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公开(公告)号：CN106463339A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201480079919.2
申请日：2014-06-16
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 梅村佳克
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/0054 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/0045 , H01J49/4215
Abstract: 在对源自目标成分的多价离子进行MS/MS分析时，当分析者经由输入部(20)输入脱离碎片的质量值(mLoss)、脱离碎片的价数(zLoss)、前体离子的价数(zPrec)以及产物离子的价数(zProd)中的至少两个值时，价数计算部(221)基于zPrec＝zProd+zLoss的关系来计算未输入的价数(zPrec或zProd)。当开始进行MS/MS分析时，前体离子m/z设定部(222)设定通过前级四极杆滤质器(13)的离子的m/z＝MPrec，通过产物离子m/z计算部(223)将上述MProd、mLoss、zPrec以及zProd应用于MProd＝(MPrec×zPrec-mLoss)/zProd的关系式，来计算通过后级四极杆滤质器(16)的产物离子的m/z＝MProd。由此，即使在脱离碎片不是中性的情况下，也能够调查质量为mLoss、价数为zLoss的特定的带电碎片脱离那样的前体离子和产物离子的对。
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公开(公告)号：CN106252192A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610619417.5
申请日：2011-11-02
Applicant: DH科技发展私人贸易有限公司
CPC classification number: H01J49/0045 , H01J49/0027 , H01J49/0031 , H01J49/04
Abstract: 本发明涉及用于通过质谱分析快速筛选样本的系统及方法。使用处理器指令非色谱的快速样本引入装置将多个样本中的每一样本供应到串联质谱仪。所述快速样本引入装置可包括流动注射分析装置、离子迁移率分析装置或快速样本清除装置。使用处理器指令串联质谱仪在多个样本中的每一样本的质量范围上以两个或两个以上质量选择窗执行碎片扫描。质量范围上的两个或两个以上质量选择窗可具有固定或可变的窗宽度。可在指令串联质谱仪执行碎片扫描之前指令串联质谱仪获得质量范围的质谱。
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公开(公告)号：CN105845538A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610073270.4
申请日：2016-02-02
Applicant: 萨默费尼根有限公司
Inventor： V·V·科威同
CPC classification number: H01J49/063 , H01J49/0045 , H01J49/062 , H01J49/423 , H01J49/004 , H01J49/4235
Abstract: 一种离子输送装置可以包括多个平行布置的极杆对，以及控制器。所述控制器可以经配置以将重复电压模式的电压施加到所述极杆对，由此建立能够俘获离子的多个电位井，且使所述重复电压模式沿着所述极杆对移动以使所俘获离子沿着所述离子输送装置移动。所述离子输送装置可以并入到质谱仪中。
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公开(公告)号：CN103376301B
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201310138953.X
申请日：2013-04-19
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 关谷麻里绘
IPC: G01N30/88
CPC classification number: G01N30/72 , G01N30/8651 , G01N30/8658 , G01N30/8675 , H01J49/0045
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够容易且正确地设置为了确定多个化合物的MRM测量参数所进行的产物离子扫描测量的测量条件的色谱串联四极型质谱仪。在分析员在设置于测量条件表设置用窗口(100)内的化合物信息表(101)上选择要进行MRM测量的化合物、并且输入用于创建表的指示的情况下，数据处理器收集与所选择的化合物有关的信息，将各化合物的保留时间前后添加预定时间宽度所得的时间范围设置为测量时间范围，将与各化合物相关联的m/z设置为前体离子的m/z，并且从前体离子的m/z获得产物离子扫描的m/z范围。数据处理器自动创建并显示按顺序整理这些数据的测量条件表(103)。分析员根据需要来适当地修改这些值以完成该测量条件表。
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公开(公告)号：CN105247651A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201480030446.7
申请日：2014-05-29
Applicant: DH科技发展私人贸易有限公司
Inventor： 马场崇
IPC: H01J49/02
CPC classification number: H01J49/0054 , H01J49/0045 , H01J49/0072 , H01J49/063
Abstract: 一种用于引导离子与带电物质反应的方法及设备，更特定来说，所述反应是其中所述带电物质为电子的反应，例如ECD。所述设备包括彼此正交的第一及第二通道。穿过其引入离子的所述第一通道包括具有位于其间的间隙的多个多极。所述第二通道正交于所述第一通道而穿过所述间隙引入所述带电物质。以此方式，十字型反应装置允许发生离子-带电物质相互作用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103222031B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201180054884.3
申请日：2011-11-17
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: H01J49/14 , H01J49/0031 , H01J49/0045 , H01J49/063 , H01J49/4255
Abstract: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法，该装置具备碰撞室(9)，在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子，对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速；质量分析部(11)，根据质荷比对碎片离子进行质量分离；控制部(14)，按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式，基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大，控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。
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公开(公告)号：CN102779716B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201210245627.4
申请日：2007-12-12
Applicant: 塞莫费尼根股份有限公司
CPC classification number: H01J49/0418 , H01J49/0045 , H01J49/0404 , H01J49/4225
Abstract: 一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能(冷却和碎裂)，在第二阱中执行倾向低压的功能(分离和分析扫描)。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子，其中该小孔提供了泵的限制，并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下，使用高分辨率的分析扫描模式。
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公开(公告)号：CN104025248A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201180076207.1
申请日：2011-11-04
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 朝野夏世
CPC classification number: H01J49/0009 , G01N30/7233 , G01N30/7266 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/004 , H01J49/0045 , H01J49/005 , H01J49/4215
Abstract: 在第一次注入试样之后，在粗调整模式下一边使碰撞能量(CE)电压在宽的电压范围内以稀疏的步宽变化，一边测量源自规定成分的产物离子的强度(S1-S2)，在测量结束后按每个CE电压计算最大强度和离子强度在表示该强度的电压前后的变化量(S3-S4)。如果该变化量为阈值以下，则不执行微调整模式，而将在粗调整模式下表示最大强度的CE电压决定为最佳值(在S5中为“否”、S10)。另一方面，如果离子强度变化量超过阈值，则根据针对第一次注入试样的测量结果来决定更窄的CE电压范围和细密的步宽，进行第二次试样注入并在微调整模式下一边使CE电压变化一边测量离子强度(S6-S8)。然后，将在微调整模式下表示最大强度的CE电压决定为最佳值(S9-S10)。由此，能够通过针对最多两次的试样注入的分析来决定CE电压的最佳值。
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公开(公告)号：CN102308361B
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN200980156241.2
申请日：2009-02-05
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 奥村大辅
CPC classification number: H01J49/0045 , H01J49/0009 , H01J49/0027
Abstract: 向碰撞室(14)内导入CID气体，在为了第3段四极杆(17)不进行实质上的质量分离而设定施加电压的状态下，第1段四极杆(13)一边进行规定范围的质量扫描一边实行质量电荷比为已知的标准试料的质量分析。由第1段四极杆(13)所挑选的前体离子得来的各种产物离子不发生分离地到达检测器(18)并被检测，因此，数据处理部(25)能够基于检测数据，取得反映了碰撞室(14)中的时间延迟的、向第1段四极杆(13)的施加电压和得到的离子的质量电荷比之间的关系。该关系被存储于校正数据存储部(26)中，在进行中性丢失扫描测量等时被利用，能够消除由碰撞室(14)中的时间延迟引起的质量偏离，在全部质量范围内以高灵敏度检测产物离子。另外，能够制成具有高精度的质量轴的质谱。
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公开(公告)号：CN103261888A
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201180060807.9
申请日：2011-12-08
Applicant: 埃克森美孚研究工程公司
Inventor： 钱匡南 , 凯瑟琳·E·爱德华兹 , 安东尼·S·门尼托 , 霍华德·弗罗因德
CPC classification number: H01J49/0045 , Y10T436/24
Abstract: 本申请使用质谱仪中母体分子离子的受控碎裂以确定石油渣油的芳族核或构造单元。多种软电离方法，例如大气压光电离（APPI）、大气压化学电离（APCI）、电喷雾电离（ESI）和MALDI等，用于产生分子离子或准分子离子。通过FTICR-MS的超高分辨质谱提供了所有离子的元素式。然后，特别是通过使用碰撞诱导解离（CID），在质谱仪内使母体离子碎裂以产生构造单元信息。碎裂的位置可在ICR池之前的或在ICR池内的四极阱中。通过控制碰撞能，可将碎裂仅限于脂族键。因此能够将芳族结构归属至所述片段。特别地，通过监控碎裂的不饱和度（Z值或DBE）的变化，可以区分单核物种和多核物种。因此，通过该技术以及从这些构造单元中产生的渣油组成，能够确定构造单元分布。
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