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公开(公告)号：CN116132182A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310133196.0
申请日：2023-02-20
Applicant: 上海大学
IPC: H04L9/40 , H04L67/125 , G06F17/10
Abstract: 本发明提供了一种基于模型扰动的线性二次控制系统的隐私保护方法，包括：根据云和客户端之间的系统知识是不对称的问题设置，故意通知云错误的系统模型；引入系统观测矩阵误差，根据存在的状态估计固有误差界和已有的隐私保护方法，拓宽云和客户端系统知识不对称情况下隐私保护方法设计的覆盖面；客户端向云发送处理过的数据代替本地系统的原始信息序列；根据线性二次高斯问题，获取线性变换和模型参数扰动的协同设计对隐私保护与控制性能权衡的影响。
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公开(公告)号：CN108267387A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201711474640.6
申请日：2017-12-29
Applicant: 上海市质量监督检验技术研究院 , 上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心 , 天术智能科技(上海)有限公司 , 上海大学
IPC: G01N15/00
CPC classification number: G01N15/00 , G01N2015/03
Abstract: 本发明属于纺织品表面花粉测试技术领域，公开一种纺织品表面花粉吸附性指标的检测装置，包括花粉室、重力冲击脱粉装置和电子显微镜；花粉室内设有上下布置的振动筛网和滚筒。重力冲击脱粉装置包括样品托架、样品架和电磁继电器。还公开了一种纺织品表面花粉吸附性指标的检测方法，包括难吸附性检测和易脱落性检测。采用筛网和滚筒模拟花粉漂浮环境和试样自主吸附花粉运动，并采用自由落体运动，测试样品的花粉在面料上的难附着性和易脱落性，以此评价试样的防花粉性。该方法操作简单，重现性高，成本低，具有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN207923658U
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201721897028.5
申请日：2017-12-29
Applicant: 上海市质量监督检验技术研究院 , 上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心 , 天术智能科技(上海)有限公司 , 上海大学
IPC: G01N15/00
Abstract: 本实用新型涉及一种纺织品表面花粉吸附性指标的检测装置，包括花粉室、重力冲击脱粉装置和电子显微镜；花粉室内设有上下布置的振动筛网和滚筒，振动筛网和滚筒均水平放置且分别由电机驱动，滚筒上沿圆周设有面料固定件；重力冲击脱粉装置包括样品托架、样品架和电磁继电器，样品托架位于一定高度且由电磁继电器控制自由落体，样品架固定于样品托架上。本检测装置采用机械振动筛网撒粉，环境中的花粉分布更加均匀、自然，有利于下一步花粉在面料上分布均匀；滚筒离心脱粉和重力冲击脱粉为全机械作用，避免了人为影响，测量结果客观准确。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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