碳化硅介质层的刻蚀选择比量测方法

    公开(公告)号:CN114300374A

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202111630451.X

    申请日:2021-12-28

    Abstract: 碳化硅介质层的刻蚀选择比量测方法,属于半导体技术领域,包括以下步骤:使用光谱椭偏仪测量碳化硅上介质层的介质膜厚H1,并通过公式计算得到介质膜厚的评价函数MSE1;制作掩膜层,使用台阶仪量测掩膜层厚度Ht;基于所述步骤S2量测的掩膜层厚度Ht,使用光谱椭偏仪测量掩膜层厚度Hy,并通过公式计算得到所述掩膜层厚度的评价函数MSEy;刻蚀含有掩膜的碳化硅上介质层,使用台阶仪量测刻蚀后台阶深度Het,使用椭偏仪测量刻蚀后掩膜层厚度Hey;根据公式计算刻蚀选择比。本方法使刻蚀过程中的碳化硅上掩膜层的厚度量测更加精确,从而使碳化硅上的介质层相对于掩膜层的选择比刻蚀工艺调试结果更加具有可信度。

    一种基于共注的Ga2O3的P型掺杂方法

    公开(公告)号:CN114284154A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111537404.0

    申请日:2021-12-15

    Abstract: 本发明涉及一种基于共注的Ga2O3的P型掺杂方法,包括离子注入、后退火和表面抛光,离子注入是向半导体衬底上生长的外延层先后注入氮元素和二价金属元素并用多能量注入以形成均匀的掺杂,氮元素和二价金属元素是为了提供空穴,形成受体掺杂的杂质,同时预先氮元素的注入也会降低氧元素电负性太高引起的空穴的自陷效应,可以增加Ga2O3的P型区的空穴迁移率,同时引入的另一种受体掺杂杂质可以使受体掺杂浓度升高,后退火是通过将注入后的晶圆放入高温退火炉中以一定的温度退火以修复晶格损伤并激活掺杂元素,表面抛光是将进行过两次离子注入和退火的晶圆面向下抛光一定厚度以降低离子注入后晶圆表面的粗糙度同时消除高温退火后掺杂元素向外扩散导致的表面掺杂不均匀。

    一种超级结器件及电介质组合终端

    公开(公告)号:CN112201685B

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202010934164.7

    申请日:2020-09-08

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 公开了一种超级结器件及电介质组合终端,该超级结器件包括形成于漂移区内的有源区和终端、位于有源区内的多个超级结、位于终端内的宽槽、位于宽槽内的多层电介质组合、位于宽槽靠近有源区方向侧壁上的侧壁注入区以及位于宽槽底部并与下注入区接触的终端底部注入区。该终端包括的宽槽和位于宽槽靠近有源区方向侧壁上的侧壁注入区,该侧壁注入区可以包括具有相同掺杂类型的下注入区和上注入区。该终端包括的多层电介质组合中,每层电介质按照电介质常数从高到低,而从左至右,从上至下地排布。本发明的结构优化了终端与有源区交界处的净负电荷量的空间分布,以及宽槽内部电介质中的电介质常数分布,实现了更好的电场分布,提高了器件终端的耐压。

    一种超级结器件及其终端
    89.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112420807A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN202011215400.6

    申请日:2020-11-04

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件及其终端,该半导体器件包括有源区和终端区,所述半导体器件包括位于有源区内的第一柱区、第二柱区和第一电介质柱区,以及位于终端区内的第一终端,所述第一终端包括第三柱区、第四柱区和第二电介质柱区,其中第一柱区和第三柱区均具有第一掺杂类型,第二柱区和第四柱区均具有第二掺杂类型,第三柱区宽度小于第一柱区宽度,第四柱区宽度大于或等于第二柱区宽度,第二电介质柱区宽度大于或等于第一电介质柱区宽度。本发明的结构在实现阻断时终端区呈现负电荷的基础上,调制了终端区负电荷的空间分布,实现了终端区更均匀的电场分布,最终提高了器件终端的耐压。

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