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公开(公告)号：CN213874049U
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN202023242655.X
申请日：2020-12-29
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型提供了一种测量钢管端面的视觉千分尺，包括基座；还包括位于基座前端靠近钢管工作面上的刻度尺，刻度尺放置与基座下底面保持水平；还包括位于基座前端靠近钢管前端的激光位移传感器，该激光位移传感器测量激光位移传感器和钢管端面的距离；还包括位于基座后端远离钢管端面的位置的报警灯，所述报警灯在钢管尺寸不满足设定要求时发出警报；还包括位于基座上的视觉测量机构；所述视觉测量机构包括主承载架、带有刻度的副承载架、一个相机、一个光学远心成像镜头、驱动电机及相机底座；所述相机连接有图像处理单元；所述主承载架通过连接板连接副承载架。应用本技术方案可实现对钢管的端面进行批量高精度全自动检测。
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公开(公告)号：CN210322790U
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201920806184.9
申请日：2019-05-30
Applicant: 华侨大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本实用新型提供一种多通道光纤荧光传感器，包括光源、激发光分光装置、与所述激发光分光装置连接的信号光分光装置、分别与所述信号光分光装置连接的探头阵列和滤光装置、与所述滤光装置连接的成像系统以及分别与所述光源和所述成像系统通讯连接的控制和数据显示终端，所述探头阵列包括光纤探头，所述光纤探头具有裸露芯区和量子点。光源发出的激发光经分光装置耦合分别进入不同的光纤探头，在探头表面产生的倏逝波激发探头上的量子点产生荧光信号，该荧光信号的信号光被光纤探头收集并经过分光装置耦合进滤光模块，实现多通道的荧光信号采集，其检测结构可直观显示在成像系统中，成本相对较低、体积相对较小、携带方便且可迅速获取结果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204945055U
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201520613899.4
申请日：2015-08-14
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开了一种用于平板表面质量的检测系统，其包括沿光源发出光束的光路上依次设置的准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测平板对应于微透镜阵列的出射侧设置，且待测平板在垂直于光轴的方向上做横向往复移动。本实用新型将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测平板表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下利用垂直于光轴方向上的运动获得待测平板表面的三维信息，以及其表面的瑕疵、划痕等质量信息，极大地提高了针对平板表面质量问题的检测效率。
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公开(公告)号：CN219805551U
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202321290773.9
申请日：2023-05-25
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: B23K26/382 , B23K26/064
Abstract: 本实用新型公开了一种激光打孔系统，涉及激光加工技术领域，包括光源、数字微镜器件、激光准直精缩模块、激光聚焦模块以及控制模块，光源用于向数字微镜器件发射激光光束，数字微镜器件能够将接收到的激光光束反射至激光准直精缩模块，激光准直精缩模块能够准直收到的激光光束并以一定的比例缩小激光光斑，激光聚焦模块能够接收到激光准直精缩模块准直后的激光光束，且激光聚焦模块能够将接收到的激光光束聚焦后打到待打孔体上；控制模块用于与数字微镜器件以及光源通信连接，且控制模块能够控制数字微镜器件的运行，控制模块能够控制光源的运行；本实用新型公开的激光打孔系统能够便于对打孔加工参数进行调整。
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公开(公告)号：CN218994288U
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202320166403.8
申请日：2023-02-08
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本实用新型公开一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置，属于共聚焦显微测量领域。载物台带动被测样品沿轴向方向上下移动，实现层扫，并结合照明单元、准直透镜、数字微镜器件、分光透镜、物镜、聚焦透镜使用的差动共聚焦显微测量技术，通过差动共聚焦测量方法与层扫相结合，扩展了差动共聚焦轴向测量量程，实现了轴向大量程测量，还保证了轴向测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN218481055U
公开(公告)日：2023-02-14
申请号：CN202222457428.1
申请日：2022-09-15
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本申请涉及一种高深宽比微孔的测量装置，该装置包括相机、多通道光源、光束调节装置及载物台，所述载物台用于放置待测微孔样品；所述相机与所述载物台沿竖直方向同轴设置，所述相机与所述载物台之间设置光束调节装置；所述多通道光源用于输出不同的单色光源，并经由所述光束调节装置实现该测量所需光束的光强与方向转折；所述相机用于获取任一两种由待测微孔样品同一位置反射出的单色光源，并发送至计算机，采用多通道光源发出不同波段的光源，DMD调制单点光进行照射微孔，通过不同波段光强做差，光强差转高度，从而进行快速求出高深宽比微孔的高度。
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公开(公告)号：CN218380882U
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202222859782.7
申请日：2022-10-28
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本实用新型涉及一种并行彩色共焦差动测量的反射率不均消除系统，属于共焦测量技术领域。该系统包括：复色光源、准直透镜、数字微镜器件、第一分光透镜、色散管镜、物镜、载物模块、第二分光透镜、第一滤光转盘、第一滤光片、第一聚焦透镜、焦前相机、第三分光透镜、第二滤光转盘、第二滤光片、第二聚焦透镜、焦面相机、第三滤光转盘、第三滤光片、第三聚焦透镜、焦后相机和处理单元。基于该并行彩色共焦测量的反射率不均消除系统，通过反射率为乘性的特性，利用焦面光谱信息消除被测物体对不同波长反射率不同的影响，去除了并行彩色共焦差动测量过程中因不同波段导致的反射率各异因此的测量误差问题，极大提高了测量的准确性。
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公开(公告)号：CN211855280U
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202020187845.7
申请日：2020-02-20
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01C3/00
Abstract: 本实用新型提供了基于色散透镜与滤光片的视觉测距系统，包括沿光路方向依次设置的成像透镜(1)、成像光路单元(2)、滤光单元(3)、成像单元(4)和图像计算处理单元(5)；所述成像透镜(1)为色散透镜；所述成像光路单元(2)包括多片分光片以及反射镜，用于将来自目标景物的入射光分为多个光束并分别进入多个并行光路；所述滤光单元(3)位于每一个并行光路的末端，用于保留每个光路的对应窄带波段光信号；所述成像单元(4)包括多个图像传感器，用于采集各窄带波段光信号；所述图像计算处理单元(5)与成像单元(4)相连。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN211426247U
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201922176356.1
申请日：2019-12-06
Applicant: 华侨大学
IPC: G01N21/01
Abstract: 本实用新型公开一种用于本征光纤传感器的样品自动检测装置，包括电源模块、控制模块、第一电机、第二电机、转盘、丝杆、丝杆滑块、光纤探针固定装置、限位固定块、支柱、固定柱和电机支架；转盘水平设置，支柱与转盘相邻设置，限位固定块设置在支柱上，丝杆垂直转盘设置，丝杆滑块沿丝杆长度方向活动设置，光纤探针固定装置设置在丝杆滑块上，光纤探针固定装置的固定结构位于转盘的正上方，本实用新型的一种用于本征光纤传感器的样品自动检测装置可实现本征光纤传感器检测样品时的自动化操作，保证检测的精准度，降低实验人员的负担。
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公开(公告)号：CN207676054U
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201720970153.8
申请日：2017-08-04
Applicant: 华侨大学
IPC: G02B27/09
Abstract: 本实用新型涉及一种基于轴棱锥检测涡旋光拓扑荷数的装置，包括光学平台，光学平台设有激光器和沿激光器光轴依次设置的可调衰减器、准直扩束系统、光阑、螺旋相位板、轴棱锥系统以及观测系统。采用本实用新型的技术方案后，运用单个光学元件直接对涡旋光进行拓扑电荷数检测，这极大地简化了拓扑荷数检测的实验装置结构。相比于传统检测方案，本方案更加简单快捷、成本低、检测效率也更高。并且由于轴棱锥的线聚焦特性，使得该方案在实际检测工作中无需对检测点进行严格定标，更加具备灵活性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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