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公开(公告)号:CN100435169C
公开(公告)日:2008-11-19
申请号:CN200410098177.6
申请日:2004-09-15
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 金基烈
CPC classification number: G06K19/0723 , G06K7/0008 , G06K7/10297
Abstract: 一种非接触式集成电路(IC)卡,可以包括:模拟接口块,用来根据第一多个通信协议而将所接收的射频(RF)信号分别解调制为它的多个版本;控制器,用来从第二多个通信协议中进行选择;以及通用异步接收器/发送器(UART),用来根据所选择的协议来选择RF信号的解调制后的版本的一个。
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公开(公告)号:CN1288735C
公开(公告)日:2006-12-06
申请号:CN03101430.5
申请日:2003-01-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R1/0483
Abstract: 一种集成电路芯片的测试系统,用于在低温测试的过程中防止电路板结霜。所述测试系统包括能可拆卸地与测试电路板的第二表面接合的密封装置,其用于将第二表面的一部分密封,从而使第二表面的所述部分与周围空气隔绝。用这种方法,密封单元防止霜在测试电路的焊接结部分产生,霜的产生会导致在测试中的漏电故障。
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公开(公告)号:CN1607545A
公开(公告)日:2005-04-20
申请号:CN200410098177.6
申请日:2004-09-15
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 金基烈
CPC classification number: G06K19/0723 , G06K7/0008 , G06K7/10297
Abstract: 一种非接触式集成电路(IC)卡,可以包括:模拟接口块,用来根据第一多个通信协议而将所接收的射频(RF)信号分别解调制为它的多个版本;控制器,用来从第二多个通信协议中进行选择;以及通用异步接收器/发送器(UART),用来根据所选择的协议来选择RF信号的解调制后的版本的一个。
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公开(公告)号:CN1285019C
公开(公告)日:2006-11-15
申请号:CN03160327.0
申请日:2003-09-26
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 金基烈
IPC: G06F1/12
CPC classification number: G06K19/07786 , G06K19/0723 , H04L25/491
Abstract: 本发明公开一种包括时钟信号产生和数据恢复电路的集成电路卡。该电路包括:接收器,用于接收具有停顿周期的射频信号;分频器,用于对接收信号进行分频;第一计数器,用于在接收信号的各非停顿周期对分频信号的周期进行计数;第二计数器,用于对分频信号的周期进行计数;以及解码器,用于响应第一和第二计数器的输出,产生同步时钟信号和解码数据信号。第二计数器由同步时钟信号复位。根据从读卡器传输的接收射频信号,该电路能够产生同步时钟信号,并且对接收数据信号进行解码,从而与ISO/IEC 14443类型A接口相兼容。即使当从读卡器接收的射频信号的停顿周期在预定范围内变化时,该电路也提供准确的解码结果。
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公开(公告)号:CN1763772A
公开(公告)日:2006-04-26
申请号:CN200510113710.6
申请日:2005-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06K19/077
CPC classification number: G06K19/0716 , G06K19/0707 , G06K19/0712 , G06K19/0723 , G06K19/073
Abstract: 一种集成电路卡,包括接口块,用于执行与外部装置的接口功能;以及功率控制器,用于控制用于检测工作环境是否处于异常状态的安全集成电路的功率,功率控制器周期性和选择性地将功率施加到安全集成电路上。因此,集成电路卡的功率消耗被减小;并且与外部装置无接触通信的集成电路卡的稳定工作可以在延长通信距离的情况下被保证。
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公开(公告)号:CN1497408A
公开(公告)日:2004-05-19
申请号:CN03160327.0
申请日:2003-09-26
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 金基烈
IPC: G06F1/12
CPC classification number: G06K19/07786 , G06K19/0723 , H04L25/491
Abstract: 公开一种包括时钟信号产生和数据恢复电路的集成电路卡。该电路包括:接收器,用于接收具有停顿周期的射频信号;分频器,用于对接收信号进行分频;第一计数器,用于在接收信号的各非停顿周期对分频信号的周期进行计数;第二计数器,用于对分频信号的周期进行计数;以及解码器,用于响应第一和第二计数器的输出,产生同步时钟信号和解码数据信号。第二计数器由同步时钟信号复位。根据从读卡器传输的接收射频信号,该电路能够产生同步时钟信号,并且对接收数据信号进行解码,从而与ISO/IEC 14443类型A接口相兼容。即使当从读卡器接收的射频信号的停顿周期在预定范围内变化时,该电路也提供准确的解码结果。
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公开(公告)号:CN1433059A
公开(公告)日:2003-07-30
申请号:CN03101430.5
申请日:2003-01-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R1/0483
Abstract: 一种集成电路芯片的测试系统,用于在低温测试的过程中防止电路板结霜。所述测试系统包括能可拆卸地与测试电路板的第二表面接合的密封装置,其用于将第二表面的一部分密封,从而使第二表面的所述部分与周围空气隔绝。用这种方法,密封单元防止霜在测试电路的焊接结部分产生,霜的产生会导致在测试中的漏电故障。
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公开(公告)号:CN110010604A
公开(公告)日:2019-07-12
申请号:CN201811552330.6
申请日:2018-12-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/108 , H01L21/8242
Abstract: 公开了半导体器件及其制造方法。从衬底部分地刻蚀支撑层和模层,以在衬底上形成模制图案和支撑图案,使得接触孔穿过支撑图案和模制图案而形成,并且互连件通过接触孔而被暴露。在掩模图案上形成下电极层,以填充接触孔,并且通过部分地去除下电极层和掩模图案而形成接触孔中的下电极。下电极与互连件接触并由具有与支撑层相同厚度的支撑图案支撑。
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