一种集成电路的安全测试方法与系统

    公开(公告)号:CN109581183B

    公开(公告)日:2020-07-10

    申请号:CN201811234934.6

    申请日:2018-10-23

    Abstract: 本发明涉及一种集成电路的安全测试方法与结构。本发明包括四种工作模式:注册模式,用于获取物理不可克隆函数的所有激励响应对;认证模式,用于验证测试者的权限;测试模式,用于测试集成电路;功能模式,用于电路正常功能运行。本发明还包括三种模块:Bias PUF组模块,用于对测试者的权限进行认证;Multiplexer模块,控制扫描链上的数据流,减少对测试时间的影响;Mask模块,用于保护扫描链上的关键数据不被泄露。本发明能够在不牺牲可测试性的前提下保证扫描链的安全性。

    相机与激光雷达组合传感器的外参数标定方法及系统

    公开(公告)号:CN110021046A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201910164594.2

    申请日:2019-03-05

    Inventor: 刘世策 胡瑜

    Abstract: 本发明涉及一种相机与激光雷达组合传感器的外参数标定方法,包括:将该组合传感器对准一个标定装置,进行一次扫描,获得该标定装置在激光雷达坐标系中的第一坐标、在图像坐标系中的第二坐标和在相机坐标系中的第三坐标;通过该第一坐标和该第二坐标,获取标定装置坐标系至该激光雷达坐标系的第一变换矩阵;通过第三坐标和该第二坐标,获取该相机坐标系至该标定装置坐标系的第二变换矩阵;通过该第一变换矩阵和该第二变换矩阵,获得该相机坐标系至该激光雷达坐标系的外参数矩阵。本发明操作简便、计算简单,标定设备易获得,提高了结果的精度和方法的可优化性。

    站点密码生成方法、系统及密码管理器

    公开(公告)号:CN109190358A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201811086921.9

    申请日:2018-09-18

    Abstract: 本发明提供一种站点密码生成方法、系统及密码管理器,其中站点密码生成方法包括:步骤1)根据包括用户密码的信息构建第一激励数据;其中,所述用户密码用于由用户在应用程序的客户端上登录用户账户,所述第一激励数据为二进制字符串;步骤2)将所述第一激励数据输入PUF并且从所述PUF得到相应的第一响应数据;其中,所述第一响应数据为二进制字符串;以及,步骤3)将所述第一响应数据转换为站点密码。本发明提供的密码生成方法、系统及密码管理器能够抵抗离线攻击和单点故障,同时提高了生成站点密码的效率。

    抗建模攻击的强物理不可克隆函数装置及其实现方法

    公开(公告)号:CN105978694B

    公开(公告)日:2018-12-04

    申请号:CN201610282695.6

    申请日:2016-04-29

    Abstract: 本发明适用于信息安全及集成电路技术领域,提供了一种抗建模攻击的强物理不可克隆函数装置,包括:布尔混淆模块,用于将输入激励经多个弱物理不可克隆函数及布尔逻辑元件再处理后输出响应,实现布尔逻辑关系不可预测;激励划分模块,用于将输入激励划分为有效激励与无效激励;攻击检测模块,用于检测所述无效激励识别出建模攻击,处理所述无效激励和所述建模攻击;响应计算模块,用于通过强物理不可克隆函数装置对所述有效激励进行响应计算。还提供一种基于抗建模攻击的强物理不可克隆函数装置的实现方法。借此,本发明保证强物理不可克隆函数装置随机性与稳定性的同时,能够主动检测并被动防御严重威胁强物理不可克隆函数装置安全的建模攻击。

    一种数据存储方法及装置
    57.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104182292A

    公开(公告)日:2014-12-03

    申请号:CN201310190526.6

    申请日:2013-05-21

    Abstract: 本发明实施例公开了一种数据存储方法及装置,涉及计算机领域,实现了容错编码强度的动态调节。具体方案为:根据数据簇的容错能力和/或数据簇的工作场景选取容错编码类型;其中,数据簇是指受同一容错强度的容错编码保护的数据集合;根据容错编码类型获取第一数据的校验码;其中,第一数据为数据簇中的任意一个数据;获取校验码存储地址;其中,校验码存储地址为存储第一数据的校验码地址;根据第一数据的物理地址将第一数据写入存储系统;根据校验码存储地址将第一数据的校验码写入存储系统。本发明用于数据的存储过程中。

    一种适用于FPGA的可靠性评估方法和装置

    公开(公告)号:CN103646129A

    公开(公告)日:2014-03-19

    申请号:CN201310594897.0

    申请日:2013-11-22

    Abstract: 本发明提供一种适用于FPGA的可靠性评估方法和装置,包括:对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的敏化输入向量的集合,所述敏化输入向量是可激活所述待评估的线路故障的输入向量,所述线路故障为线路上的固定v故障,v为逻辑值。进一步地,所述可靠性评估方法还可以包括:对于每个待评估的线路故障,识别它所对应的失效输入向量的集合,所述失效输入向量是故障能够传播到电路输出,造成错误输出逻辑值的输入向量。其中,采用逻辑值X代表0或1,精简输入向量。本发明能够快速准确地得出FPGA中各种线路故障被激活的概率。进一步地,本发明能够快速准确地得出FPGA中各种线路故障的故障传播概率,进而快速准确地对FPGA电路进行可靠性评估。

    一种容错存储器及其纠错容错方法

    公开(公告)号:CN101414489B

    公开(公告)日:2012-09-05

    申请号:CN200710176138.7

    申请日:2007-10-19

    Abstract: 本发明涉及一种容错存储器及其纠错容错方法,其中的容错存储器包括:第1层存储器阵列、第1层译码逻辑、公有冗余行、公有冗余列和第1层存储器纠错容错电路,所述第1层存储器阵列由若干个第0层存储器组成;所述第0层存储器包括第0层存储器阵列、第0层译码逻辑、私有冗余行、私有冗余列和第0层存储器纠错容错电路;所述第0层存储器阵列由若干个存储器字组成。其纠错容错方法是首先利用第0层的私有冗余行和冗余列对故障进行替换,如无法替换,则利用第1层的公有冗余行和冗余列对故障进行替换。本发明的优点包括:降低了存储器对测试和修复仪器的依赖,降低了存储器的成本;本发明具有良好的修复效率,提高了存储器的成品率。

    SRAM型FPGA的低功耗设计方法

    公开(公告)号:CN102609563A

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN201210007365.8

    申请日:2012-01-11

    Abstract: 本发明提供一种SRAM型FPGA的低功耗设计方法,包括:步骤一、根据FPGA结构及电路信息,建立漏电功耗信息图;步骤二、在布线阶段对各MUX所对应的漏电功耗进行评估,得到漏电功耗;步骤三、将所述漏电功耗引入布线代价函数,从而在布线过程中降低电路漏电功耗。上述方法在布线阶段对电路进行低功耗设计,在布线过程中综合考虑电路时延开销、拥塞开销和漏电功耗开销,几乎不会对电路时序性能产生影响。通过修改电路连线实现方式进行低功耗设计,与FPGA芯片结构无关,不会对FPGA芯片的工艺制造产生影响,对当前主流FPGA均适用,而且不会引入额外的面积开销。

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