公开(公告)号：CN117296158A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202280034057.6

申请日：2022-03-24

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 秋叶敦也 ,  竹内有一 ,  荒川和树 ,  羽山优介 ,  浦上泰 ,  宫原真一朗 ,  森野友生

IPC: H01L29/78

Abstract: 在有源区域(1a)和非有源区域(1b)中的有源区域侧，在第1深层(14)及第1电流分散层(13)与基极区域(18)之间，具备具有与基极区域相连并且与第1深层相连、在与沟槽(21)的长度方向相同的方向上延伸设置的排列有多个线的第2条状部(171)的第2深层(17)。此外，具备形成在第1电流分散层与基极区域之间并且配置在构成第2条状部的多个线之间的第2电流分散层(15)。并且，第1深层中包含的构成第1条状部(141)的各线包括与框状部(142)相连的顶端部(141a)和比顶端部靠内侧的内侧部(141b)，顶端部的宽度为内侧部的宽度以上。

公开(公告)号：CN113614883A

公开(公告)日：2021-11-05

申请号：CN202080023863.4

申请日：2020-03-26

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 浦上泰 ,  斋藤顺 ,  山下侑佑

IPC: H01L21/28 ,  H01L29/06 ,  H01L29/417 ,  H01L29/78 ,  H01L29/12 ,  H01L21/336

Abstract: 设单元部(1)中的在漂移层(12)与基体区域(13)的层叠方向上与保护膜(60)重叠的区域为第1单元部(1a)，设与第1单元部(1a)不同的区域为第2单元部(1b)，在第1单元部(1a)及第2单元部(1b)形成有栅极构造。并且，第1电极(20)中，设位于第1单元部(1a)的部位为第1部位(20a)，设位于第2单元部(1b)的部位为第2部位(20b)，设从半导体基板(10)的一面(100a)到第1电极(20)中的与一面(100a)相反侧的表面之间的长度为膜厚，第1部位(20a)具有膜厚比第2部位(20b)厚的部分。

公开(公告)号：CN113614883B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN202080023863.4

申请日：2020-03-26

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 浦上泰 ,  斋藤顺 ,  山下侑佑

IPC: H01L21/28 ,  H01L29/06 ,  H01L29/417 ,  H01L29/78 ,  H01L29/12 ,  H01L21/336

Abstract: 设单元部(1)中的在漂移层(12)与基体区域(13)的层叠方向上与保护膜(60)重叠的区域为第1单元部(1a)，设与第1单元部(1a)不同的区域为第2单元部(1b)，在第1单元部(1a)及第2单元部(1b)形成有栅极构造。并且，第1电极(20)中，设位于第1单元部(1a)的部位为第1部位(20a)，设位于第2单元部(1b)的部位为第2部位(20b)，设从半导体基板(10)的一面(100a)到第1电极(20)中的与一面(100a)相反侧的表面之间的长度为膜厚，第1部位(20a)具有膜厚比第2部位(20b)厚的部分。

公开(公告)号：CN110235229B

公开(公告)日：2022-08-12

申请号：CN201880006937.6

申请日：2018-01-17

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 浦上泰 ,  加藤武宽 ,  青井佐智子

IPC: H01L21/336 ,  H01L29/78 ,  H01L21/28 ,  H01L21/316 ,  H01L21/768 ,  H01L29/06 ,  H01L29/12 ,  H01L29/417

Abstract: 通过进行H2退火而使层间绝缘膜(10)致密化。通过进行这样的致密化，与不进行致密化的情况相比，层间绝缘膜(10)变硬。因此，即使在对于层间绝缘膜(10)形成接触孔(10a、10b)后进行成为高温的加热工序，也抑制接触孔(10a、10b)的侧壁的角部变圆。由此，即使成为金属电极的Al－Si层(9d、31c)向接触孔(10a、10b)内的进入量较多，也抑制基于应力的层间绝缘膜(10)的变形，抑制因该应力而使栅极绝缘膜(7)产生裂纹。

公开(公告)号：CN107241917A

公开(公告)日：2017-10-10

申请号：CN201480009591.7

申请日：2014-02-07

Applicant: 株式会社电装 ,  昭和电工株式会社

Inventor： 郡司岛造 ,  寒泽佑介 ,  浦上泰 ,  小林正和

IPC: H01L29/32 ,  C30B23/00 ,  C30B29/36 ,  H01L29/16 ,  H01L29/04

Abstract: SiC单晶，在基本平行于其c‑平面的面内包括，具有特定方向伯格斯矢量(A)的边缘位错不均匀地分布于其中的区域(A)，和具有特定方向伯格斯矢量(B)不均匀分布于其中的区域(B)。所述区域(A)位于相对于晶面部分的 方向，而所述的区域(B)位于相对于所述晶面部分的 方向。SiC是通过沿着基本平行于所述c‑平面的方向切割由所述SiC单晶所得的SiC晶片而制备的，且从所述SiC晶片上切割所述SiC基板使得所述SiC基板主要包含所述区域(A)和所述区域(B)中的一个。使用所述SiC基板制备SiC器件。