公开(公告)号：CN103728323B

公开(公告)日：2017-06-09

申请号：CN201310225273.1

申请日：2013-06-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜声训 ,  姜东求 ,  金圣洙 ,  成映勋 ,  吴炫和

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01T7/005

Abstract: 提供了一种校准设备和方法，该校准设备和方法可用于基于通过对至少一个成像对象进行成像而获得的结果来设置电脉冲的幅值，并且可用于映射并校准与至少一个校准对象的吸收限对应的光子能量。

公开(公告)号：CN103728323A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201310225273.1

申请日：2013-06-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜声训 ,  姜东求 ,  金圣洙 ,  成映勋 ,  吴炫和

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01T7/005

Abstract: 本发明提供了一种校准设备和方法，该校准设备和方法可用于基于通过对至少一个成像对象进行成像而获得的结果来设置电脉冲的幅值，并且可用于映射并校准与至少一个校准对象的吸收限对应的光子能量。

公开(公告)号：CN103908273A

公开(公告)日：2014-07-09

申请号：CN201310573610.6

申请日：2013-11-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金圣洙 ,  吴炫和 ,  姜东求 ,  姜声训 ,  成映勋 ,  李刚仪 ,  韩锡旼

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/5294 ,  A61B6/0414 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  A61B6/502 ,  A61B6/5258 ,  A61B6/583

Abstract: 这里公开了一种X射线成像设备和控制所述设备的方法，所述设备和方法估计X射线检测器的能量响应特性并基于估计的响应特性校正X射线数据的失真。所述X射线成像设备包括：X射线产生器，产生和发射X射线；X射线检测器，检测发射的X射线并获得X射线数据；控制器，将X射线数据转换为X射线特性坐标，并从测量数据和参考数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。