公开(公告)号：CN103339493B

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201180066561.6

申请日：2011-12-26

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 尾崎久美江 ,  佐佐本裕方 ,  薙野邦久

IPC: G01N21/64 ,  G01N33/53 ,  G01N33/543 ,  G01N37/00

CPC classification number: G01N21/6486 ,  B01J2219/00529 ,  B01J2219/00576 ,  B01J2219/00693 ,  C40B60/12 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6456 ,  G01N33/54373 ,  G01N33/582 ,  G06F19/20

Abstract: 为了提供无论在未配置阳性对照的DNA芯片的分析中，还是样本所包含的DAN量少的芯片的分析中，都可以适当地进行对准处理的分析方法，微阵列的分析方法对在具有凹凸形状的基板表面配置有探针的微阵列照射激励光，并取得来自由激励光进行了激励的各探针的荧光量作为数值数据，包括：步骤（a），对探针的荧光量进行测定而取得荧光图像数据；步骤（b），接受来自基板表面的反射光和／或散射光，根据该光的受光强度取得微阵列的基板表面的凹凸形状作为对准用图像数据；以及步骤（c），基于所述对准用图像数据确定各探针在所述荧光图像数据中的位置。

公开(公告)号：CN103339493A

公开(公告)日：2013-10-02

申请号：CN201180066561.6

申请日：2011-12-26

Applicant: 东丽株式会社

Inventor： 尾崎久美江 ,  佐佐本裕方 ,  薙野邦久

IPC: G01N21/64 ,  G01N33/53 ,  G01N33/543 ,  G01N37/00

CPC classification number: G01N21/6486 ,  B01J2219/00529 ,  B01J2219/00576 ,  B01J2219/00693 ,  C40B60/12 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6456 ,  G01N33/54373 ,  G01N33/582 ,  G06F19/20

Abstract: 为了提供无论在未配置阳性对照的DNA芯片的分析中，还是样本所包含的DAN量少的芯片的分析中，都可以适当地进行对准处理的分析方法，微阵列的分析方法对在具有凹凸形状的基板表面配置有探针的微阵列照射激励光，并取得来自由激励光进行了激励的各探针的荧光量作为数值数据，包括：步骤（a），对探针的荧光量进行测定而取得荧光图像数据；步骤（b），接受来自基板表面的反射光和／或散射光，根据该光的受光强度取得微阵列的基板表面的凹凸形状作为对准用图像数据；以及步骤（c），基于所述对准用图像数据确定各探针在所述荧光图像数据中的位置。