半导体存储器装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112736081B

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202010738503.4

    申请日:2020-07-28

    Abstract: 提供了一种半导体存储器装置,所述半导体存储器装置可以包括:位线,在第一方向上延伸;第一导电图案,在与第一方向相交的第二方向上延伸;半导体图案,将位线与第一导电图案连接;第二导电图案,包括位于第一导电图案中的插入部;以及介电层,位于第一导电图案与第二导电图案之间。第二导电图案的插入部可以具有随着距半导体图案的距离增大而增大的宽度。

    半导体存储器装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112750831A

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202011029630.3

    申请日:2020-09-27

    Abstract: 提供了一种半导体存储器装置。所述半导体存储器装置包括:第一‑第一导线,位于基底上;第二‑第一导线,位于第一‑第一导线上;第一接触件,连接到第一‑第一导线;以及第二接触件,连接到第二‑第一导线,其中,第一‑第一导线在第一方向上突出超过第二‑第一导线,第一‑第一导线包括具有第一厚度的第一区域、具有第二厚度的第二区域和具有第三厚度的第三区域,第二厚度比第一厚度大,第三厚度比第一厚度小且比第二厚度小,并且第一‑第一导线的第二区域在第一‑第一导线的第一区域与第一‑第一导线的第三区域之间。

    半导体存储器装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112736081A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202010738503.4

    申请日:2020-07-28

    Abstract: 提供了一种半导体存储器装置,所述半导体存储器装置可以包括:位线,在第一方向上延伸;第一导电图案,在与第一方向相交的第二方向上延伸;半导体图案,将位线与第一导电图案连接;第二导电图案,包括位于第一导电图案中的插入部;以及介电层,位于第一导电图案与第二导电图案之间。第二导电图案的插入部可以具有随着距半导体图案的距离增大而增大的宽度。

    半导体存储器装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112635463A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202010679219.4

    申请日:2020-07-15

    Inventor: 孙龙勳

    Abstract: 公开了半导体存储器装置。半导体存储器装置可以包括:多个层,沿竖直方向顺序地堆叠在基底上,所述多个层中的每个包括沿第一方向延伸的位线以及从位线沿与第一方向交叉的第二方向延伸的半导体图案;栅电极,延伸穿过所述多个层,并且包括延伸穿过半导体图案的竖直部和从所述竖直部延伸且面对半导体图案中的一个半导体图案的第一表面的第一水平部;以及数据存储元件,电连接到半导体图案中的所述一个半导体图案。数据存储元件包括:第一电极,电连接到半导体图案中的所述一个半导体图案;第二电极,位于第一电极上;以及介电层,位于第一电极与第二电极之间。

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