公开(公告)号：CN104160244B

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201280060878.3

申请日：2012-10-10

Applicant: FB科技

Inventor： 莱昂内尔·勒卡姆 ,  巴斯勒·摩兰茨 ,  阿米娜·伊拉奇-乌桑 ,  让-艾恬娜·龙旗

IPC: G01C9/06 ,  G05D1/06

CPC classification number: G01J1/4257 ,  B64F1/20 ,  G01C9/06 ,  G01J2001/4247 ,  G05D1/0676 ,  H04N5/30

Abstract: 本发明涉及用于测量包括至少两个不同颜色角部分的由灯发射的光束的特征的移动设备，其中所述设备包含用于改变测量总成的位置的支架，所述测量总成包含配备有变焦的单个的可定向的摄像头，所述摄像头能够至少采用用于提供降低的放大率和较宽的视场角的第一低放大率位置以便检测所述灯的位置从而精确地在其方向上引导所述摄像头，以及第二高放大率位置以便获得所述灯的图像从而分析由灯发射的光束的特征。

公开(公告)号：CN105452173A

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201480044686.2

申请日：2014-03-13

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 小林伸次 ,  阿部法光 ,  出健志 ,  城田昭彦 ,  竹内贤治

IPC: C02F1/32 ,  G01J1/02

CPC classification number: C02F1/325 ,  C02F1/283 ,  C02F1/52 ,  C02F1/76 ,  C02F2201/3227 ,  C02F2201/326 ,  C02F2209/005 ,  C02F2209/008 ,  C02F2303/02 ,  C02F2303/04 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/429 ,  G01J2001/4247 ,  G01N21/59

Abstract: 实施方式的紫外线照射装置具备照射部、计测部、检测部、计算部、显示部。照射部向成为处理对象的处理水照射处理用的紫外线。计测部计测透射处理水后的紫外线的紫外线强度。检测部根据通过计测部计测到的紫外线强度来检测照射部发生了劣化的情况。计算部根据与预先设定的设定值相应地从照射部照射的紫外线的紫外线强度与通过计测部计测出的紫外线强度，计算处理水的紫外线透射率。显示部显示基于检测部的照射部的劣化的检测结果以及通过计算部计算出的紫外线透射率。

公开(公告)号：CN105282949A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201410784623.2

申请日：2014-12-16

Applicant: 现代自动车株式会社

Inventor： 安秉石

IPC: H05B37/03

CPC classification number: G01M11/0285 ,  B60Q11/005 ,  F21S41/14 ,  F21S41/147 ,  F21S41/16 ,  G01J3/505 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明公开了一种用于确定车灯光学模块的故障的方法和装置。所述方法可以包括：检测至少一个光源产生的光的光学属性信息值；确定检测到的光学属性信息值是否在预设正常范围值内；如果检测到的光学属性信息值偏离预设正常范围值，则确定发生故障；以及如果确定发生故障，则对光源的工作进行限制。

公开(公告)号：CN103370802B

公开(公告)日：2015-12-09

申请号：CN201080070423.0

申请日：2010-12-01

Applicant: 日本先锋公司 ,  日本先锋自动化公司

Inventor： 藤森昭一 ,  望月学 ,  广田浩义 ,  市川美穗

IPC: H01L33/00

CPC classification number: H01L33/0095 ,  G01J1/0422 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  H01L25/167 ,  H01L33/60 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种半导体发光元件用光接收模块及半导体发光元件用检测装置，其能够精确地计算出半导体发光元件发光的光量。本发明的半导体发光元件用光接收模块(1)，LED101LED101其具有光电探测器(105)，其在LED(101)的发光中心轴上，且与LED(101)相对配置，用于接收LED(101)所发出的光并测定其光量；反射部(123)，其反射LED(101)所发出的光并引导至光电探测器(105)，而反射部(123)配置在LED(101)与光电探测器(105)之间，且其内侧面是以发光中心轴为中心轴的旋转体，并且形成有在LED(101)侧其内径较小，随着靠近光电探测器(105)，其内径逐渐变大的连续变化的内侧面。

公开(公告)号：CN104968068A

公开(公告)日：2015-10-07

申请号：CN201510058065.6

申请日：2015-02-04

Applicant: 埃塞力达技术菲律宾有限公司

Inventor： 劳伦斯·戈德弗里 ,  亚瑟·约翰·巴洛

IPC: H05B37/02

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/30 ,  G01J2001/4247 ,  H01L25/167 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2933/0033 ,  H01L2924/00014

Abstract: 一种减小一组发光二极管的光功率水平变化的方法，包括对发光二极管中的每个单独的发光二极管进行检验，从而确定每个单独的发光二极管在被连接到电源上时产生的光功率水平。在检验过程中，电源向所述发光二极管中每个单独的发光二极管传递基本等量的电流。从检验中得到的光功率水平全部在第一数值范围内。该方法包括为该组中的发光二极管中的至少一些发光二极管并联连接上电阻以减小这些发光二极管产生的光功率量。在连接电阻之后，所有发光二极管产生的光功率水平全部在较所述第一范围小的第二范围内。

公开(公告)号：CN104931134A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201410106279.1

申请日：2014-03-20

Applicant: 国家电网公司 ,  国网北京市电力公司

Inventor： 韩帅 ,  唐宇 ,  李坤 ,  李伟 ,  丁屹峰 ,  周小丽 ,  刘木清

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/02

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0271 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供一种照度测试装置。该照度测试装置包括：箱体，箱体内设置有安装待测试灯具的安装架；雾霾模拟部，雾霾模拟部与箱体连通，并向箱体内输送雾气和烟尘；检测单元，检测单元设置在箱体内，并检测待测试灯具的光照强度。通过该照度测试装置能够测量照明用具在雾霾环境中的照度，可以为雾霾环境下的照明用具布置提供实验数据。

公开(公告)号：CN104898312A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201510359452.3

申请日：2015-06-25

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 ,  京东方(河北)移动显示技术有限公司

Inventor： 王甲银 ,  韩冬年 ,  武震 ,  李星 ,  杨国文

IPC: G02F1/13 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4247 ,  G08B21/18 ,  G08B25/08 ,  G02F1/1309 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开一种背光源检测装置及检测方法，涉及液晶显示技术领域，为解决现有技术对背光源的光、电特性进行检测时的效率较低的技术问题。所述背光源检测装置包括：承载板，检测时待检背光源放置在承载板上的背光源检测区；光特性检测板，检测时光特性检测板位于待检背光源的正上方，且光特性检测板与待检背光源的出光面平行，光特性检测板上安装有用于检测待检背光源的不同区域的亮度的多个亮度传感器，多个亮度传感器均匀分布在光特性检测板上；分别与多个亮度传感器信号连接的数据处理单元，数据处理单元根据多个亮度传感器所检测的待检背光源的不同区域的亮度判断待检背光源的光特性是否合格。本发明用于检测背光源。

公开(公告)号：CN103339808B

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201180066671.2

申请日：2011-12-01

Applicant: 康宁股份有限公司

Inventor： 王胤 ,  G·P·怀索基 ,  谢峰 ,  C-E·扎

IPC: H01S3/1055 ,  H01S3/101

CPC classification number: H01S5/0042 ,  B82Y20/00 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G01J3/1804 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  H01S5/141 ,  H01S5/3401

Abstract: 一种用于自动表征从半导体晶片分离的半导体条上的多个外腔半导体激光器芯片的系统和过程。该系统包括：衍射光栅，被安装在旋转台上，用于使衍射光栅转动通过衍射角范围；操纵镜，被安装在旋转台上并被定向成垂直于衍射光栅的表面；激光分析仪；以及激光器条定位台。该定位台被自动移动以使平台上的激光器条中的每个激光器芯片与衍射光栅对准（一次一个芯片），使得从激光器条中的激光器芯片发出的激光束的部分被光栅的一阶衍射反射回同一激光器芯片以锁定激射波长，并且激光束被操纵镜反射的余下部分被激光分析仪接收并表征。对于每个激光器芯片，旋转台被自动转动以使衍射光栅相对于激光器芯片所发出的激光束转动通过衍射角范围，并且激光分析仪自动地表征每个衍射角下的激光器光学性质（诸如光谱、功率或空间模式）。

公开(公告)号：CN102959370B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201180031682.7

申请日：2011-07-18

Applicant: 韩国标准科学研究院

Inventor： 朴盛钟 ,  李东勋 ,  朴承男

IPC: G01J1/02 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/02 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0474 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/465 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2003/1213

Abstract: 本发明提供积分球光度计及其测量方法。该积分球光度计包括：多个光检测器；积分球，具有对应于所述光检测器而形成的贯通孔；遮光膜，位于所述光检测器前侧的积分球内部，与所述光检测器相间隔；光度计，安置于所述贯通孔中；调节部，用于调节所述光检测器的输出信号使其与相对于安置在所述积分球内的中心区域的标准光源照射的光具有相同的输出信号。

公开(公告)号：CN104769397A

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN201380058852.X

申请日：2013-09-26

Applicant: 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司

Inventor： A·杜拉 ,  J·M·弗兰克

IPC: G01J1/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/50 ,  G01T1/202

CPC classification number: G01J1/1626 ,  G01J1/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/505 ,  G01J2001/4247 ,  G01T1/2006 ,  G01T1/202 ,  Y10T29/49769

Abstract: 一种光电传感器测试装置可以用于测试光电传感器。光模块可以产生对应于闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光的模拟光。受测试的光电传感器可以产生可以被分析的输出。特定光电传感器可以被确定为具有更高量子效率、更高信噪比或另一性能标准并且被选择用于辐射检测装置中，所述辐射检测装置具有可以产生闪烁光的闪烁器。相比于仅仅分析发射光谱和数据手册以及被考虑的光电传感器的其它信息，光电传感器测试装置可以提供选择光电传感器的更精确方式。