最佳的光学条件，并将决定的条件反映在检查装置中进行高精度的检查、不降低产量、提高合格率并且以高品质制造可靠性高的基板。本发明的显示板的检查方法的特征在于：具有照明手段、摄像手段和信号处理手段，一边使基板或照明手段和摄像手段向与在基板以指定的间隔涂布多条的荧光体层交叉的方向移动，一边进行荧光体层的明暗信号的测定，根据得到的信号测定各荧光体层的涂布量。
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公开(公告)号：CN103339493B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201180066561.6
申请日：2011-12-26
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N33/53 , G01N33/543 , G01N37/00
CPC classification number: G01N21/6486 , B01J2219/00529 , B01J2219/00576 , B01J2219/00693 , C40B60/12 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N33/54373 , G01N33/582 , G06F19/20
Abstract: 为了提供无论在未配置阳性对照的DNA芯片的分析中，还是样本所包含的DAN量少的芯片的分析中，都可以适当地进行对准处理的分析方法，微阵列的分析方法对在具有凹凸形状的基板表面配置有探针的微阵列照射激励光，并取得来自由激励光进行了激励的各探针的荧光量作为数值数据，包括：步骤（a），对探针的荧光量进行测定而取得荧光图像数据；步骤（b），接受来自基板表面的反射光和／或散射光，根据该光的受光强度取得微阵列的基板表面的凹凸形状作为对准用图像数据；以及步骤（c），基于所述对准用图像数据确定各探针在所述荧光图像数据中的位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1250953C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN02800551.1
申请日：2002-02-28
Applicant: 东丽株式会社
CPC classification number: H01J9/42 , G01N21/8806 , G01N21/95 , G01N2021/646 , G01N2021/9513 , H01J2217/49 , Y10S345/904
Abstract: 本发明的目的在于提供一种显示板的检查方法和检查装置以及制造方法，该方法根据被检查物的结构特性决定对表面形状的检查最佳的光学条件，并将决定的条件反映在检查装置中进行高精度的检查、不降低产量、提高合格率并且以高品质制造可靠性高的基板。本发明的显示板的检查方法的特征在于：具有照明手段、摄像手段和信号处理手段，一边使基板或照明手段和摄像手段向与在基板以指定的间隔涂布多条的荧光体层交叉的方向移动，一边进行荧光体层的明暗信号的测定，根据得到的信号测定各荧光体层的涂布量。
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公开(公告)号：CN104160265B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201380012447.4
申请日：2013-03-05
Applicant: 东丽株式会社
CPC classification number: G06K9/0014 , G01N21/6458 , G01N33/5308 , G06K9/4661 , G06T7/0012 , G06T2207/10056 , G06T2207/10064 , G06T2207/30072
Abstract: 本发明所要解决的课题是提供一种在将载体中的检测强度图像化而得到的图像数据中确定斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，算出提取出的像素群中的检测强度的中位数值、与从该像素群中除去了上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的检测强度的中位数值的比或差，基于算出的比或差、和规定的基准值，判定可靠性的好坏。
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公开(公告)号：CN104160265A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201380012447.4
申请日：2013-03-05
Applicant: 东丽株式会社
CPC classification number: G06K9/0014 , G01N21/6458 , G01N33/5308 , G06K9/4661 , G06T7/0012 , G06T2207/10056 , G06T2207/10064 , G06T2207/30072
Abstract: 本发明所要解决的课题是提供一种在将载体中的检测强度图像化而得到的图像数据中确定斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，算出提取出的像素群中的检测强度的中位数值、与从该像素群中除去了上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的检测强度的中位数值的比或差，基于算出的比或差、和规定的基准值，判定可靠性的好坏。
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公开(公告)号：CN1993599A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200580026478.0
申请日：2005-08-04
Applicant: 东丽株式会社
Abstract: 一种显示面板的检查方法、检查装置以及使用它们的制造方法，其特征在于：具有高度测定装置，使基板或高度测定装置向与以规定间隔多条地涂布在基板上的液状材料交叉的方向移动，同时离散地进行包括液状材料涂布部在内的基板面的高度测定，将从根据所得到的离散高度形状信号求取近似曲线而得到的高度形状信号中抽出每个液状材料的高度并进行连接而成的高度信号，作为检查信号，根据检查信号测定每个液状材料的涂布量。通过在荧光体糊涂布工序之后随即检查涂布工序的状态，可以迅速发现成为涂布工序发生连续缺陷的原因的不良状况，可以将成为不合格品损耗的基板数目抑制到最小限度，快速恢复工序。
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公开(公告)号：CN1457426A
公开(公告)日：2003-11-19
申请号：CN02800551.1
申请日：2002-02-28
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01M11/00 , G01N21/956 , H01J9/42
CPC classification number: H01J9/42 , G01N21/8806 , G01N21/95 , G01N2021/646 , G01N2021/9513 , H01J2217/49 , Y10S345/904
Abstract: 本发明的目的在于提供一种显示板的检查方法和检查装置以及制造方法，该方法根据被检查物的结构特性决定对表面形状的检查最佳的光学条件，并将决定的条件反映在检查装置中进行高精度的检查、不降低产量、提高合格率并且以高品质制造可靠性高的基板。本发明的显示板的检查方法的特征在于：具有照明手段、摄像手段和信号处理手段，一边使基板或照明手段和摄像手段向与在基板以指定的间隔涂布多条的荧光体层交叉的方向移动，一边进行荧光体层的明暗信号的测定，根据得到的信号测定各荧光体层的涂布量。
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