光子晶体波导偏振分束器
    71.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101251627A

    公开(公告)日:2008-08-27

    申请号:CN200810035323.9

    申请日:2008-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种光子晶体波导偏振分束器。它是在二维碲介电柱光子晶体中引入线缺陷形成耦合波导的结构,利用TE光和TM光的波导耦合长度不同实现TE光和TM光的分光。采用二维光子晶体波导实现偏振分束器的特点是:首先,与现有各类偏振分束器件相比,它可以实现高偏振度、高消光比的偏振分光。其次,器件的尺寸可以做得很小,并与现有的光子晶体器件在结构上兼容,满足集成化的要求。第三,结构非常灵活,可以通过调节耦合区长度或晶格常数,实现波长在3.5到35μm范围内的任意一波长的偏振分光。本发明还介绍了该偏振分束器的设计思路、具体的结构设计以及在此设计思想下所获得的偏振分束器的光学性能等。

    一种检测碲镉汞薄膜光伏器件有害界面电荷的方法

    公开(公告)号:CN101221203A

    公开(公告)日:2008-07-16

    申请号:CN200710172700.9

    申请日:2007-12-21

    Abstract: 本发明公开了一种检测碲镉汞薄膜光伏器件有害界面电荷的方法,该方法是利用一束光子能量大于被测器件带隙的超快脉冲激光背照射HgCdTe器件,利用数字示波器测量光伏器件两电极间的瞬态光伏信号与时间的演化关系,根据外电路测量到的界面电荷诱导电场和pn结电场形成的光生电动势在时间维度上被分离,通过对界面电荷诱导电场形成的光生电动势和有冶金pn结内建电场形成的光生电动势的指认,可以较方便地获取对器件光电响应有很大影响的界面电荷的信息。这是一种方便、快速、无损伤的鉴别方法,对于改善器件性能,提高器件稳定性,以及指导人们探索新型器件都有着十分重要的意义。

    氮化镓基发光二极管指示笔

    公开(公告)号:CN100359365C

    公开(公告)日:2008-01-02

    申请号:CN200510110631.X

    申请日:2005-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种氮化镓基发光二极管指示笔,该指示笔包括:GaN基发光二极管,在GaN基发光二极管的发光面上置有方向选择性很高、带通很窄的窄带滤光膜层,在滤光膜层的前面置有透镜。本发明的优点是:发光二极管发出的光,经过窄带滤光膜层使得只有近乎正入射的光才能透射出来,同时,窄带滤光片本身只能透过很窄波长范围的光,从而使得最终发出的光单色性很好,与激光非常接近,然后再加上一个透镜,使光束在使用的范围内光斑都很小,而光束本身并非是相干的激光,亮度均匀,不会像激光笔那样出现很多让人眼感觉不适的闪光点,因此可以替代激光笔作为很好的指示笔用。

    具有多腔结构的窄带滤光片列阵

    公开(公告)号:CN100334471C

    公开(公告)日:2007-08-29

    申请号:CN200510029389.3

    申请日:2005-09-02

    Abstract: 本发明公开了一种具有多腔结构的窄带滤光片列阵,它是利用多个F-P结构膜系来形成多腔,通过组合镀膜或组合刻蚀方法来形成谐振腔层列阵,以达到控制每个微型窄带滤光片的带通峰位,从而实现不同带通峰位窄带滤光片在同一块基片上集成的目的。这种结构适用于各个波段多腔窄带滤光片列阵。这种结构的优点是滤光片的带通矩形度好,易于多通带集成,可以更多地获取各光谱通带内的信号、同时更好地抑制掉通带外的噪声,大大提高信噪比,能够满足工程化和实用化需要。

    被动式饱和箝位输出光强连续可调的碲镉汞光限幅器

    公开(公告)号:CN1996685A

    公开(公告)日:2007-07-11

    申请号:CN200610148067.5

    申请日:2006-12-27

    Abstract: 本发明公开了一种被动式饱和箝位输出光强连续可调的碲镉汞光限幅器,该光学限幅器包括:一对分布布拉格反射镜形成的F-P光学谐振腔和置于F-P光学谐振腔中间的作为吸收层的HgCdTe光电二极管及施加于HgCdTe光电二极管的直流稳压电源。本发明的优点是:1.由于吸收层采用HgCdTe光电二极管,通过控制施加于HgCdTe光电二极管的反向偏压来达到双光子吸收系数的人为调控;通过F-P光学谐振腔来增大双光子吸收材料的等效吸收长度,从而实现在一定范围内对大功率激光器的输出光强精确连续可调和饱和箝位。2.由于吸收波长可通过HgCdTe材料中Cd组分来调节,因此,这种光学限幅器可以在整个红外光学波段都能实现光学限幅要求。

    一种测量半导体纳米结构光电性能的设备和方法

    公开(公告)号:CN1793874A

    公开(公告)日:2006-06-28

    申请号:CN200510111477.8

    申请日:2005-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种测量半导体纳米结构光电性能的设备和方法,该设备包括:扫描探针显微镜、脉冲激光器、透镜和光电信号耦合测量部件。该方法是:利用扫描探针显微系统精确的空间定位和控制能力,使用导电针尖作为纳米电极,并采用背面入射的方法将脉冲激光引入样品待测区域,在对样品实施结构扫描的同时获得特定纳米区域的光激发电学特性。本发明的优点是:利用扫描探针显微镜的导电针尖作为高精度、高稳定性的移动纳米电极,可以对样品表面的微观区域进行光电响应的二维成像,像点间的信息具有很高的可比性,有助于对半导体光电功能材料的均匀性实施高分辨率的检测。

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