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公开(公告)号:CN102898943A
公开(公告)日:2013-01-30
申请号:CN201210265400.6
申请日:2012-07-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: C09D183/06 , C09D183/12 , C09D5/00
CPC classification number: C09D183/04 , C09D5/1675 , G06F3/03547 , G06F3/0412 , G06F2203/04103
Abstract: 本发明公开了一种涂覆组合物、抗指印薄膜及电子产品。涂覆组合物包括硅烷低聚物,硅烷低聚物具有:R1基团,由作为式1的[RaO-(CH2CH2O)p-Rb-]表示,其中,Ra选自于由氢和具有1至3个碳原子的烷基组成的组,Rb选自于由具有5至20个碳原子的烷基、具有5至20个碳原子的烯基、具有5至20个碳原子的炔基、具有5至20个碳原子的芳基、具有6至20个碳原子的芳烷基、具有5至20个碳原子的环烷基和具有5至20个碳原子的杂烷基组成的组,p是1至12的整数;R2基团,由作为式2的(Rc)q表示,其中,Rc是具有3至20个碳原子的环烷基,q是1至3的整数。
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公开(公告)号:CN1467729B
公开(公告)日:2010-05-12
申请号:CN03140958.X
申请日:2003-06-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1426 , G11B7/0062 , G11B20/10009
Abstract: 提供一种用于在光学记录介质上记录数据的方法和设备。在该方法中,使用记录波形形成一个标记或一个空间,该记录波形包括DC记录模式,以及其中含有多脉冲的擦除模式。根据该方法,能够防止标记的失真和改善标记的形状,籍此增强记录/再现特性。
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公开(公告)号:CN101238513A
公开(公告)日:2008-08-06
申请号:CN200680028818.8
申请日:2006-07-28
Applicant: 独立行政法人产业技术总合研究所 , 三星电子株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/252 , G11B7/00455 , G11B7/24
Abstract: 在现有的超分辨率再生方法中通过对光盘照射的激光的功率,其光斑的大小变化,所以需要对每个记录图形的大小决定用于超分辨率再生的最佳的激光功率。本发明的光盘主要由记录层和粘性变化的材料层构成。当照射用于再生记录层上记录的信息的激光时,粘性变化的材料层的结晶性薄膜的一部分软化,由此该软化部分的光学常数变化,在软化部的边界面中产生光学常数的不连续面,在光斑内形成环状的特殊区域。由于该环状的特殊区域,可以对分辨率极限以下大小的记录图形通过与其以上大小的记录图形相同的信号强度进行再生。
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公开(公告)号:CN1993750A
公开(公告)日:2007-07-04
申请号:CN200580026119.5
申请日:2005-08-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/257 , G11B2007/24304 , G11B2007/24308 , G11B2007/2432
Abstract: 本发明公开了一种超分辨率信息存储介质、向该介质记录数据的方法和装置和/或从该介质再现数据的方法和装置,该超分辨率信息存储介质被设计为能够再现小于入射束的分辨率极限的信息记录标记,并包括:基底;记录层,形成在基底上,并具有由于入射束聚焦的部分的热分解而形成的记录标记;超分辨率层,利用熔点低于记录层的热分解温度的材料形成在记录层上。该超分辨率信息存储介质具有由熔点低于记录层的热分解温度的材料制成的超分辨率层,使得记录层不因采用读出束的重复的照射而受到不利的影响,从而提供了改进的读出性能。
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公开(公告)号:CN1771545A
公开(公告)日:2006-05-10
申请号:CN200580000264.6
申请日:2005-02-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/252 , B82Y10/00 , G11B7/00454 , G11B7/24 , G11B7/2531 , G11B7/2533 , G11B7/2534 , G11B2007/24308 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 本发明提供了一种超解析信息存储介质和使再现信号稳定的方法以及用于将数据记录在超解析信息存储介质上和/或从超解析信息存储介质再现数据的设备。在该信息存储介质上信息被记录为小于入射光束的分辨率的标记,该信息存储介质包括:基底;超解析层,形成在基底上并在入射光束聚焦的部分上产生热反应;相变层,形成在超解析层的上方或下方,并在再现记录标记前结晶。
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公开(公告)号:CN1771540A
公开(公告)日:2006-05-10
申请号:CN200580000173.2
申请日:2005-01-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/005
CPC classification number: G11B7/1267
Abstract: 本发明提供了一种用于通过积极地检测根据超分辨率信息存储介质(SRISM)的反射率而变化的阈域,使用实际上适于再现的适当实际再现功率来再现记录在SRISM中的信息的方法和设备。从SRISM再现信息的方法包括:将光束发射到SRISM上,同时改变激光光束的再现功率,接收被SRISM反射的光束,并从接收的光束检测再现信号电平的变化;基于再现信号电平的变化,计算再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变处的参考再现功率;和基于参考再现功率设置实际再现功率。用于从SRISM再现信息的设备包括光学拾取单元和信号处理单元。该光学拾取单元包括光源和光电检测器,其中光源将具有一定范围的功率的光束发射到SRISM上,光电检测器接收从SRISM反射的光束,并从接收的光束检测再现信号;该信号处理单元根据被光源发射到SRISM上的光束的再现功率的变化来检测再现信号电平的变化,并基于再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变处的参考再现功率设置从光源发射的光束的实际再现功率。
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公开(公告)号:CN1248763A
公开(公告)日:2000-03-29
申请号:CN99105101.7
申请日:1999-04-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/00
CPC classification number: G11B7/252 , B82Y10/00 , G11B7/122 , G11B7/1387 , G11B7/24 , G11B7/2533 , G11B7/2534 , G11B7/254 , G11B7/2542 , G11B2007/13725 , G11B2007/25706 , G11B2007/2571 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716
Abstract: 一种利用光学拾取器对光学存储介质写或读信息的光学数据存储系统,该光学拾取器包括产生近场效应的固态浸没光学系统或透镜。光学存储介质的记录层设置在面向固态浸没光学系统或透镜的透光层表面的相对面上。透光层厚度大于一个所用光波长。在固态浸没光学系统或透镜和透光层的表面之间的间隙小于一个所用光波长。因此,空气间隙内和它与记录层之间的存储介质内反射的光束不会对记录层反射的光束起噪声作用。
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公开(公告)号:CN102197428A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201080003085.9
申请日:2010-07-01
Applicant: 索尼公司 , 松下电器产业株式会社 , TDK株式会社 , 日立民用电子股份有限公司 , 三星电子股份有限公司
IPC: G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24038
Abstract: 在四层盘中设有适当的内区块布局。在每个记录层上的每个内区块(内周侧区域)中设有测试区域。当在四个测试区域之中,外周侧的两个测试区域形成第一配对并且内周侧的两个测试区域形成第二配对时,来自第一配对的测试区域和来自第二配对的测试区域被部署成在层方向上不相互重叠。构成第一配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向,并且这些测试区域被部署成使得随后要使用的区域不容易相互重叠。构成第二配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向,这是与第一配对的测试区域消耗方向相反的方向,并且这些测试区域被部署成使得随后要使用的区域不容易相互重叠。
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公开(公告)号:CN102197427A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201080003083.X
申请日:2010-07-01
Applicant: 索尼公司 , 松下电器产业株式会社 , TDK株式会社 , 日立民用电子股份有限公司 , 三星电子股份有限公司
IPC: G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1217 , G11B2007/0013 , G11B2020/1275 , G11B2220/235 , G11B2220/2541
Abstract: 在由三层或更多层构成的光盘中设有适当的内区块布局。在每个记录层上的每个内区块(内周侧区域)中设有测试区域。记录层的测试区域被部署成使得测试区域在层方向上不相互重叠。没有多于一个管理信息记录/再现区域在比记录层的测试区域更朝着激光入射表面的一侧与测试区域在层方向上重叠。另外,管理信息记录/再现区域被部署管理信息记录/再现区域不在盘基板侧在层方向上与记录层的测试区域重叠。
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