半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN113451265A

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202110325155.2

    申请日:2021-03-26

    Abstract: 公开了一种半导体装置。所述半导体装置包括:基底,包括芯片区域和边缘区域;集成电路元件,位于芯片区域上;层间绝缘层,覆盖集成电路元件;互连结构,位于层间绝缘层上并且具有位于边缘区域上的侧表面;第一导电图案和第二导电图案,位于互连结构上,第一导电图案和第二导电图案电连接到互连结构;第一钝化层,覆盖第一导电图案和第二导电图案以及互连结构的侧表面;以及第二钝化层,位于第一钝化层上,其中,第二钝化层包括不同于第一钝化层的绝缘材料,并且在第一导电图案与第二导电图案之间,第二钝化层具有定位在比第一导电图案的顶表面的竖直水平低的竖直水平处的底表面。

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