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发明公开
一种轴对称结构谐振子不平衡质量识别装置及方法审中-实审

公开(公告)号：CN119935187A

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202411984172.7

申请日：2024-12-31

Applicant: 上海航天控制技术研究所

Inventor： 李绍良 , 于鑫海 , 杨浩 , 段杰 , 蒋辉 , 赵万良

IPC: G01C25/00 , G01C19/56

Abstract: 一种轴对称结构谐振子不平衡质量识别装置及方法，利用激光测振仪检测轴对称结构谐振子外杆振动，进而对谐振子不平衡质量进行识别，将激光测振仪架设在真空腔室的外部，透过真空腔室上的玻璃窗对谐振子外杆的振动进行检测。通过这种非接触式的测量方法无需将测振传感器放置于真空腔室内部，从而在解算出不平衡质量的大小和方位后可以直接在真空腔室内去除谐振子的不平衡质量，不需要将传感器从真空腔室中取出，避免了反复抽真空导致的调平效率降低。同时，激光测振仪只需要一次安装即可，避免了使用接触式传感器时反复装夹带来的测量误差。

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