劣化检测系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112771462B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201980063005.X

    申请日:2019-09-04

    Abstract: 具备:正常模型构筑部(102),其基于其他设备的正常数据,构筑其他设备的正常模型;劣化判定模型构筑部(104),其基于其他设备的正常数据及劣化数据,构筑其他设备的劣化判定模型;正常模型重构部(106),其基于其他设备的正常模型及对象设备的正常数据,构筑对象设备的正常模型;劣化判定模型重构部(107),其基于其他设备的劣化判定模型及对象设备的正常模型,构筑对象设备的劣化判定模型;以及劣化判定部(109),其基于对象设备的运行数据及对象设备的劣化判定模型,判定对象设备的劣化。

    劣化检测系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112771462A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201980063005.X

    申请日:2019-09-04

    Abstract: 具备:正常模型构筑部(102),其基于其他设备的正常数据,构筑其他设备的正常模型;劣化判定模型构筑部(104),其基于其他设备的正常数据及劣化数据,构筑其他设备的劣化判定模型;正常模型重构部(106),其基于其他设备的正常模型及对象设备的正常数据,构筑对象设备的正常模型;劣化判定模型重构部(107),其基于其他设备的劣化判定模型及对象设备的正常模型,构筑对象设备的劣化判定模型;以及劣化判定部(109),其基于对象设备的运行数据及对象设备的劣化判定模型,判定对象设备的劣化。

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