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公开(公告)号:CN117500645A
公开(公告)日:2024-02-02
申请号:CN202280041998.2
申请日:2022-07-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: B25J19/02
Abstract: 根据实施例的移动机器人包括:主体;驱动单元,被配置为移动主体;通信单元,包括天线模块,该天线模块布置在主体内的最上部中并且与外部设备执行无线通信;以及至少一个处理器,该至少一个处理器基于通过通信单元从所述外部设备接收的信号来控制驱动单元移动主体,其中,天线模块包括:基板;第一天线,该第一天线布置在基板的上表面上;以及多个第二天线,该多个第二天线布置在基板的上表面上,以与第一天线间隔开相同的距离。
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公开(公告)号:CN102384614B
公开(公告)日:2015-10-28
申请号:CN201110251584.6
申请日:2011-08-29
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: F25D21/02 , F25D21/006
Abstract: 本发明公开一种冷却系统,所述冷却系统包括:蒸发器,所述蒸发器用于与空气进行交换热;霜检测器,所述霜检测器安装在蒸发器上以检测霜;和控制单元,所述控制单元用于确定当前时刻是否与霜检测点相对应,当当前时刻与霜检测点相对应时控制霜检测器,以及根据来自霜检测器的霜检测信号控制除霜操作。可以通过在恒定霜检测环境条件下执行霜检测准确地检测形成在蒸发器上的霜的量。
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公开(公告)号:CN102062751B
公开(公告)日:2014-11-05
申请号:CN201010541637.3
申请日:2010-11-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: F25D21/02
Abstract: 本发明涉及霜检测设备。本发明公开了一种霜检测设备,包括:第一电极,用于在霜检测区域中产生电场;第二电极,用于防止电场泄漏到非霜检测区域中;绝缘体,所述绝缘体布置在第一电极与第二电极之间,以使第一电极绝缘;和屏蔽件,所述屏蔽件绕绝缘体的暴露部分布置,以防止电场通过绝缘体的暴露部分泄露到非霜检测区域中。当在第一和第二电极处建立相同的电势时,可以防止电场通过第一电极的侧表面泄漏到非霜检测区域中。因此,电场仅仅由于形成在霜检测区域中的霜而变化,使得可以更加准确地检测霜的形成和形成的霜量。
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公开(公告)号:CN103101994B
公开(公告)日:2016-08-17
申请号:CN201210377698.X
申请日:2012-10-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: C02F1/4618 , B01D61/025 , B01D61/48 , B01D61/54 , B01D61/58 , C02F1/441 , C02F2001/425 , C02F2001/46157 , C02F2001/4619 , C02F2001/46195 , C02F2103/026 , C02F2201/46115 , C02F2201/46155 , C02F2201/4618 , C02F2209/42 , C02F2301/046 , C02F2307/12
Abstract: 用于制备还原水的装置,所述水保持中性范围的pH并显示出优良的还原能力。用于制备还原水的所述装置包括:电解槽,所述电解槽包括装配有阴极的阴极室、装配有阳极的阳极室、和插置在所述阴极室和所述阳极室之间的中间室,其中所述阴极室和所述中间室装配有经过其供应水的入口和经过其排出水的出口,阳离子交换膜提供在所述阴极室和中间室之间,以及所述中间室包括阳离子交换树脂,当所述阳离子交换树脂与水反应时其离解出氢离子。
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公开(公告)号:CN101315761B
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN200810097494.4
申请日:2008-05-30
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G09G5/006 , G09G2370/042 , G09G2370/047
Abstract: 一种显示装置包括:存储单元,其存储显示标识数据和通过预设数据处理方法从显示标识数据获得的比较校验数据;以及控制器,其通过数据处理方法从存储单元中存储的显示标识数据计算检查校验数据,比较检查校验数据与比较校验数据,并且执行标识数据校验过程以确定在显示标识数据中是否存在错误。
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公开(公告)号:CN112397384A
公开(公告)日:2021-02-23
申请号:CN202010781737.7
申请日:2020-08-06
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/311 , H01L21/033
Abstract: 可以提供一种制造半导体器件的方法,该方法包括:准备包括晶片内部区域和晶片边缘区域的基板,该晶片内部区域包括芯片区域和划片槽区域;在基板上依次堆叠模制层和支撑层;在支撑层上形成第一掩模层,第一掩模层包括在晶片边缘区域上的第一台阶区域;在第一台阶区域上形成台阶差补偿图案;在第一掩模层和台阶差补偿图案上形成包括开口的第二掩模图案;以及使用第二掩模图案作为蚀刻掩模依次蚀刻第一掩模层、支撑层和模制层以在至少模制层中形成多个孔。
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公开(公告)号:CN103101994A
公开(公告)日:2013-05-15
申请号:CN201210377698.X
申请日:2012-10-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: C02F1/4618 , B01D61/025 , B01D61/48 , B01D61/54 , B01D61/58 , C02F1/441 , C02F2001/425 , C02F2001/46157 , C02F2001/4619 , C02F2001/46195 , C02F2103/026 , C02F2201/46115 , C02F2201/46155 , C02F2201/4618 , C02F2209/42 , C02F2301/046 , C02F2307/12
Abstract: 用于制备还原水的装置,所述水保持中性范围的pH并显示出优良的还原能力。用于制备还原水的所述装置包括:电解槽,所述电解槽包括装配有阴极的阴极室、装配有阳极的阳极室、和插置在所述阴极室和所述阳极室之间的中间室,其中所述阴极室和所述中间室装配有经过其供应水的入口和经过其排出水的出口,阳离子交换膜提供在所述阴极室和中间室之间,以及所述中间室包括阳离子交换树脂,当所述阳离子交换树脂与水反应时其离解出氢离子。
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公开(公告)号:CN102384614A
公开(公告)日:2012-03-21
申请号:CN201110251584.6
申请日:2011-08-29
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: F25D21/02 , F25D21/006
Abstract: 本发明公开一种冷却系统,所述冷却系统包括:蒸发器,所述蒸发器用于与空气进行交换热;霜检测器,所述霜检测器安装在蒸发器上以检测霜;和控制单元,所述控制单元用于确定当前时刻是否与霜检测点相对应,当当前时刻与霜检测点相对应时控制霜检测器,以及根据来自霜检测器的霜检测信号控制除霜操作。可以通过在恒定霜检测环境条件下执行霜检测准确地检测形成在蒸发器上的霜的量。
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公开(公告)号:CN102062751A
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN201010541637.3
申请日:2010-11-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: F25D21/02
Abstract: 本发明涉及霜检测设备和具有该霜检测设备的冷却系统和冰箱。本发明公开了一种霜检测设备,包括:第一电极,用于在霜检测区域中产生电场;第二电极,用于防止电场泄漏到非霜检测区域中;绝缘体,所述绝缘体布置在第一电极与第二电极之间,以使第一电极绝缘;和屏蔽件,所述屏蔽件绕绝缘体的暴露部分布置,以防止电场通过绝缘体的暴露部分泄露到非霜检测区域中。当在第一和第二电极处建立相同的电势时,可以防止电场通过第一电极的侧表面泄漏到非霜检测区域中。因此,电场仅仅由于形成在霜检测区域中的霜而变化,使得可以更加准确地检测霜的形成和形成的霜量。
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公开(公告)号:CN101320683A
公开(公告)日:2008-12-10
申请号:CN200810142886.8
申请日:2008-02-05
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/027 , H01L21/28 , H01L21/768 , H01L21/3213 , G03F7/00 , G03F7/20 , G03F7/32
CPC classification number: H01L21/31133 , H01L21/32139
Abstract: 本发明提供一种再加工半导体衬底的方法和在不损伤有机抗反射涂层(ARC)的情况下使用再加工半导体衬底的方法形成半导体器件图案的方法。再加工半导体衬底的方法包括在形成有有机ARC的衬底上形成光致抗蚀剂图案。当光致抗蚀剂图案中存在缺陷时,可曝光其上形成有光致抗蚀剂图案的衬底的整个表面。整个表面曝光的光致抗蚀剂图案可通过执行不损伤有机ARC的显影工艺来移除。
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