公开(公告)号：CN111988544B

公开(公告)日：2024-08-27

申请号：CN202010315993.7

申请日：2020-04-21

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金英晕 ,  金圣洙 ,  李庭旻

IPC: H04N25/70 ,  H04N25/78 ,  G06N20/00

Abstract: 一种预测在图像信号处理器的操作中使用的多个参数的最优值的方法包括：将所述多个参数的初始值输入到机器学习模型，所述机器学习模型具有与所述多个参数对应的输入层和与从由图像信号处理器产生的结果图像中提取的多个评估项对应的输出层；使用所述机器学习模型的输出，获得所述多个评估项的评估分数；基于所述评估分数调整应用于所述多个参数的权重；以及使用调整后的权重来确定最优值。

公开(公告)号：CN114697433A

公开(公告)日：2022-07-01

申请号：CN202111554047.9

申请日：2021-12-17

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 车丞镐 ,  金圣洙 ,  金泰亨 ,  田胜赫

IPC: H04M1/02 ,  H04N5/225

Abstract: 提供了一种屏下相机，其中包括屏下相机的图像采集单元被配置为通过利用包括图像传感器的成像单元基于第一光生成评价图像。第一光被包括光源的发光单元输出，并且透过显示面板。基于评价屏下相机的性能的结果控制屏下相机，该结果通过基于评价图像计算特征值、基于参考图像计算参考值、以及将特征值与参考值进行比较来获得，所述参考图像基于由发光单元输出的第二光来获得，第二光不透过显示面板。

公开(公告)号：CN114390227A

公开(公告)日：2022-04-22

申请号：CN202111209481.3

申请日：2021-10-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张荣洽 ,  金建东 ,  金圣洙 ,  金炯旭 ,  方智伦 ,  赵韩鞠 ,  许宰赫

IPC: H04N5/369 ,  H04N5/345 ,  H04N5/359 ,  G06T5/00

Abstract: 一种图像处理装置包括图像传感器，该图像传感器包括具有第一像素组的像素阵列以及相关双采样电路。第一像素组包括第一多个正常像素、第二多个正常像素和至少一个第一相位检测像素。相关双采样电路被配置为基于第一多个正常像素的电荷生成第一视频数据，基于第二多个正常像素的电荷生成第二视频数据，并且基于至少一个第一相位检测像素的输出生成第一相位检测数据。图像处理装置还包括图像信号处理器，其被配置为将第一权重应用于所生成的第一视频数据，并且将第二权重应用于所生成的第二视频数据。

公开(公告)号：CN114070972A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202110855654.2

申请日：2021-07-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 车丞镐 ,  金圣洙

IPC: H04N5/225 ,  H04N5/235 ,  H04N5/30 ,  H04N5/341 ,  H04N5/353 ,  H04M1/02

Abstract: 一种电子设备，包括：显示器；第一图像传感器，第一图像传感器被配置成基于感测穿过显示器的第一光而输出第一图像信号；第二图像传感器，第二图像传感器被配置成基于感测不穿过显示器的第二光而输出第二图像信号；处理器，处理器被配置成：基于第二图像信号生成第一光学值和第二光学值，第二光学值与第一光学值不同；基于第一光学值满足第一条件，通过使用第二光学值来对第一图像信号进行校正。

公开(公告)号：CN103908273A

公开(公告)日：2014-07-09

申请号：CN201310573610.6

申请日：2013-11-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金圣洙 ,  吴炫和 ,  姜东求 ,  姜声训 ,  成映勋 ,  李刚仪 ,  韩锡旼

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/5294 ,  A61B6/0414 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  A61B6/502 ,  A61B6/5258 ,  A61B6/583

Abstract: 这里公开了一种X射线成像设备和控制所述设备的方法，所述设备和方法估计X射线检测器的能量响应特性并基于估计的响应特性校正X射线数据的失真。所述X射线成像设备包括：X射线产生器，产生和发射X射线；X射线检测器，检测发射的X射线并获得X射线数据；控制器，将X射线数据转换为X射线特性坐标，并从测量数据和参考数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。

公开(公告)号：CN115937076A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211014613.1

申请日：2022-08-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 全昇完 ,  金建东 ,  金圣洙 ,  俞大一 ,  李有憼 ,  林埈绪

IPC: G06T7/00 ,  G06T5/00

Abstract: 提供了一种图像评估方法、计算机程序和计算装置。该图像评估方法，包括：获得包括由图像边缘形成的第一格子图案的测试图像；使用图像边缘对准测试图像以生成包括由对准图像边缘形成的第二格子图案的对准图像；通过压缩对准图像来生成压缩图像；以及通过量化压缩图像与对准图像之间的每像素差来生成量化结果。

公开(公告)号：CN103728323B

公开(公告)日：2017-06-09

申请号：CN201310225273.1

申请日：2013-06-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜声训 ,  姜东求 ,  金圣洙 ,  成映勋 ,  吴炫和

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01T7/005

Abstract: 提供了一种校准设备和方法，该校准设备和方法可用于基于通过对至少一个成像对象进行成像而获得的结果来设置电脉冲的幅值，并且可用于映射并校准与至少一个校准对象的吸收限对应的光子能量。

公开(公告)号：CN101996344B

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201010257329.8

申请日：2010-08-19

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金圣洙 ,  姜东求 ,  成映勋 ,  李宗河 ,  韩锡旼 ,  李性德

IPC: G06M1/272

CPC classification number: G01T1/17 ,  G01T1/171

Abstract: 公开了一种计数光子的系统和方法。通过多个计数器计数光子。每个计数器产生用于光子检测器的输出的指示每个计数器的可用性的标记信号。产生的标记信号被输入到控制切换单元的控制单元。基于接收的标记信号，控制单元允许信号被输入到未处于死区时间的计数器。

公开(公告)号：CN103728323A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201310225273.1

申请日：2013-06-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜声训 ,  姜东求 ,  金圣洙 ,  成映勋 ,  吴炫和

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01T7/005

Abstract: 本发明提供了一种校准设备和方法，该校准设备和方法可用于基于通过对至少一个成像对象进行成像而获得的结果来设置电脉冲的幅值，并且可用于映射并校准与至少一个校准对象的吸收限对应的光子能量。

公开(公告)号：CN103654806A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310339284.2

申请日：2013-08-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 韩锡旼 ,  姜东求 ,  金圣洙 ,  成映勋

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/583 ,  A61B6/0414 ,  A61B6/482 ,  A61B6/502 ,  A61B6/5205 ,  A61B6/5217 ,  A61B6/5294

Abstract: 本发明提供一种用于估计对象信息的设备和方法。该对象信息估计设备包括：数据库，存储通过在模型上投射第一能量X射线而获得的模型信息；输入单元，接收通过在分析对象上投射第一能量X射线而获得的第一对象信息，并接收关于分析对象的厚度的信息；和估计单元，基于模型信息、第一对象信息和关于厚度的信息估计第二对象信息。