-
公开(公告)号：CN103885905B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201410155476.2
申请日：2014-04-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于双缓存选通发送技术的硬件定时通信数据响应装置及方法，涉及通信及测试测量领域。本发明是为了解决当定时命令数据有多个种类时，现有的定时数据响应装置在切换多种命令数据时造成的逻辑资源浪费、数据切换响应慢、发送数据中断、发送数据不完整及现有的定时数据响应方法不能及时响应的问题。本发明通过增加发送开关寄存器确定不同种类命令数据发送至一号发送缓存模块还是二号发送缓存模块，并标记发送状态寄存器为0或1，然后接收逻辑模块通过判断发送状态寄存器的值，确定将命令数据对应的响应数据写入一号接收缓存模块或二号接收缓存模块中。本发明适用于具有多个命令数据的其他通信设备之间的硬件定时数据响应。
-
公开(公告)号：CN102768337B
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201210278975.1
申请日：2012-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 基于平均值浮动量的三维IP核的测试封装扫描链平衡方法，属于SoC测试领域，本发明为解决现有三维IP核的测试封装扫描链平衡过程中，存在解空间过大、寻优困难，且时间长的问题。本发明所述三维IP核共有m层结构，n条扫描链，该方法包括：一、按照平均值浮动量的初始化方法来获取平均值浮动量α；二、采用基本方法进行测试封装扫描链平衡，判断是否得到优化解，得到优化解，执行五，没得到优化解，执行三；三、采用改进方法进行测试封装扫描链平衡，判断是否得到优化解，得到优化解，执行五，没得到优化解，执行四；四、平均值浮动量α的值加1，返回执行二；五、根据优化解计算所使用TSV数量，完成三维IP核的测试封装扫描链平衡。
-
公开(公告)号：CN103970058A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410222072.0
申请日：2014-05-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05B19/042
Abstract: 多功能模块化电路板，涉及计算机技术、电子技术、自动控制技术和仿真技术领域。为了解决集成电路板功能单一、可维修性和扩展性差的问题。它包括主控板、继电器单元模块、AD采集单元模块、AD前端调理模块、电流采集模块、DA单元模块、总线驱动模块、通讯模块、网口通讯模块、指令模块和键盘扫描模块；继电器单元模块用于控制信号的导通和断开，总线驱动模块用于给被测设备进行状态设置、状态采集及控制外围设备，通讯模块用于实现与测控台、计算机或被测设备之间进行RS422、RS485和RS232通讯，网口通讯模块用于实现与计算机或其它网口设备进行网口通讯。具体应用在电子领域。
-
公开(公告)号：CN103885905A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201410155476.2
申请日：2014-04-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于双缓存选通发送技术的硬件定时通信数据响应装置及方法，涉及通信及测试测量领域。本发明是为了解决当定时命令数据有多个种类时，现有的定时数据响应装置在切换多种命令数据时造成的逻辑资源浪费、数据切换响应慢、发送数据中断、发送数据不完整及现有的定时数据响应方法不能及时响应的问题。本发明通过增加发送开关寄存器确定不同种类命令数据发送至一号发送缓存模块还是二号发送缓存模块，并标记发送状态寄存器为0或1，然后接收逻辑模块通过判断发送状态寄存器的值，确定将命令数据对应的响应数据写入一号接收缓存模块或二号接收缓存模块中。本发明适用于具有多个命令数据的其他通信设备之间的硬件定时数据响应。
-
公开(公告)号：CN103076748A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201210584055.2
申请日：2012-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05B19/04
Abstract: 一种具有数据监测功能的飞行试验系统控制机，涉及飞行器的实验系统中的测控领域。本发明解决了飞行器的实验系统不能对通讯数据实现实时监测，而造成的大量实验数据丢失的问题。本发明主控器的环境信息输入端连接单向传输收发器的环境信息输出端，主控器的状态回复信号输入端连接双向传输收发器的状态回复信号输出端，主控器的控制信号输出端连接双向传输收发器的控制信号输入端，存储控制模块的环境信息输入端连接单向传输收发器的环境信息输出端，存储控制模块的控制信号输入端连接控制器的控制命令信号输出端，存储控制模块的状态回复信号输入端连接双向传输收发器的状态回复信息的输出端。用于飞行器的实验系统中的测控。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102768337A
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：CN201210278975.1
申请日：2012-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 基于平均值浮动量的三维IP核的测试封装扫描链平衡方法，属于SoC测试领域，本发明为解决现有三维IP核的测试封装扫描链平衡过程中，存在解空间过大、寻优困难，且时间长的问题。本发明所述三维IP核共有m层结构，n条扫描链，该方法包括：一、按照平均值浮动量的初始化方法来获取平均值浮动量α；二、采用基本方法进行测试封装扫描链平衡，判断是否得到优化解，得到优化解，执行五，没得到优化解，执行三；三、采用改进方法进行测试封装扫描链平衡，判断是否得到优化解，得到优化解，执行五，没得到优化解，执行四；四、平均值浮动量α的值加1，返回执行二；五、根据优化解计算所使用TSV数量，完成三维IP核的测试封装扫描链平衡。
-
公开(公告)号：CN102141971B
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201110006609.6
申请日：2011-01-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F13/40
Abstract: 具有大容量存储功能的1553B硬件定时通讯模块，涉及一种1553B硬件定时通讯模块。它解决了现有的1553B通讯模块不具备按照一定时序定时通讯的功能，以及大数据量通讯时系统工作效率低的问题。它的1553B总线接口芯片的总线数据信号、总线地址信号和控制信号的输出或输入端分别与FPGA的总线数据信号、总线地址信号和控制信号的输入或输出端连接；FPGA的PCI IP核的信号输出或输入端连入PCI总线；SDRAM的数据信号和地址信号输入或输出端分别与FPGA的数据信号和地址信号输出或输入端连接。本发明的硬件定时通讯过程经空闲状态、延迟状态、数据读取状态、等待状态和判断状态实现。本发明适用于各类具有1553B通讯的测控系统中。
-
公开(公告)号：CN102305911A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201110162065.2
申请日：2011-06-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 利用差值进行二次分配的扫描链平衡方法。它涉及系统芯片SOC测试技术领域。它为了缩短SOC的测试时间，进而降低测试费用。首先，将IP核内部各扫描链按照降序排列，从中找到最大的扫描链S(max)，将最大的扫描链S(max)除以调整系数adj的长度作为基准长度，最接近于基准长度的扫描链设定为基准的扫描链S(adj)；然后，将IP核内部各扫描链的长度与基准的扫描链S(adj)的长度进行比较，大于基准的扫描链S(adj)则设定为长扫描链S＞，小于等于基准的扫描链S(adj)则设定为短扫描链S≤，将所有长扫描链S＞按照基准的扫描链S(adj)的长度进行第一次分配；再计算出每一个长扫描链S＞与基准的扫描链S(adj)的差值di’，将所有短扫描链S≤与所有差值di’从大到小排序后，进行第二次分配。它应用于集成电路中。
-
公开(公告)号：CN116842408A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202310808115.2
申请日：2023-07-03
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
Abstract: 基于差分进化算法聚类的2.5D集成电路小时延缺陷检测方法，属于集成电路测试优化技术领域，本发明为解决传统2.5D集成电路小时延缺陷检测方法测试成本开销大、测试速度慢的问题。本发明方法包括：步骤一，读取2.5D集成电路关键路径数据作为待聚类数据；步骤二，使用差分进化算法对寄存器中的待聚类数据进行处理，获取最优聚类方案：无需提前设定分组数量，可以在运行过程中确定最佳分组数量，通过变异、交叉和选择等操作实现对聚类过程的优化，确定最佳聚类方案；步骤三，根据最优聚类方案选择每个子类中的聚类中心作为代表性关键路径，测量代表性关键路径上的延迟并映射到其他关键路径上，完成检测集成电路关键路径上的小时延缺陷。
-
公开(公告)号：CN110007217B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910431231.0
申请日：2019-05-22
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种低功耗边界扫描测试方法，属于SOC边界扫描测试领域，本发明为解决现有的低功耗边界扫描测试方法以牺牲故障覆盖率为代价，影响测试结果的问题。本发明方法为：SOC上的每个芯片的输出端接入BSLC扫描单元，n个BSLC扫描单元中相邻两边界扫描单元的SI端和SO端依次相连，串联构成输入边界扫描链，用于向功能路径发送测试激励；每个芯片的输入端接入BSCC扫描单元，m个BSCC扫描单元中相邻两边界扫描单元的SI端和SO端依次相连，串联构成输出边界扫描链，用于捕获和移出测试响应。每一位测试数据移入时，整个扫描链上触发器的状态转换不超过两次，大大减少了测试功耗。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
62
records
(took 0.021 seconds)
