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公开(公告)号：CN102879730A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210355811.4
申请日：2012-09-21
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明提供一种部分三模冗余FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截面；使粒子注量率不断降低，直到单粒子错误截面趋于稳定；共在至少5个不同LET值下重复上述步骤。
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公开(公告)号：CN107356856B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201710495049.2
申请日：2017-06-26
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/265
Abstract: 本发明公开了一种三通道电压反馈式VDMOS器件单粒子效应高精度检测装置，包括主控模块、通信模块、数据采集模块、电源模块、矩阵开关模块、试验子板群模块；本发明兼具数据采集记录和图像显示功能，能够有效、直观检测垂直双扩散金属‑氧化物半导体场效应晶体管单粒子栅穿与单粒子烧毁现象，同时结合非结构化数据保存功能，提供足量数据进行试验分析。试验子板群兼容各类封装形式试验器件，且系统具有多通道巡检功能，可实现三只器件同步开展试验，缩减试验成本。本发明系统组成简单，通用性强、检测精度高，具有工程化特点。
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公开(公告)号：CN107545098A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710631110.1
申请日：2017-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及化合物器件空间连续谱质子位移损伤地面等效评估方法，该方法能够用于指导评估宇航用化合物器件在空间辐射环境中因位移损伤效应造成的性能退化情况，获得器件抗位移损伤能力的准确数据，为器件抗辐射加固设计提供依据，也为宇航型号选择抗辐射能力满足要求的器件和进行应用加固设计提供参考数据，属于化合物器件的宇航应用技术领域。
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公开(公告)号：CN107356856A
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201710495049.2
申请日：2017-06-26
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/265
Abstract: 本发明公开了一种三通道电压反馈式VDMOS器件单粒子效应高精度检测装置，包括主控模块、通信模块、数据采集模块、电源模块、矩阵开关模块、试验子板群模块；本发明兼具数据采集记录和图像显示功能，能够有效、直观检测垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管单粒子栅穿与单粒子烧毁现象，同时结合非结构化数据保存功能，提供足量数据进行试验分析。试验子板群兼容各类封装形式试验器件，且系统具有多通道巡检功能，可实现三只器件同步开展试验，缩减试验成本。本发明系统组成简单，通用性强、检测精度高，具有工程化特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107284859A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710496120.9
申请日：2017-06-26
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种便携式半导体器件辐射试验用嵌套结构低温存储装置，其特征在于包括箱体、封盖、器件存放箱(4)；箱体包括外壳层(1)、隔热层(2)、金属层(3)；箱体通过安装在外壳层(1)表面的密封扣环与封盖实现锁定，隔热层(2)嵌套在外壳层(1)内，外壳层(1)上安装有通气阀门(5)；隔热层(2)内表面镶贴金属层(3)；隔热层(2)与金属层(3)底部有通气孔道，与通气阀门(5)连通；器件存放箱(4)通过圆筒结构与金属层(3)连接；箱体内放置干冰，保证器件存放箱(4)被干冰包裹。本发明有效地增加了器件与干冰的接触面积，并且使器件周围环境均衡，制作简单、成本低、可重复使用、实用性强，具有推广应用价值。
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公开(公告)号：CN106646177A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610972906.9
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2607
Abstract: 本发明公开了一种宇航用半导体器件总剂量辐射试验通用偏置电路板，包括母板、多块相互独立的通用子板和多个试验器件夹具。通用子板用于为不同的被辐照器件配置电压与偏置负载，垂直插装在母板的背面；试验器件夹具用于插装被辐照器件，集中布局在母版的正面。对于封装形式相同，管脚定义与加电偏置不同的器件，通过配置不同的通用子板，即可使用同一块母板完成总剂量辐射试验，对于封装形式不同，管脚定义与加电偏置相同的器件，通过焊接不同的试验器件夹具，即可使用同一块母板完成总剂量辐射试验。本发明减少阻容元件在母板的占用空间，有效地增加了有效辐射面积，且制作简单、成本低、效率高、可重复使用、通用性强，具有推广应用价值。
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公开(公告)号：CN103323715B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310247474.1
申请日：2013-06-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 大规模集成电路加速器单粒子试验中粒子注量率选择方法，具体为：判断所述大规模集成电路内部是否采DICE设计，若采用了DICE设计，则按ASTMF1192标准规定，对所述大规模集成电路采用高注量率辐照；否则通过大规模集成电路所使用的程序判断所述大规模集成电路是否采用TMR，若采用了TMR，则对所述大规模集成电路采用低注量率辐照，否则通过大规模集成电路所使用的程序判断所述大规模集成电路是否采用EDAC，若采用了EDAC，则对所述大规模集成电路采用低注量率辐照，否则对所述大规模集成电路采用高注量率辐照。本发明比以往只用高注量率辐照，提高了辐照评估准确度。
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公开(公告)号：CN104007339A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410207151.4
申请日：2014-05-16
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种采用远距离传输方式的光电耦合器电参数在线测试系统,涉及航天电子学测量技术领域。该系统中包括试验板、数据采集器、电源和上位机。该数据采集器中包括信号调理电路、电流-电压转换电路、仪表放大器、模数转换器和MCU。该系统实现对光电耦合器空间辐射敏感参数电流传输比(CTR)、通态集电极电流(IC（on）)、通态集电极-基极电流(IR)、漏电流(IC（off）)、饱和压降(VCE(SAT))的远程（20米以内）高精度测试。本发明还涉及一种光电耦合器在线测试方法。
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