半导体器件及其制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119905484A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202410707243.2

    申请日:2024-06-03

    Abstract: 一种半导体器件,可以包括:基底绝缘层;沟道层,在基底绝缘层的第一表面上;第一源/漏图案和第二源/漏图案,在基底绝缘层的第一表面上在第一方向上彼此间隔开,沟道层介于第一源/漏图案和第二源/漏图案之间;栅极结构,在基底绝缘层的第一表面上,并且在与第一方向交叉的第二方向上延伸;下布线结构,在基底绝缘层的第二表面上;以及贯穿电极,与栅极结构间隔开,第一源/漏图案在贯穿电极和栅极结构之间。贯穿电极可以穿透基底绝缘层,并且将第一源/漏图案电连接到下布线结构。第一方向可以与基底绝缘层的第一表面平行。

    包括多桥沟道场效应晶体管的半导体器件

    公开(公告)号:CN119521760A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202410342405.7

    申请日:2024-03-25

    Abstract: 一种半导体器件,包括:下层间绝缘层;第一有源图案和第二有源图案,在下层间绝缘层上;栅电极,在第一有源图案和第二有源图案上;第一源区,在栅电极的第一侧上;第二源区,在栅电极的第二侧上;第三源区,在栅电极的第一侧上;漏区,在栅电极的第二侧上;第一接触部,与栅电极相邻,并且连接到第一源区和第三源区;第二接触部,与栅电极相邻,并且连接到第二源区;第三接触部,与栅电极相邻,并且连接到漏区;下布线层,在下层间绝缘层内部;以及通孔,将下布线层和第一接触部连接。

    集成电路半导体器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119155987A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202410651686.4

    申请日:2024-05-23

    Abstract: 一种集成电路半导体器件,包括:基底层,包括第一表面和第二表面;栅极结构,在基底层的第一表面上;第一源漏区,在栅极结构的一侧上;第二源漏区,在栅极结构的另一侧上;第一占位部,在第一源漏区的下部中的基底层中,并且电连接到第一源漏区;第二占位部,在第二源漏区的下部中的基底层中;以及金属电力轨,在基底层的第二表面上的第一占位部和第二占位部上,并且电连接到第一占位部。

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