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公开(公告)号:CN116663327A
公开(公告)日:2023-08-29
申请号:CN202310884584.2
申请日:2023-07-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G01M17/007 , G01M7/08 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种车辆寿命预测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法通过获取空投车辆在着陆过程中的冲击数据,然后根据冲击数据确定空投车辆的健康程度,在健康程度符合预设条件的情况下,再获取空投车辆在跑车阶段的振动数据,最后根据振动数据进行寿命预测,确定空投车辆的剩余寿命。该方法根据冲击数据和振动数据对空投车辆进行寿命预测,通过对不同阶段的不同数据进行分析和综合,可以提高空投车辆寿命的预测精度,通过对空投车辆进行精确的寿命预测,可以及时识别到存在隐患的空投车辆并作出相应的处理,为车辆的维护保养提供更有效的依据,从而延长车辆的使用寿命。
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公开(公告)号:CN116227240B
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202310506551.4
申请日:2023-05-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本申请公开了一种基于综合应力加速试验的产品寿命评价方法、装置及设备。该方法可应用于数据处理技术领域,具体可以包括:响应于目标产品的寿命评价请求,基于候选应力条件与候选特征寿命之间的对应关系,根据对目标产品的目标应力条件,确定目标产品的目标特征寿命;基于目标产品所属种类的最优寿命模型,根据目标特征寿命,确定目标产品的平均寿命。上述方案,通过获取候选应力条件与候选特征寿命之间的对应关系,改变了现有技术中的基于综合应力加速试验的产品寿命评价方法中只能进行双综合应力加速试验的产品寿命评价,扩展了对目标产品进行寿命评价的应力条件,满足了多应力综合作用下加速试验的寿命评价请求。
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公开(公告)号:CN116127785B
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202310349715.7
申请日:2023-04-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于多元性能退化的可靠性评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括:对于目标产品包括的多个性能中的各个性能,获取该性能可能服从的多个候选函数,并从该多个候选函数中确定满足预设优选条件的目标函数,根据该目标函数确定该性能对应的可靠度函数;确定该目标产品的多个性能之间的耦合关系信息,并获取该目标产品的多个性能的冗余情况信息;根据该耦合关系信息、该冗余情况信息以及各该性能的可靠度函数对该目标产品进行可靠性评价。采用本方法可以实现对产品的多元性能退化进行可靠性评价,该方法不仅适用范围广,且得到的评价结果精准度也较高。
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公开(公告)号:CN115841046B
公开(公告)日:2023-06-20
申请号:CN202310094910.X
申请日:2023-02-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G01D21/00 , G06F119/04 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于维纳过程的加速退化试验数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取待测产品的加速退化试验数据,根据加速退化试验数据,从预设的时间折合模型集合中筛选出目标时间折合模型,基于目标时间折合模型,构建非线性维纳退化过程,确定待测产品的产品可靠度函数,根据产品可靠度函数,测试待测产品的可靠性,得到待测产品的产品可靠性测试结果。本方案基于筛选出的目标时间折合模型,构建非线性维纳过程,考虑了性能退化的非线性;并基于非线性维纳过程,确定产品可靠度函数,利用产品可靠度函数,能够实现待测产品的可靠性的准确测试。综上所述,采用本方法能够实现准确的产品可靠性测试。
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公开(公告)号:CN116227239A
公开(公告)日:2023-06-06
申请号:CN202310505507.1
申请日:2023-05-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种基于灰色预测模型的加速试验数据分析方法、装置和设备。该方法包括:获取待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值;基于灰色预测模型,根据待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值,确定待测产品的性能退化预测函数;基于性能退化预测函数,预测待测产品在各测试时刻下的预测性能值;确定待测产品在各测试时刻下的预测偏差值;基于灰色预测模型,根据待测产品在各测试时刻下的预测偏差值,确定偏差预测函数;采用偏差预测函数,对性能退化预测函数进行修正;基于修正后的性能退化预测函数和待测产品的性能退化失效阈值,确定待测产品的性能退化失效时间。本申请能够提高加速试验数据的分析准确性。
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公开(公告)号:CN115795928A
公开(公告)日:2023-03-14
申请号:CN202310094868.1
申请日:2023-02-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种基于伽马过程的加速退化试验数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取待测产品的加速退化试验数据,加速退化试验数据包括多组加速退化试验应力,根据加速退化试验数据,从预设的性能退化线性模型集合中筛选出目标性能退化线性模型,基于目标性能退化线性模型,构建非线性伽马过程,确定各组加速退化试验应力下待测产品的特征寿命,基于特征寿命,构建各组加速退化试验应力下的产品可靠性加速模型,根据产品可靠性加速模型测试待测产品的可靠性,得到待测产品的产品可靠性测试结果。采用本方法能够提高产品可靠性测试结果的准确性。
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公开(公告)号:CN114355094B
公开(公告)日:2022-06-10
申请号:CN202210270597.6
申请日:2022-03-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00 , G01M7/02 , G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/14 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于多源信息的产品可靠性薄弱环节综合评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取待测产品每一部件在实际使用过程中的故障数据,故障数据包括故障时刻;根据每一部件的故障数据,确定每一部件的平均故障前时间;根据每一部件的平均故障前时间,将最小平均故障前时间对应的部件作为待测产品实际使用的薄弱环节;采用可靠性仿真分析软件,获取每一部件的仿真故障率;将最大仿真故障率对应的部件作为待测产品仿真过程的薄弱环节;根据薄弱环节集合,确定待测产品的可靠性薄弱环节;薄弱环节集合包括待测产品实际使用的薄弱环节和待测产品仿真过程的薄弱环节。
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公开(公告)号:CN109856483B
公开(公告)日:2022-01-11
申请号:CN201910089275.X
申请日:2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00 , G01R31/26 , G06F30/398
Abstract: 本申请涉及一种MMC功率模块的关键器件可靠性评估方法和装置。所述方法包括:获取各关键器件对应的性能参数;性能参数为在多个时间点对关键器件进行测试得到;基于各性能参数、以及各关键器件对应的性能初始值运行参数估计模型,得到性能参数的平均退化速率和平均扩散系数;采用可靠度模型处理平均退化速率、平均扩散系数和各性能初始值的平均值,得到可靠度分布图;根据可靠度分布图评估关键器件的可靠性,输出可靠性评估结果。本申请利用测试获得的关键器件运行过程的性能参数来评估关键器件的可靠性,代替了传统技术中利用关键器件的故障数据信息来评估关键器件的可靠性,进而能够准确地、高效地评估质量越来越高的关键器件的可靠性。
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公开(公告)号:CN113657693A
公开(公告)日:2021-11-16
申请号:CN202111218250.9
申请日:2021-10-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Inventor: 王远航 , 王春辉 , 周健 , 丁小健 , 刘文威 , 时钟 , 梁超 , 董成举 , 陈勃琛 , 黄创绵 , 杨剑锋 , 唐敬 , 王吉 , 李小兵 , 陆树汉 , 莫文安 , 杨云帆 , 郭广廓
Abstract: 本发明提供一种智能制造装备的预测性维护系统和方法,所述预测性维护系统包括一级预测性维护模块、二级预测性维护模块和维修决策模块,所述一级预测性维护模块包括采集模块、人机交互模块、计算模块和存储模块,所述二级预测性维护模块包括通信模块、设置模块和预测模块,所述维修决策模块接收所述一级预测性维护模块计算的一级剩余寿命和所述二级预测性维护模块预测的二级剩余寿命,并且根据所述一级剩余寿命和所述二级剩余寿命确定所述智能制造装备的预测性维护策略。本发明能够为智能制造装备的主动运维提供技术支撑,减少意外停机,缩短停机时间,降低运维成本,提高运维效率。
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公开(公告)号:CN111273102B
公开(公告)日:2020-12-08
申请号:CN202010123096.6
申请日:2020-02-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请公开了一种母线电容老化测试方法、装置、计算机设备及存储介质,涉及伺服驱动技术领域,该母线电容老化测试方法包括:控制所述伺服驱动电路进行功率消耗,在伺服驱动电路进行功率消耗的过程中,控制电路周期性地控制功率驱动电路停止运行,控制电路控制放电电路对母线电容进行放电,并控制电容检测电路采集母线电容在放电过程中的电压数据;对于每次采集到的电压数据,根据电压数据确定母线电容的容值;根据每次确定的母线电容的容值确定母线电容的老化测试结果。在伺服驱动电路工作过程中,周期性地对母线电容的进行老化测试,将母线电容的老化测试放入伺服驱动电路这一实际工作场景中进行,因此,对老化测试的测试结果更准确。
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