包括支撑图案的半导体器件和制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN112349719A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202010644769.2

    申请日:2020-07-07

    Abstract: 公开了包括支撑图案的半导体器件和制造半导体器件的方法。该半导体器件可以包括在衬底上的多个垂直结构以及接触所述多个垂直结构的侧壁的支撑图案。支撑图案可以包括延伸穿过支撑图案的多个支撑孔。所述多个支撑孔可以包括彼此间隔开的第一支撑孔和第二支撑孔,并且第一支撑孔可以具有与第二支撑孔的形状或尺寸不同的形状或尺寸。

    包括存储节点电极的半导体器件及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN113130748B

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202011156646.0

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 一种半导体器件,可以包括:衬底上的底部子电极;所述底部子电极上的顶部子电极;覆盖所述底部子电极和顶部子电极的介电层;以及所述介电层上的板电极。所述顶部子电极可以包括阶梯,所述阶梯从其与所述底部子电极相邻的侧表面延伸到所述顶部子电极的内部。所述顶部子电极可以包括比所述阶梯低的高度的下部和比所述阶梯高的高度的上部。所述下部的最大宽度可以比所述上部的最小宽度窄。所述下部的所述最大宽度可以比所述底部子电极的顶端的宽度窄。所述底部子电极可以在与所述顶部子电极相邻的区域中包括凹陷。

    包括支撑图案的半导体器件和制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN112349719B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202010644769.2

    申请日:2020-07-07

    Abstract: 公开了包括支撑图案的半导体器件和制造半导体器件的方法。该半导体器件可以包括在衬底上的多个垂直结构以及接触所述多个垂直结构的侧壁的支撑图案。支撑图案可以包括延伸穿过支撑图案的多个支撑孔。所述多个支撑孔可以包括彼此间隔开的第一支撑孔和第二支撑孔,并且第一支撑孔可以具有与第二支撑孔的形状或尺寸不同的形状或尺寸。

    包括存储节点电极的半导体器件及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN113130748A

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN202011156646.0

    申请日:2020-10-26

    Abstract: 一种半导体器件,可以包括:衬底上的底部子电极;所述底部子电极上的顶部子电极;覆盖所述底部子电极和顶部子电极的介电层;以及所述介电层上的板电极。所述顶部子电极可以包括阶梯,所述阶梯从其与所述底部子电极相邻的侧表面延伸到所述顶部子电极的内部。所述顶部子电极可以包括比所述阶梯低的高度的下部和比所述阶梯高的高度的上部。所述下部的最大宽度可以比所述上部的最小宽度窄。所述下部的所述最大宽度可以比所述底部子电极的顶端的宽度窄。所述底部子电极可以在与所述顶部子电极相邻的区域中包括凹陷。

    半导体器件
    7.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN112054027A

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN202010257913.7

    申请日:2020-04-03

    Abstract: 本发明提供一种半导体器件,该半导体器件包括:基板;在基板上的位线结构;接触插塞结构,与位线结构相邻并且沿垂直于基板的上表面的竖直方向延伸;以及电容器,电连接到接触插塞结构。接触插塞结构包括顺序堆叠在基板上的下接触插塞、金属硅化物图案和上接触插塞。金属硅化物图案具有L形横截面。

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