一种再布线FCQFN封装器件
    43.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202996811U

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201220700823.1

    申请日:2012-12-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种再布线FCQFN封装器件。该器件包括:芯片载体配置于封装器件的中央部位;多个引脚配置于芯片载体四周,围绕芯片载体呈多圈排列;绝缘填充材料配置于芯片载体与引脚之间,以及引脚与引脚之间;第一金属材料层通过再布线层实现与引脚的连接;IC芯片通过焊接材料倒装焊接于第一金属材料层;第二金属材料层配置于芯片载体和引脚的下表面;塑封材料包覆密封上述IC芯片、焊接材料、第一金属材料层、再布线层和芯片载体,仅仅暴露出配置于芯片载体和引脚下表面的第二金属材料层。该器件具有高的I/O密度、低的制造成本和良好的可靠性。

    一种用于要求热像仪竖直向下放置的实验装置

    公开(公告)号:CN202075044U

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN201120184938.5

    申请日:2011-06-02

    Abstract: 一种用于要求热像仪竖直向下放置的实验装置,主要由底座1、托环2、横梁3、立柱4、热像仪5、托台6、小螺栓7、紧固螺栓8组成。所述的底座1上开有两个通孔,与底座1上的通孔的直径相同立柱4插入到底座1上的通孔内,横梁3通过其上开有的两个通孔穿过上述的两根立柱4固定在支柱4上,横梁3开有的通孔的直径与立柱4的直径相同,横梁3的通孔与靠近该通孔的横梁3的端面之间开有槽,上下两个紧固螺栓3从横梁3的端面穿过上述所述的槽;横梁3的正面安装有托台6,托台6上开有用于安放热像仪8的一个比热像仪8镜头尺寸稍大的圆通孔。本实用新型结构简单,装置平稳,操作方便,可以实现热像仪竖直向下拍摄。

    一种再布线热增强型FCQFN封装器件

    公开(公告)号:CN203055893U

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201220699914.8

    申请日:2012-12-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种再布线热增强型FCQFN封装器件。在再布线热增强型FCQFN封装器件中,IC芯片通过焊接材料倒装焊接在第一金属材料层上,通过将IC芯片背面裸露在外部环境中、在IC芯片上方配置散热片或者在IC芯片下方配置导热片以提升封装器件的散热性能,绝缘填充材料配置于芯片载体与引脚之间、以及引脚与引脚之间,引脚通过再布线层实现与第一金属材料层的连接,第二金属材料层配置于芯片载体和引脚的下表面,采用塑封材料进行包封。本实用新型采用的再布线层可使封装器件的尺寸大幅减小,降低了制造成本,提升了封装器件的良率和可靠性。

    一种再布线热增强型AAQFN封装器件

    公开(公告)号:CN202996819U

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201220700183.4

    申请日:2012-12-17

    CPC classification number: H01L2224/16225 H01L2224/73265

    Abstract: 本实用新型公开了一种再布线热增强型AAQFN封装器件。在再布线热增强型AAQFN封装器件中,IC芯片通过焊接材料倒装焊接在第一金属材料层上,通过将IC芯片背面裸露在外部环境中或者在IC芯片上方配置散热片以提升封装器件的散热性能,引脚通过再布线层实现与第一金属材料层的连接,第二金属材料层配置于引脚的下表面,引脚在封装器件中呈面阵排列,绝缘填充材料配置于引脚与引脚之间,采用塑封材料进行包封。本实用新型达到突破传统QFN封装的低I/O数量、高封装成本的瓶颈和提高封装体的可靠性的目的。

    一种再布线QFN封装器件
    49.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202996820U

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201220700196.1

    申请日:2012-12-17

    CPC classification number: H01L24/97 H01L2224/49171 H01L2224/73265

    Abstract: 本实用新型公开了一种再布线QFN封装器件。该器件包括:芯片载体配置于封装器件的中央部位;多个引脚配置于芯片载体四周,围绕芯片载体呈多圈排列;绝缘填充材料配置于芯片载体与引脚之间,以及引脚与引脚之间;IC芯片通过粘贴材料配置于芯片载体上;第一金属材料层围绕IC芯片排列;引脚通过再布线层实现与第一金属材料层的连接;IC芯片通过金属导线连接至第一金属材料层;第二金属材料层配置于芯片载体和引脚的下表面;塑封材料包覆密封上述IC芯片、粘贴材料、金属导线、第一金属材料层、再布线层和芯片载体,仅仅暴露出配置于芯片载体和引脚下表面的第二金属材料层。该器件具有高的I/O密度、低的制造成本和良好的可靠性。

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