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公开(公告)号：CN103884704B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410086366.5
申请日：2014-03-10
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种分光瞳激光共焦布里渊?拉曼光谱测量方法及装置，属于显微光谱成像技术领域。该装置包括产生激发光束的光源系统、测量物镜、照明光瞳、收集光瞳、二向色分光装置、分光镜、拉曼光谱探测装置、布里渊光谱探测装置、分光瞳激光共焦探测装置、三维扫描装置、位移传感器以及数据处理单元；通过利用共焦拉曼光谱探测中遗弃的瑞利散射光构建分光瞳共焦显微成像系统实现样品三维几何位置的高分辨成像，通过探测共焦拉曼光谱探测中遗弃的布里渊散射光来获得物质基本性质及多种交叉效应实现材料应力、弹性参数、密度等测量；利用共焦拉曼光谱探测技术和共焦布里渊光谱探测技术优势互补，实现材料多性能参数的综合测量与解耦。
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公开(公告)号：CN103884491B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410086469.1
申请日：2014-03-10
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种扫描相机摆镜二维动态角测量校准方法与装置，可用于对扫描相机摆镜参数进行实时测量与校准。该方法与装置利用无限远目标发生系统生成无限远目标经过扫描相机摆镜为被测扫描相机提供目标源进行探测，利用二维动态角测量系统对扫描相机摆镜的摆角进行二维实时测量，同步采集系统对被测扫描相机和二维动态角测量系统的数据实时同步采集，并利用二维动态角测量系统的数据对扫描相机摆镜进行校准。本发明具有高速度、大范围和非接触等优点，将为扫描相机摆镜参数测量和校准提供一种有效的解决途径。
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公开(公告)号：CN103123251B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201010121848.1
申请日：2010-03-11
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种差动共焦内调焦法透镜光轴及厚度测量方法与装置。该方法借助内调焦物镜，使用自准直法，对透镜光轴进行高精度调整，使用差动共焦响应曲线过绝对零点时差动共焦光锥顶点与被测透镜表面顶点重合的特性，实现透镜表面顶点的精确定位，并获取差动共焦光锥顶点两次定位时出射光的数值孔径角，利用光线追迹公式计算出透镜中心厚度。同时在测量光路中引入环形光瞳，削减了像差对测量结果的影响。本发明首次将差动共焦与内调焦融合，提出了差动共焦内调焦法透镜光轴及厚度测量原理，具有测量速度快、精度高、灵敏度高、结构简单及工作距离长的优点，可用于透镜光轴及中心厚度的非接触高精度测量。
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公开(公告)号：CN105067569A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510424292.6
申请日：2015-07-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种分光瞳激光共焦LIBS、拉曼光谱-质谱成像方法与装置，属于共焦显微成像、光谱成像和质谱成像技术领域。本发明将分光瞳共焦成像与光谱、质谱探测技术结合，利用经超分辨技术处理的分光瞳共焦显微镜的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对样品微区带电分子、原子等进行质谱探测，利用光谱探测系统对分光瞳共焦显微系统聚焦光斑激发光谱(拉曼光谱、诱导击穿光谱)进行微区光谱探测，利用激光多谱探测的优势互补和结构融合实现样品微区完整组分信息与形态参数的高空间分辨和高灵敏成像与探测。本发明可为生物、材料等领域物质组分及形态成像探测提供一条全新的技术途径。
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公开(公告)号：CN104931481A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510350428.3
申请日：2015-06-23
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光谱测量及成像技术领域，涉及一种激光双轴差动共焦诱导击穿光谱-拉曼光谱成像探测方法及装置，可用于样品的微区组分与形态参数的高空间分辨成像与探测。该方法与装置利用激光诱导击穿光谱探测样品组分的元素组成信息；利用拉曼光谱探测样品的化学键与分子结构信息；利用双轴差动共焦技术探测样品表面形貌信息，双轴差动结构具有大视场、大工作距的优势，可对样品准确定焦，保证照明光斑最小，提升光谱激发效率；三者联用可实现结构共用和功能互补，实现样品的形貌和组分信息的综合测量。本发明具有高空间分辨，物质组分信息丰富和测量聚焦光斑尺寸可控等优点，在矿产、冶金、空间探测、环境监测、生物医疗等领域有广泛的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104697967A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201510116980.6
申请日：2015-03-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种高空间分辨激光双轴共焦光谱-质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将双轴共焦成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合，利用经超分辨技术处理的双轴共焦显微镜的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对双轴共焦显微系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像，利用光谱探测系统对双轴共焦显微系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体发射光谱信息进行光谱成像，然后再通过探测数据信息的融合与比对实现被测样品微区高空间分辨和高灵敏形态与组分的成像与探测。本发明可为生物质谱高分辨成像提供一个全新的有效技术途径。
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公开(公告)号：CN104614349A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510098649.6
申请日：2015-03-03
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/63
Abstract: 本发明涉及一种反射式分光瞳共焦-光声显微成像装置与方法，其基于具有大工作距、高轴向分辨力和抗杂散光干扰的分光瞳共焦显微成像系统，将反射式分光瞳共焦显微成像系统与光声成像系统的结构与功能有机融合，利用反射式分光瞳共焦显微成像系统探测生物样品的空间结构信息，利用光声显微成像系统探测生物样品的功能信息，继而实现生物样品空间结构信息和功能信息的同时探测，以期对生物活体进行原位、无创的实时成像。分光瞳共焦成像技术的采用使分光瞳共焦光声显微成像装置的轴向分辨力和工作距得以有效兼顾，可抑制高散射样品焦面杂散光对成像质量的干扰，系统信噪比高，便于分光瞳共焦-光声显微成像装置的集成化和手持式设计。
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公开(公告)号：CN104568390A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201510015231.4
申请日：2015-01-12
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学成像与检测技术领域，涉及一种双边错位差动共焦测量方法。该方法通过对共焦轴向特性曲线自身两侧边数据组的错位差动相减处理，来准确求得共焦系统特性曲线的极值点位置。本发明由于利用了共焦特性曲线靠近半高宽位置附近对轴向位移非常灵敏的两段数据来进行差动相减处理，因而由该数据段推算出的共焦特性曲线的极值点位置与现有共焦特性曲线顶部拟合方法相比灵敏度大幅提高，其结果在不改变共焦显微系统结构的条件下，可显著改善现有共焦显微系统的轴向分辨力和信噪比等。本发明将为共焦成像/检测领域提供一种新的技术途径。
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公开(公告)号：CN104568389A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201510015209.X
申请日：2015-01-12
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学成像与检测技术领域，涉及一种双边错位差动共焦元件参数测量方法。该方法通过对包括曲率半径、透镜厚度、折射率、焦距与间隔的各个尺寸参数起点和终点测得的共焦轴向特性数据组两侧边的错位差动相减处理，来提高各尺寸参数起点和终点的定位精度，进而提高曲率半径、透镜厚度、折射率、焦距与间隔等光学元件的测量精度。本发明由于利用了共焦特性曲线靠近半高宽位置附近对轴向位移非常灵敏的两段数据来进行错位差动相减处理，因而由该数据段推算出的共焦特性曲线的极值点位置要比现有共焦特性曲线顶部拟合方法灵敏和准确，其结果在不改变共焦元件参数系统结构的条件下，可显著改善系统的轴向定焦能力和信噪比等。
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公开(公告)号：CN104567674A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410837045.4
申请日：2014-12-29
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明属于光学成像与检测技术领域，涉及一种双边拟合的共焦测量方法。该方法分别利用共焦系统特性曲线自身两边的一段数据，各自拟合出曲线方程并差动相减得到新的曲线方程，通过求解该新曲线方程的解，来得到共焦系统特性曲线的极值点位置。本发明由于利用了共焦特性曲线靠近半高宽位置附近对轴向位移非常灵敏的两段数据来进行拟合，因而由该数据段推算出的共焦显微特性曲线的极值点位置与现有共焦特性曲线顶部拟合方法相比灵敏度大幅提高，其更适应于实测中的非对称共焦特性曲线的处理。本发明将为共焦成像/检测领域提供一种全新的测量处理方法。
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