公开(公告)号：CN110007217B

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN201910431231.0

申请日：2019-05-22

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 邓立宝 ,  付宁 ,  乔立岩 ,  孙宁 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种低功耗边界扫描测试方法，属于SOC边界扫描测试领域，本发明为解决现有的低功耗边界扫描测试方法以牺牲故障覆盖率为代价，影响测试结果的问题。本发明方法为：SOC上的每个芯片的输出端接入BSLC扫描单元，n个BSLC扫描单元中相邻两边界扫描单元的SI端和SO端依次相连，串联构成输入边界扫描链，用于向功能路径发送测试激励；每个芯片的输入端接入BSCC扫描单元，m个BSCC扫描单元中相邻两边界扫描单元的SI端和SO端依次相连，串联构成输出边界扫描链，用于捕获和移出测试响应。每一位测试数据移入时，整个扫描链上触发器的状态转换不超过两次，大大减少了测试功耗。

公开(公告)号：CN110007217A

公开(公告)日：2019-07-12

申请号：CN201910431231.0

申请日：2019-05-22

Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)

Inventor： 邓立宝 ,  付宁 ,  乔立岩 ,  孙宁 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种低功耗边界扫描测试方法，属于SOC边界扫描测试领域，本发明为解决现有的低功耗边界扫描测试方法以牺牲故障覆盖率为代价，影响测试结果的问题。本发明方法为：SOC上的每个芯片的输出端接入BSLC扫描单元，n个BSLC扫描单元中相邻两边界扫描单元的SI端和SO端依次相连，串联构成输入边界扫描链，用于向功能路径发送测试激励；每个芯片的输入端接入BSCC扫描单元，m个BSCC扫描单元中相邻两边界扫描单元的SI端和SO端依次相连，串联构成输出边界扫描链，用于捕获和移出测试响应。每一位测试数据移入时，整个扫描链上触发器的状态转换不超过两次，大大减少了测试功耗。