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公开(公告)号：CN101604352A
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：CN200910158141.5
申请日：2009-07-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明提供了一种永磁继电器等效磁路模型的建模方法，其包括以下步骤：判断永磁继电器中的永磁装配与充磁属于何种情况；根据情况对永磁进行三维磁场仿真，获得仿真结果；针对所述仿真结果进行后处理，获得永磁各截面磁感应强度的分布曲线；由永磁各截面磁感应强度的分布曲线的特点，对永磁进行分段得到各段永磁的起始工作点；根据各段永磁的起始工作点及回复线斜率，计算得到各段永磁的等效磁势与等效磁阻；针对永磁继电器的磁系统结构，结合所述各段永磁的等效磁势与等效磁阻，建立基于永磁分段的永磁继电器等效磁路模型；建模过程结束。本发明为永磁继电器进行可靠性设计提供有效的磁路计算方法。
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公开(公告)号：CN101571885A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200910072259.6
申请日：2009-06-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明的目的在于提供一种通过建立磁路模型和有限元模型间的修正关系，根据修正系数对电磁系统尺寸参数的可微性，实现电磁系统尺寸参数改变的电磁继电器静、动态特性快速计算方法。它包括修正系数的定义及求取、静态吸力特性的快速求解和动态特性的快速求解。本发明综合磁路法的快速性和磁场有限元法的准确性特点，提出一种基于修正系数的电磁继电器静、动态特性快速求解方法，使得电磁系统零件尺寸参数改变后的静、动态计算既具有磁路法的快速性又具有有限元法的准确性。
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公开(公告)号：CN100375902C
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：CN200410043965.5
申请日：2004-10-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327 , G01R31/00
Abstract: 电磁继电器动态特性的测试方法。它涉及用于测试并记录电磁继电器衔铁运动特性的方法。步骤：一、用照明装置(2)照射在衔铁(1)表面，反射出来的光线投射在成像装置(4)的表面上，在图像传感器(5)上成像；二、把(5)所提取的信号经过A/D转换后存储；三、给电磁继电器(11)通电使(1)运动，采集并记录(1)在各运动位置的数据信号；四、把(1)各运动位置的数据信号进行去噪、滤波和增强等处理；五、把(1)各运动位置的数据信号拟合成完整的运动特性曲线。本方法不在继电器上附加任何辅助测量工具，属于真正的非接触测量；通过软件对图像进行去噪、滤波、图像增强和阈值选取等操作，更有利于将有用信号提取出来。
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公开(公告)号：CN1609625A
公开(公告)日：2005-04-27
申请号：CN200410044043.6
申请日：2004-11-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 电磁继电器静态特性测试分析装置，它涉及的是继电器特性检测装置，具体是一种电磁继电器静态特性测试分析装置。(10)的下端面连接在(16)的右侧上端面上，(2)通过(2－1)连接在(10)的上端面上，(2)的(2－2)与(1)上的衔铁相接触，(10－1)的控制输入端连接(11)的控制输出端，(11)的数据输入端连接(12)的电动机驱动数据信号输出端，(2)的检测信号输出端通过(3)、(4)、(5)、(6)与(12)的数据输入端相连接，(1)的触点输出端子连接(12)的触点状态检测输入端，(7)的检测信号输出端通过(8)、(9)与(12)的数据输入输出端相连接，(12)通过(13)与(14)的数据输入输出端相连接。本发明能检测出继电器的电磁系统静态吸力、反力以及合力的特性曲线，直接对所有关键点进行连续测量。
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公开(公告)号：CN119623178A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411681787.2
申请日：2024-11-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/27 , G06F17/16 , G06F111/06
Abstract: 本发明公开了一种同时考虑性能指标与质量一致性的电磁继电器多目标参数优化设计方法，所述方法包括如下步骤：步骤1、随机抽样确定决策参数组合样本；步骤2、有限元仿真方法计算参数组合样本吸力；步骤3、建立多模型堆叠的吸力快速计算模型；步骤4、均匀抽样与引入正态分布权重的吸力标准差计算；步骤5、目标函数建立与优化问题降维；步骤6、Pareto最优解集求解与最优参数组合筛选。与其他参数优化方法不同，本发明建立了吸力的快速计算模型，考虑了实际工程应用时的约束情况，真正地逼近了最优参数组合，做到了减小吸力波动的同时优化了吸力均值，具有整体优化效果好、结果客观、时间和人力成本低的优势。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116502391B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202211599308.3
申请日：2022-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/04 , G06F119/08
Abstract: 基于误差函数模型的寿命预测方法，涉及可靠性试验技术领域，本发明的目的是为了解决现有预测产品寿命的方式存在预测准确性差的问题。基于统计力学建立误差函数模型，获得产品的四个历史温度和四个历史温度对应的四个历史寿命，将每个历史温度和对应的历史寿命带入一个误差函数模型中，得到由带入后的4个误差函数模型组成的模型组，解析模型组，获得#imgabs0#b四个参数值；将#imgabs1#b四个参数值带入一个误差函数模型中，得到待输出的误差函数模型，向待输出的误差函数模型中输入产品的当前的温度，预测出当前温度下产品的寿命。它用于预测产品寿命。
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公开(公告)号：CN119377549A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411447251.4
申请日：2024-10-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/18 , G06F18/214 , G06F30/23 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种基于吸反力配合的电磁继电器吸合电压免调率计算方法，所述方法如下：步骤1、零件尺寸、装配参数分布确定与吸合过程关键位置定义；步骤2、吸合过程关键位置电磁吸力单因素分析与关键影响因素筛选；步骤3、各关键位置分布中单点位置取值下吸反力分布求解与匹配不合格率计算；步骤4、各关键位置分布影响下吸反力匹配不合格率计算；步骤5、各关键位置分布的综合影响下的继电器动作电压免调率计算。本发明以指标要求吸合电压为基准，综合考虑了该电压下、各关键参数分布影响下、各吸合过程衔铁关键位置下的吸反力分布的匹配合格情况，从而计算获得吸合电压免调率，能够对电磁继电器的吸合电压免调率实现准确、高效的计算。
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公开(公告)号：CN113611576B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202111050627.4
申请日：2021-09-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种单永磁复合衔铁电磁机构，属于继电器技术领域。复合衔铁的中部与转轴连接；转轴以及复合衔铁设置在轭铁架的中部，轭铁架的相对内壁分别与对应的铁心的一端连接，两个铁心设置在转轴以及复合衔铁的两侧，复合衔铁的两端与轭铁架配合设置；每个铁心另一端的外侧均套装有线圈骨架，并两个铁心设置在底板上，每个线圈骨架的外侧均缠绕有线圈，两个线圈串联设置。本发明有效提升了双稳态电磁机构的电磁效率，进一步降低了含永磁继电器的吸合电压与驱动功耗，提高永磁体的利用率，减小继电器体积与重量，可应用于含永磁继电器等多种电磁系统，并最终达到提高继电器灵敏度的用户需求。
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公开(公告)号：CN115831292A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211636912.9
申请日：2022-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G16C60/00 , G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/08 , G06F119/12
Abstract: 基于考虑温度的应力松弛模型的预测方法，金属材料性能领域，为了解决现有应力松弛模型预测出的金属材料的应力不准确的问题，建立考虑温度的应力松弛模型，获得j，k，l，b六个参数值；将j，k，l，b六个参数值带入一个考虑温度的应力松弛模型中，得到待输出的应力松弛模型，向待输出的应力松弛模型中输入金属材料的当前温度，预测出当前温度下金属材料的应力。它用于预测金属材料的应力。
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公开(公告)号：CN107766655B
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN201710994392.1
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明提供一种电磁继电器永磁贮存退化表征参数的确定方法，包括如下步骤：实现电磁继电器动态特性仿真；建立永磁的贮存退化模型；将试验的数据采集时刻代入永磁贮存退化模型中，得到所对应的永磁贮存退化状态；按照各时刻永磁贮存退化状态修改电磁系统仿真模型相应参数，实现永磁贮存退化的注入；分别对注入了永磁不同贮存退化程度的电磁继电器仿真模型进行动态特性仿真；对所述外特性仿真退化数据进行拟合，并分别构建各外特性的贮存退化模型；对所构建的外特性贮存退化模型进行趋势分析；确定所选定的输出特性是否为电磁继电器永磁贮存退化表征参数。本发明解决了电磁继电器在贮存过程中无法直接监测其永磁退化程度的问题。
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