劣化检测系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112771462A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201980063005.X

    申请日:2019-09-04

    Abstract: 具备:正常模型构筑部(102),其基于其他设备的正常数据,构筑其他设备的正常模型;劣化判定模型构筑部(104),其基于其他设备的正常数据及劣化数据,构筑其他设备的劣化判定模型;正常模型重构部(106),其基于其他设备的正常模型及对象设备的正常数据,构筑对象设备的正常模型;劣化判定模型重构部(107),其基于其他设备的劣化判定模型及对象设备的正常模型,构筑对象设备的劣化判定模型;以及劣化判定部(109),其基于对象设备的运行数据及对象设备的劣化判定模型,判定对象设备的劣化。

    活动图象定住设定装置以及使用该装置的活动图象超级媒体装置

    公开(公告)号:CN1118778C

    公开(公告)日:2003-08-20

    申请号:CN97101297.0

    申请日:1997-01-31

    Abstract: 一种活动图象定住设定装置,具有:帧确定部,通过构成输入的活动图象的多个帧,确定应设定定住的设定对象期间的开始帧及结束帧;定住设定部,当在设定对象期间采取的多个帧中指定区域时,对指定该区域的帧设定把该指定的区域作为定住区域的定住信息;定住推定部,在以上述定住设定部设定定住信息的帧为基准帧时,推定在设定对象期间内的帧中的基准帧以外的非基准帧的定住信息;和定位信息编辑部,对非基准帧推定的定住信息加以修正;上述定位推定部把该非基准帧升级为基准帧,通过将在该升级的基准帧和与其邻接的基准帧分别设定的定住信息插补,而推定在升级基准帧和与其邻接的基准帧之间的非基准帧的定住信息。

    仪器状态监视装置及仪器状态监视方法

    公开(公告)号:CN118575168A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202280088711.1

    申请日:2022-02-02

    Abstract: 仪器状态监视装置(1)具有:特征量提取部(11),其从表示监视对象的仪器的状态的运转数据,提取与仪器的状态相关的特征量数据;数据变换部(12),其将从运转数据提取出的特征量数据,变换为进行仪器的状态监视的运转环境中的不依赖于仪器的运转模式的特征量空间内的判定用数据;判定部(13),其基于对表示特征量空间中的判定范围的特征量分布和判定用数据进行比较得到的结果,判定仪器的状态;以及输出部(14),其输出仪器的状态的判定结果。

    劣化检测系统
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112771462B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201980063005.X

    申请日:2019-09-04

    Abstract: 具备:正常模型构筑部(102),其基于其他设备的正常数据,构筑其他设备的正常模型;劣化判定模型构筑部(104),其基于其他设备的正常数据及劣化数据,构筑其他设备的劣化判定模型;正常模型重构部(106),其基于其他设备的正常模型及对象设备的正常数据,构筑对象设备的正常模型;劣化判定模型重构部(107),其基于其他设备的劣化判定模型及对象设备的正常模型,构筑对象设备的劣化判定模型;以及劣化判定部(109),其基于对象设备的运行数据及对象设备的劣化判定模型,判定对象设备的劣化。

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