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公开(公告)号:CN102136499B
公开(公告)日:2016-02-10
申请号:CN201110031440.X
申请日:2011-01-26
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/06 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7869 , H01L29/41733 , H01L29/78696
Abstract: 本发明公开了一种薄膜晶体管(TFT)及其制造方法。该TFT可包括浮置沟道和绝缘层,浮置沟道在沟道表面上形成为与源极和漏极分隔开,绝缘层形成在浮置沟道上并设计为控制浮置沟道与源极或漏极之间的距离。
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公开(公告)号:CN102136499A
公开(公告)日:2011-07-27
申请号:CN201110031440.X
申请日:2011-01-26
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/06 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7869 , H01L29/41733 , H01L29/78696
Abstract: 本发明公开了一种薄膜晶体管(TFT)及其制造方法。该TFT可包括浮置沟道和绝缘层,浮置沟道在沟道表面上形成为与源极和漏极分隔开,绝缘层形成在浮置沟道上并设计为控制浮置沟道与源极或漏极之间的距离。
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公开(公告)号:CN102347368B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201110115503.X
申请日:2011-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/12 , H01L29/36 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7869 , H01L29/66969 , H01L29/78696
Abstract: 本发明提供了晶体管、制造所述晶体管的方法及包括所述晶体管的平板显示器。所述晶体管可以包括具有多层结构的氧化物沟道层。沟道层可包括从栅极绝缘层顺序地布置的第一层和第二层。第一层可以是导体,第二层可以是导电率比第一层的导电率低的半导体。第一层可根据栅极电压条件变成耗尽区。
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公开(公告)号:CN102347368A
公开(公告)日:2012-02-08
申请号:CN201110115503.X
申请日:2011-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/12 , H01L29/36 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7869 , H01L29/66969 , H01L29/78696
Abstract: 本发明提供了晶体管、制造所述晶体管的方法及包括所述晶体管的平板显示器。所述晶体管可以包括具有多层结构的氧化物沟道层。沟道层可包括从栅极绝缘层顺序地布置的第一层和第二层。第一层可以是导体,第二层可以是导电率比第一层的导电率低的半导体。第一层可根据栅极电压条件变成耗尽区。
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