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公开(公告)号：CN117314950A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311262582.6
申请日：2023-09-27
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种一种机器视觉系统中起止编码加速点云形态学运算系统及方法，包括：点云投影模块：接收点云数据，转化为二值图像输出至行程编码模块，接受二值图像的像素坐标，按照像素坐标对点云进行分组输出；起止编码模块：接收来自点云投影模块的二值图像，进行遍历，还原二值图像中对应的像素行列坐标；行程运算模块：接收行程的起止编码，输出运算结果；行列运算模块：接受接收起止编码格式的行或列，计算并输出行列逻辑；图像形态学运算模块：接收起止编码模块输出的二值图像的起止编码数据，通过调用行程运算模块和行列运算模块，完成图像形态学运算。本发明解决了点云数据无法进行图形运算的问题，并且可以根据像素坐标对点云进行分组。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117218370B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202311137658.2
申请日：2023-09-05
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种随机正交结构点云的直线段识别与拟合方法及系统，包括：使用网格投影实现对点云数据的分类和索引，进而将点云转为二值图像；利用行程编码实现二值图像的高效运算、正交结构特征方向的检测、完成所有直线段的识别并给出对应点云分组；最终根据分组结果实现所有直线段的拟合。本发明具有优秀的稳定性和鲁棒性，识别结果契合人眼观测结果，在需要识别正交结构的视觉系统研发工作中可节约大量的调试时间与成本。
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公开(公告)号：CN119260474A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411626455.4
申请日：2024-11-14
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种基于三维视觉驱动的非标零件多功能加工系统及方法，系统包括分拣上料模块，用于运输待加工非标零件；加工模块，用于对待加工零件进行加工；控制模块，用于控制分拣上料模块和加工模块的运行；本发明基于三维点云识别技术，设计了一种依靠三维传感器实测数据驱动的非标零件多功能加工工作站及其系统，可不依赖零件图纸、模型等信息，依靠实时采集的三维点云数据驱动，实现非标零件的乱序分拣、边缘铣削、边缘打磨、边缘开坡口、表面打磨抛光、表面喷涂等多种加工工序；既解决了非标零件自动化加工问题，同时也可兼容标准零件的正常加工工作，并解决了单一工作站无法兼顾多种加工作业的问题。
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公开(公告)号：CN117218370A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311137658.2
申请日：2023-09-05
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本发明提供了一种随机正交结构点云的直线段识别与拟合方法及系统，包括：使用网格投影实现对点云数据的分类和索引，进而将点云转为二值图像；利用行程编码实现二值图像的高效运算、正交结构特征方向的检测、完成所有直线段的识别并给出对应点云分组；最终根据分组结果实现所有直线段的拟合。本发明具有优秀的稳定性和鲁棒性，识别结果契合人眼观测结果，在需要识别正交结构的视觉系统研发工作中可节约大量的调试时间与成本。
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公开(公告)号：CN116045809A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310040950.6
申请日：2023-01-13
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供一种应用激光跟踪仪的船舶尾管照光找中装置及方法，其中装置包括一旋转构件、一伸缩杆、一第一基座平台和一第二基座平台；所述伸缩杆包括一固定杆和一活动杆；所述固定杆垂直固定于所述旋转构件上；所述第一基座平台连接于所述固定杆；所述第二基座平台连接于所述活动杆；所述旋转构件呈中空管状。本发明的一种应用激光跟踪仪的船舶尾管照光找中装置及方法，可解决现有技术中，测量作业精度不高、测量结果受个人主观因素影响较大、测量效率低下的问题。
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公开(公告)号：CN219198657U
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202320081570.2
申请日：2023-01-13
Applicant: 上海交通大学
Abstract: 本实用新型提供一种应用激光跟踪仪的船舶尾管照光找中装置，包括一旋转构件、一伸缩杆、一第一基座平台和一第二基座平台；所述伸缩杆包括一固定杆和一活动杆；所述固定杆垂直固定于所述旋转构件上；所述第一基座平台连接于所述固定杆；所述第二基座平台连接于所述活动杆；所述旋转构件呈中空管状。本实用新型的一种应用激光跟踪仪的船舶尾管照光找中装置，可解决现有技术中，测量作业精度不高、测量结果受个人主观因素影响较大、测量效率低下的问题。
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