光学器件的检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN1904674A

    公开(公告)日:2007-01-31

    申请号:CN200610007307.X

    申请日:2006-02-07

    Abstract: 本发明涉及光学器件的检测装置及检测方法。依据本发明所提供的光学器件的检测装置,包含:用于向所述光学器件射出光的激光器;对于所述激光器射出光的相位进行变更的相位变更部;用于将通过所述光学器件的光按特定方向偏振的偏振部;用于集中所偏振光的集光部;用于将所集中的光变换为电信号的光二极管;用于处理所述电信号的信号处理部。据此提供可以测定板状光学器件的双折射和厚度变形程度的光学器件的检测装置及检测方法。

    光学器件的检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN100443959C

    公开(公告)日:2008-12-17

    申请号:CN200610007307.X

    申请日:2006-02-07

    Abstract: 本发明涉及光学器件的检测装置及检测方法。依据本发明所提供的光学器件的检测装置,包含:用于向所述光学器件射出光的激光器;通过对所述激光器射出光的相位进行变更而消除干扰的相位变更部;用于将通过所述光学器件的光按特定方向偏振的偏振部;用于集中所偏振光的集光部;用于将所集中的光变换为电信号的光二极管;用于处理所述电信号的信号处理部。据此提供可以测定板状光学器件的双折射和厚度变形程度的光学器件的检测装置及检测方法。

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