半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN111048469A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201911347524.7

    申请日:2013-11-13

    Abstract: 本发明提供了半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:衬底,包括单元区和外围区;单元栅电极,埋入在与单元区的单元有源部分交叉的凹槽中;单元线图案,横跨单元栅电极,单元线图案连接到在单元有源部分中处于单元栅电极的一侧的第一源/漏区;外围栅极图案,横跨外围区的外围有源部分;平坦化的层间绝缘层,在衬底上处于外围栅极图案周围;以及覆盖绝缘层,在平坦化的层间绝缘层和外围栅极图案的顶表面上,覆盖绝缘层包括相对于平坦化的层间绝缘层具有蚀刻选择性的绝缘材料。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN103811554B

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201310572089.4

    申请日:2013-11-13

    Abstract: 本发明提供了半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:衬底,包括单元区和外围区;单元栅电极,埋入在与单元区的单元有源部分交叉的凹槽中;单元线图案,横跨单元栅电极,单元线图案连接到在单元有源部分中处于单元栅电极的一侧的第一源/漏区;外围栅极图案,横跨外围区的外围有源部分;平坦化的层间绝缘层,在衬底上处于外围栅极图案周围;以及覆盖绝缘层,在平坦化的层间绝缘层和外围栅极图案的顶表面上,覆盖绝缘层包括相对于平坦化的层间绝缘层具有蚀刻选择性的绝缘材料。

    半导体器件
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111048469B

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201911347524.7

    申请日:2013-11-13

    Abstract: 本发明提供了半导体器件。该半导体器件包括:衬底,包括单元区和外围区;单元栅电极,埋入在与单元区的单元有源部分交叉的凹槽中;单元线图案,横跨单元栅电极,单元线图案连接到在单元有源部分中处于单元栅电极的一侧的第一源/漏区;外围栅极图案,横跨外围区的外围有源部分;平坦化的层间绝缘层,在衬底上处于外围栅极图案周围;以及覆盖绝缘层,在平坦化的层间绝缘层和外围栅极图案的顶表面上,覆盖绝缘层包括相对于平坦化的层间绝缘层具有蚀刻选择性的绝缘材料。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN103811554A

    公开(公告)日:2014-05-21

    申请号:CN201310572089.4

    申请日:2013-11-13

    Abstract: 本发明提供了半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:衬底,包括单元区和外围区;单元栅电极,埋入在与单元区的单元有源部分交叉的凹槽中;单元线图案,横跨单元栅电极,单元线图案连接到在单元有源部分中处于单元栅电极的一侧的第一源/漏区;外围栅极图案,横跨外围区的外围有源部分;平坦化的层间绝缘层,在衬底上处于外围栅极图案周围;以及覆盖绝缘层,在平坦化的层间绝缘层和外围栅极图案的顶表面上,覆盖绝缘层包括相对于平坦化的层间绝缘层具有蚀刻选择性的绝缘材料。

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