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公开(公告)号:CN1455626A
公开(公告)日:2003-11-12
申请号:CN03122189.0
申请日:2003-04-24
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
CPC classification number: H01L27/3244 , G09G2330/10 , H01L51/56 , H01L2251/568
Abstract: 本发明提供一种电致发光显示板的减光化方法及电致发光显示板,可有效地将亮点缺陷像素进行减光,其特征是在对像素第二TFT40的有源层(半导体层)(40a)等,选择性地照射UV激光。由此,能使有源层(40a)的结晶劣化而将其导电性切断。因此,可在不致带来其它不良影响的情况下将像素进行减光化。此外,并能以栅极(40c)下方的有源层(40a)为对象,以栅极(40c)将激光进行反射,进行更为有效的激光照射。
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公开(公告)号:CN1945670A
公开(公告)日:2007-04-11
申请号:CN200610142057.0
申请日:2006-10-08
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3233 , G09G3/3266 , G09G3/3291 , G09G3/3614 , G09G3/3648 , G09G2300/0842 , G09G2300/0876 , G09G2320/0257
Abstract: 本发明的目的在于,提升在各个像素中具有显示组件的显示装置中的检查精度。本发明提供一种显示装置,在各个像素中具备显示组件;控制该显示组件的动作的像素晶体管;及将对应显示数据的电荷保持一定期间的保持电容。在一般动作时,在预定周期中对输出至各个保持电容所连接的电容线的电容信号进行交流驱动,借此可以提升显示质量等。另一方面,在像素的缺陷检查等中,将输出至电容线的电容信号设定为固定电平的构成,预先与像素电路等同时形成在基板上。借此,在检查时从各个像素的电容值数据等当中检测出各个像素的缺陷时,可以提升检查精度。此外,在检查时,也可以将固定电平,设定为适用于检查的任意检查用电压。
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公开(公告)号:CN1247050C
公开(公告)日:2006-03-22
申请号:CN03122189.0
申请日:2003-04-24
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
CPC classification number: H01L27/3244 , G09G2330/10 , H01L51/56 , H01L2251/568
Abstract: 本发明提供一种电致发光显示板的减光化方法及电致发光显示板,可有效地将亮点缺陷像素进行减光,其特征是在对像素第二TFT40的有源层(半导体层)(40a)等,选择性地照射UV激光。由此,能使有源层(40a)的结晶劣化而将其导电性切断。因此,可在不致带来其它不良影响的情况下将像素进行减光化。此外,并能以栅极(40c)下方的有源层(40a)为对象,以栅极(40c)将激光进行反射,进行更为有效的激光照射。
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公开(公告)号:CN1312785C
公开(公告)日:2007-04-25
申请号:CN03120835.5
申请日:2003-03-20
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , H01L27/3244 , H01L2251/568 , Y10S428/917
Abstract: 本发明提供一种有机EL面板的处理方法,其对附着于像素的有机EL元件上的异物的周边区域照射激光。由此,使附着有所述异物的有机EL元件的有机层高电阻化。
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公开(公告)号:CN1941399A
公开(公告)日:2007-04-04
申请号:CN200610139363.9
申请日:2006-09-25
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
IPC: H01L27/32 , H01L29/786 , H05B33/12
Abstract: 本发明提供一种有机电致发光显示装置,用以抑制因外部光线产生的光电流,同时防止因反向沟道的影响而导致晶体管特性变动或短路不良。其中,在绝缘基板(10)上形成有由非导电材料构成的遮光膜(70)。以覆盖遮光膜(70)之势形成背栅极绝缘膜(11)。在该背栅极绝缘膜(11)上形成主动层(33)。以覆盖该主动层(33)之势形成栅极绝缘膜(12),且在该栅极绝缘膜(12)上形成栅极电极(31)。遮光膜(70)以将背栅极绝缘膜(11)夹于其间并覆盖主动层(33)的方式来配置,起到遮蔽通过绝缘基板(10)而射入至主动层(33)的外部光线的作用。
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公开(公告)号:CN1603919A
公开(公告)日:2005-04-06
申请号:CN200410080674.3
申请日:2004-09-29
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
IPC: G02F1/136 , G02F1/133 , H01L29/786 , G09G3/36
CPC classification number: G09G3/3208 , G02F2001/136263 , G02F2001/136272 , G09G2300/08 , G09G2330/08 , H01L27/3258 , H01L27/3276 , H01L2251/568
Abstract: 本发明提供一种显示装置,可精确地且抑制配线电阻增大而对断线进行修复。在形成在同一基板(10)之上且相互设定为同一电位的例如电源线(124)形成之后,立即进行缺陷检查,且以将该缺损缺陷(断线)部分相连接的方式,直接包覆电源线(124)而形成修复配线(128)。修复配线(128)可以连结断线端部(124d1、d2)彼此的方式,在例如钨等导电材料的气体环境中以激光束进行扫描,藉此进行描绘而形成。直接包覆电源线(124)并修复该断线,藉此谋求抑制配线电阻上升,且更进一步提升修复电线(128)的上方的平坦性。
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公开(公告)号:CN1278490C
公开(公告)日:2006-10-04
申请号:CN03119621.7
申请日:2003-03-13
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
IPC: H03K19/00 , H01L21/822
CPC classification number: G09G3/3225 , G09G3/006 , G09G2300/0842 , H01L27/12 , H01L27/3244
Abstract: 本发明提供一种晶体管电路,其目的在于易于进行动作确认。其中,在第二TFT(40)中,增大必然形成于其栅极与漏极间的晶体管电容Cdtr。并且使第一TFT(10)导通,对该晶体管电容Cdtr进行充电,通过检测充电后的电荷,进行第一TFT(10)、第二TFT(40)的动作确认。
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公开(公告)号:CN1551688A
公开(公告)日:2004-12-01
申请号:CN200410037989.X
申请日:2004-05-14
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
CPC classification number: H01L27/3244 , G02F2001/136268 , H01L27/124 , H01L27/1248 , H01L2251/568
Abstract: 本发明提供一种显示面板的制造方法及显示面板。可控制像素的劣化,同时可有效进行利用激光的缺陷像素的减光化。本发明于形成面板过程中,在例如完成第二TFT(40),且有机EL元件的阳极已形成的阶段,进行数组检查。然后,针对缺陷像素,利用激光切断其配线。然后,在上述利用激光进行的修复工序后,形成第二平坦化绝缘膜(60)以填补激光所产生的凹洞。
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公开(公告)号:CN1461107A
公开(公告)日:2003-12-10
申请号:CN03119621.7
申请日:2003-03-13
Applicant: 三洋电机株式会社
Inventor: 神野优志
IPC: H03K17/56 , H03K17/687 , H01L27/02 , G09G3/34
CPC classification number: G09G3/3225 , G09G3/006 , G09G2300/0842 , H01L27/12 , H01L27/3244
Abstract: 本发明提供一种晶体管电路,其目的在于易于进行动作确认。其中,在第二TFT(40)中,增大必然形成于其栅极与漏极间的晶体管电容Cdtr。并且使第一TFT(10)导通,对该晶体管电容Cdtr进行充电,通过检测充电后的电荷,进行第一TFT(10)、第二TFT(40)的动作确认。
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公开(公告)号:CN100498895C
公开(公告)日:2009-06-10
申请号:CN200610142057.0
申请日:2006-10-08
Applicant: 三洋电机株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3233 , G09G3/3266 , G09G3/3291 , G09G3/3614 , G09G3/3648 , G09G2300/0842 , G09G2300/0876 , G09G2320/0257
Abstract: 本发明的目的在于,提升在各个像素中具有显示组件的显示装置中的检查精度。本发明提供一种显示装置,在各个像素中具备显示组件;控制该显示组件的动作的像素晶体管;及将对应显示数据的电荷保持一定期间的保持电容。在一般动作时,在预定周期中对输出至各个保持电容所连接的电容线的电容信号进行交流驱动,借此可以提升显示质量等。另一方面,在像素的缺陷检查等中,将输出至电容线的电容信号设定为固定电平的构成,预先与像素电路等同时形成在基板上。借此,在检查时从各个像素的电容值数据等当中检测出各个像素的缺陷时,可以提升检查精度。此外,在检查时,也可以将固定电平,设定为适用于检查的任意检查用电压。
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