-
公开(公告)号：CN111461145B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202010244313.7
申请日：2020-03-31
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/766 , G06V10/80 , G06V10/44 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/047
Abstract: 本发明提供一种基于卷积神经网络进行的目标检测方法，包括：提取特征图并设置若干不同的预设框；将所述预设框进行回归以调整其位置和大小；基于所述回归后的预设框提取其对应的局部卷积特征；将所述局部卷积特征输入卷积预测器进行分类和回归，获得目标的边界框位置和目标的类别，其中，所述卷积预测器是通过将所述预设框进行分类并选择正例预设框来训练获得。
-
公开(公告)号：CN114742199A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210219644.4
申请日：2022-03-08
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明提出一种基于注意力机制的神经网络宏架构搜索方法和系统，包括：获取神经网络架构的搜索空间，在该搜索空间中构建宏架构超网络，并在该宏架构超网络中每一层的所有候选模块的输出端添加注意力模块，得到待搜索网络；获取已标记标签的目标数据集，划分该目标数据集为训练集和验证集，基于该训练集训练该待搜索网络，得到中间搜索网络，将该验证集输入该中间搜索网络，通过中间搜索网络中每层的注意力模块，得到每层中各候选模块的注意力权重；通过仅保留该中间搜索网络中每层除注意力权重最大的候选模块，得到该目标数据集的搜索结果。由此本发明能够增加搜索到的神经网络宏网络的多样性，并提升网络结构的性能。
-
公开(公告)号：CN109583240B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201811234951.X
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F21/76
Abstract: 本发明涉及一种集成电路测试方法和系统，包括：获取设计电路，并根据该设计电路具有的路径，生成调用该路径的多条测试向量，将该测试向量输入至该设计电路，得到该设计电路在预设条件下电路运行的第一错误率；根据该设计电路，得到待测芯片，将该测试向量输入至该待测芯片，得到该测试向量在该预设条件下电路运行的第二错误率；判断该第二错误率是否大于该第一错误率一定阈值，若是，则判定该待测芯片存在硬件木马电路，否则认为该待测芯片为合格芯片。
-
公开(公告)号：CN109581338B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201910030941.2
申请日：2019-01-14
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明公开了一种标定多激光雷达外参数的系统及其方法，该系统包括：数据采集模块，用于通过待标定系统中的激光雷达对标定板进行扫描，获得每一个激光雷达对标定板的扫描结果；坐标变换模块，用于根据扫描结果计算各激光雷达坐标系与标定板坐标系之间的坐标变换关系，并根据该坐标变换关系计算出任意两个激光雷达坐标系之间的坐标变换关系；及坐标变换整合模块，用于对得到的任意两个激光雷达坐标系之间的坐标变换关系进行整合，得到该待标定系统的外参数。该系统获得空间标定点容易，求解过程简单、快速。
-
公开(公告)号：CN109581183A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811234934.6
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种集成电路的安全测试方法与结构。本发明包括四种工作模式：注册模式，用于获取物理不可克隆函数的所有激励响应对；认证模式，用于验证测试者的权限；测试模式，用于测试集成电路；功能模式，用于电路正常功能运行。本发明还包括三种模块：Bias PUF组模块，用于对测试者的权限进行认证；Multiplexer模块，控制扫描链上的数据流，减少对测试时间的影响；Mask模块，用于保护扫描链上的关键数据不被泄露。本发明能够在不牺牲可测试性的前提下保证扫描链的安全性。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109557449A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811235172.1
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括：利用动静态协同分析，计算和校准逻辑值为0或为1的概率；根据所计算概率，从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径；为所选路径生成测试向量，判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高了概率计算精度，进而有效寻找出集成电路中的难测路径，为保证集成电路测试覆盖率提供重要支撑。
-
公开(公告)号：CN107204010A
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201710293908.X
申请日：2017-04-28
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及单目图像深度估计方法和系统，包括：构建仅具有特征摄取部分的CNN模型架构，作为特征摄取架构；按所需深度图的分辨率设置多个全连接层；将全连接层连接至特征摄取架构，组成初级估计网络模型；使用训练数据集训练初级估计网络模型，并提取初级估计网络模型各层的特征图；计算特征图和其相应深度图的平均相对局部几何结构误差，并根据平均相对局部几何结构误差生成最终估计模型；使用训练数据集并结合损失函数对最终估计模型进行训练，并用训练完成后的最终估计模型对输入图像进行深度预测。本发明根据平均相对局部几何结构误差并基于损失函数训练CNN，进而提高CNN回归深度图像的精度与清晰度，生成的深度图保留了更多场景的几何结构特征。
-
公开(公告)号：CN104346234B
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201310345355.X
申请日：2013-08-09
Applicant: 华为技术有限公司 , 中国科学院计算技术研究所
CPC classification number: G06F11/008 , G06F11/1004
Abstract: 本发明实施例提供一种内存访问的方法、设备及系统，提供层次化的，灵活的内存靠性级别的设定方法，实现不同运行对象类型、不同可靠性级别的内存访问机制。本发明实施例提供的方法包括：内存设备接收处理器发送的所述处理器的运行对象的可靠性级别信息；根据所述运行对象的可靠性级别信息建立第一映射关系和第二映射关系；接收所述处理器发送的访问请求；根据所述访问请求和所述第一映射关系对所述运行对象的数据进行访问，以及根据所述访问请求和所述第二映射关系对所述运行对象的容错编码进行访问。
-
公开(公告)号：CN101719087B
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200910241575.1
申请日：2009-11-26
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明涉及微处理器可靠性评测方法及其系统，方法包括：步骤1，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，确定故障模型的关键参数；步骤2，根据确定的故障类型，从微处理器中选择硬件结构；步骤3，在微处理器中运行测试程序，根据关键参数运用故障模型进行故障模拟，确定测试程序执行过程中硬件结构包含的体系结构正确执行位或关键时间区域；步骤4，根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域，判断发生在硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果；步骤5，根据判断结果计算测试程序执行过程中，待分析的硬件结构中的间歇故障脆弱因子，对微处理器进行可靠性评测。本发明能够评测微处理器中不同结构发生的间歇故障引起程序执行出错的概率。
-
公开(公告)号：CN101710359B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200910237064.2
申请日：2009-11-03
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种故障诊断系统及方法。该故障诊断方法，用于诊断出数字集成电路中的故障位置，包括：步骤1，为每个失效向量建立一个能够解释该失效向量的故障元组等价树；步骤2，为故障元组等价树中的潜在故障打分；步骤3，依据故障元组等价树中的潜在故障打分结果，从各潜在故障中选择最有可能是发生故障的位置加入最终候选故障位置集合；步骤4，从故障元组等价树中删除与最终候选故障位置集合中的故障等价的或可以被其解释的故障元组。本发明在没有任何面积和布线开销，不需要加载新的诊断向量的情况下对发生多个任意故障模型的组合逻辑故障进行诊断，并且不改变传统的组合逻辑故障诊断流程。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
118
records
(took 0.036 seconds)
