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公开(公告)号：CN116471398A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202310252939.6
申请日：2023-03-15
Applicant: 上海航天控制技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于空间长波成像系统地面测试的常温高性能测试装置，属于成像测试技术领域。该装置包括主舱、放置被测产品的辅舱，辅舱内提供测试要求的环境温度。主舱为密封腔体，舱内产生长波红外光线照射至所述辅舱内的被测产品的入瞳处。本发明无需使用空间真空室或冷却光学元件，就能够降低常温测试装置的背景辐射噪声，以相对较低的成本进行多种类型的测试。
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