公开(公告)号：CN104730395A

公开(公告)日：2015-06-24

申请号：CN201510157385.7

申请日：2015-04-03

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 顾东梁 ,  李超 ,  王茂森 ,  沈霞宏 ,  张旭光 ,  范宇飞

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的测试系统及方法，调试设备通过通信接口电路发送测试配置数据至测试板，测试板上FPGA的中心控制单元接收测试配置数据进行初始化包括初始化被测器件的控制驱动模块。然后，调试设备通过通信接口电路发送控制指令至测试板，测试板上FPGA的中心控制单元接收控制指令，驱动测试流程包括输出控制信号至被测器件以及接收采集被测器件输出的测试数据。

公开(公告)号：CN204536452U

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201520204951.0

申请日：2015-04-03

Applicant: 上海航天测控通信研究所

Inventor： 王茂森 ,  李超 ,  沈霞宏 ,  顾东梁 ,  桂赟

IPC: G01R31/00

Abstract: 本实用新型提供了一种通用自动化元器件应用验证装置，该装置包括通用控制母板、专用被测元器件子板以及计算机，所述通用控制母板通过多种接口与专用被测元器件子板连接，所述专用被测元器件子板通过转接插座与被测元器件连接，所述计算机通过通信接口与通用控制母板连接实现自动化测试。本实用新型是一种通用元器件应用验证装置硬件设计。与现有技术相比，其优点和有益效果是：改变传统专用验证装置重复性设计的高成本、低效率的现状，提供一种通用化、自动测试的验证装置。满足我国元器件国产化应用进程加速、国产器件不断推陈出新、亟待验证的需求，工程运用效果好、应用方便，取得降低设计成本、提高验证效率的有益效果。