公开(公告)号：CN109425626B

公开(公告)日：2022-11-01

申请号：CN201810996814.3

申请日：2018-08-29

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐佐木明登 ,  姬田章宏 ,  池田由纪子 ,  长尾圭悟

IPC: G01N23/207

Abstract: 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线在各2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据在各2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。

公开(公告)号：CN109416330B

公开(公告)日：2022-09-27

申请号：CN201780042408.7

申请日：2017-07-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 尾形洁 ,  表和彦 ,  伊藤义泰

IPC: G01N23/2251 ,  G01N23/201

Abstract: 该混合检查系统是包括第一检查设备(1)和第二检查设备(2)的检查系统，其中第一检查设备(1)基于通过用X射线照射样本(11)获得的X射线测量数据来检查样本(11)，并且第二检查设备(2)通过使用不采用X射线的测量技术来检查样本(11)。由第一检查设备(1)获得的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果被输出到第二检查设备(2)。此外，第二检查设备(2)利用从第一检查设备(1)输入的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果来分析样本(11)的结构。

公开(公告)号：CN112930478B

公开(公告)日：2022-02-22

申请号：CN202080005907.0

申请日：2020-07-10

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 田中伸

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供了一种可高精度的定量分析的方法、定量分析程序以及荧光X射线分析装置。在通过荧光X射线分析装置进行的定量分析方法中，包括以下步骤：取得步骤(S202)，在不同的条件下，从包含多个元素的样品中取得至少在第1能量位置具有第1峰的多个光谱；指定步骤(S206)，在多个光谱中，指定主光谱、和在第2能量位置具有第2峰的副光谱；第1拟合步骤(S208、S210)，对副光谱所包含的所述第1峰进行拟合，计算在所述第1峰的所述第2能量位置处的背景强度；以及第2拟合步骤(S212)，对所述主光谱的所述第1峰进行拟合，并且在所计算出的所述背景强度被包含在所述第2能量位置的条件下，对副光谱的所述第2峰进行拟合。

公开(公告)号：CN113758950A

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN202110550331.2

申请日：2021-05-20

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 影山将史 ,  冈岛健一 ,  加藤光一

IPC: G01N23/046 ,  G01N23/20

Abstract: 本发明提供一种X射线图像生成装置，其在大视野且多个方向上的相位对比度信息的取得变得容易。移动机构(4)使被摄体(10)在横穿向格栅部(2)照射的X射线的方向上，相对于格栅部(2)相对移动。格栅部(2)具有在沿着移动机构(4)的移动方向的方向上排列的N个(2≤N)区域。属于N个区域中的第i个(1≤i≤N‑1)区域的多个格栅(21～23)中的格栅结构的周期方向与属于N个区域中的第i+1个区域的多个格栅(21～23)中的格栅结构的周期方向为不同的方向。多个格栅(21～23)构成为，在所有N个区域生成的莫尔干涉条纹都能够通过检测器(3)测量其周期性的强度变动，并且在移动机构(4)的移动方向上具有至少一个周期以上的强度变动。

公开(公告)号：CN113748333A

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN202080031348.0

申请日：2020-06-04

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  后藤直人

IPC: G01N23/223

Abstract: 包括使用范德曼参数法的定量机构，定量机构对于各标准样品，使用测量强度、装置灵敏度常数和比例系数，该比例系数为，理论强度式中为了计算理论强度而与测量元素的质量分数相乘的比例系数，计算与测量元素相对应的成分的含量的定量值，对于各成分，输出表示标准值和定量值的相关性的图表和/或每个标准样品的标准值、定量值、定量误差和已采用的一组标准样品的定量值整体的准确度。

公开(公告)号：CN113631913A

公开(公告)日：2021-11-09

申请号：CN202080024801.5

申请日：2020-01-08

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 松岛直树 ,  尾形洁 ,  吉原正 ,  伊藤义泰 ,  表和彦 ,  本野宽 ,  浅野繁松 ,  洞田克隆 ,  安田千水

IPC: G01N23/20016 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/201

Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。

公开(公告)号：CN113454447A

公开(公告)日：2021-09-28

申请号：CN201980088789.1

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置，单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部，试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。

公开(公告)号：CN113302482A

公开(公告)日：2021-08-24

申请号：CN201980088982.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够对细孔性络合物晶体供给试样并使其可靠地吸藏的单晶X射线构造解析试样的吸藏装置以及吸藏方法。吸藏装置(300)使试样吸藏，具备：将所述试样供给到被插入保持细孔性络合物晶体的试样固定器(310)的涂敷器(311)的内部的供给部；控制所述涂敷器(311)的温度的温度调整部(320)；从被插入所述试样固定器(310)的所述涂敷器(311)的内部将所述试样运出的排出部；和控制所述供给部、所述温度调整部(320)和所述排出部的控制部(340)。

公开(公告)号：CN113287002A

公开(公告)日：2021-08-20

申请号：CN201980088735.5

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20016 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207

Abstract: 能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；测角仪，具备的测角仪头(514)，该测角仪头(514)装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架(310)；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头(514)调整的所述细孔性络合物结晶；X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，在所述测角仪头(514)的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架(310)的位置的定位部。

公开(公告)号：CN113167748A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201980076995.0

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线结构解析的单晶X射线结构解析装置、用于此的方法、试样固定器组件。具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器250中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的结构解析的结构解析部，将试样固定器(250)装备于能拆装的敷料器而提供，试样固定器(250)包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，敷料器具备：用于使试样吸藏在试样固定器(250)的细孔性络合物晶体的空间。