一种大尺寸单晶铜箔的制备方法
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119372756A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411521419.1

    申请日:2024-10-29

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明公开了一种大尺寸单晶铜箔的制备方法,在还原性气氛中,以第一温度对铜箔进行第一次退火处理,然后沿单一方向对铜箔实施拉伸,总延伸率为0.1‑1.0%,再在还原性气氛中,以第二温度对铜箔进行第二次退火处理,随后空冷即得;其中,第一温度小于第二温度。本发明利用退火结合单轴拉伸工艺,能够根据具体需求制备出长度超过10cm的大尺寸单晶铜箔。本发明的制备方法制备成本低、操作简便,具有良好工业化生产潜力。

    一种位错特征的三维可视化方法

    公开(公告)号:CN113506366B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202110901900.3

    申请日:2021-08-06

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明公开了一种位错特征的三维可视化方法,通过透射电镜获取样品中位错不同角度下的图像,并进行三维重构获得位错在晶体坐标系下描述的三维图像,根据位错的三维图像获得位错的线方向。然后根据位错的线方向和位错的柏氏矢量获得位错的组分信息,根据位错的线方向获得位错与预设晶面的空间关系,并在位错的三维图像中展示位错组分信息的空间分布和位错与预设晶面的空间关系。本发明实现了在位错的三维图像中表征位错特征,能够精确、直观地表征两类位错特征,为位错相关基础科学问题研究提供了技术基础。

    一种位错界面特征三维可视化方法

    公开(公告)号:CN115272568A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210856051.9

    申请日:2022-07-12

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明公开了一种位错界面特征三维可视化方法,通过透射电镜获得图像构建位错界面在晶体坐标系下描述的三维图像,并获取位错界面的组分位错的柏氏矢量;根据三维图像反映的位错界面的构型以及组分位错的柏氏矢量、线方向和所在滑移面法向,获得位错界面的转动轴方向和位错界面的局部区域法向,进一步在三维图像中展示位错界面的局部区域法向,以及根据位错界面的局部区域法向和位错界面的转动轴方向之间的夹角获得位错界面的倾斜和扭转组分信息,在三维图像中展示位错界面的组分分布特征。本发明基于透射电镜位错三维定量表征方法,能够直观呈现位错界面取向和组分信息的空间分布特征。

    一种三维空间内的计算机识别晶粒方法

    公开(公告)号:CN111104641A

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201911259954.3

    申请日:2019-12-10

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明涉及一种三维空间内的计算机识别晶粒方法,特别涉及数据处理领域。包括:(1)使用种子算法对三维空间内取向数据进行处理,能够快速地实现晶粒的识别和提取。(2)摆脱了传统二维图像衬度识别晶粒的方法,使用取向矩阵计算的取向差作为晶粒区分的依据,具有良好的数据准确性和可靠性。(3)基于三维空间中相邻26连接的体素判别,充分考虑了在三维空间上晶粒的几何学形态以及连接特性。(4)本发明是基于体素的三维取向数据,能够适用于三维空间下的大部分取向重构技术所获取的取向数据,故可以应用于各种尺度下晶粒的识别与区分,具有良好的适应性。本方案解决了如何在三维空间内准确、快速识别晶粒的技术问题,适用于晶粒识别。

    一种高强高塑性铁素体奥氏体双相钢的制备方法

    公开(公告)号:CN109355485A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811375660.2

    申请日:2018-11-19

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明属于生产钢板或带钢时技术领域,公开了一种高强高塑性铁素体奥氏体双相钢的制备方法,将铁素体奥氏体双相钢进行85%-95%冷轧;冷轧双相钢板材在900℃-1000℃区间实行不超过30分钟的短时退火;退火工艺以获得非均匀层状组织及性能目标为基准。本发明在SAF2507双相钢900℃退火后可获得抗拉强度超过1.0GPa,延伸率为33%的力学性能,与商用双相钢的对比如表1所示;强度提高的同时,延伸率下降极少。本发明提供的新型高强高塑性铁素体奥氏体双相钢的制备方法,工艺简单,能够生产大尺度样品,从而具有实际应用价值。

    一种高强高塑性IF钢的制备方法

    公开(公告)号:CN106825100B

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201710084610.8

    申请日:2017-02-16

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明公开了一种高强高塑性IF钢的制备方法,所述高强高塑性IF钢的制备方法是在原始材料中引入非均匀性,通过选取合适热处理条件调节成为具有自相似的从介观尺度到微观尺度均具有非均匀特征的层状组织,从而实现高强度高塑性的性能匹配。本发明提供的高强高塑性IF钢的制备方法,与其他剧烈塑形变形工艺不同,能够生产大尺度样品,从而具有实际应用价值;在保证延伸率的同时,提高强度至少一倍。

    一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜

    公开(公告)号:CN210427409U

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201920859473.5

    申请日:2019-06-10

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本实用新型属于材料衍射三维重构技术领域,公开了一种XRD三维晶体学重构三轴样品台、扫描电子显微镜,设置有圆形样品台底座;圆形样品台底座中心开有一螺纹孔,圆形样品台底座与旋转台通过螺纹孔用螺栓连接;旋转台与样品台底座间设有滚动轴承,旋转台侧壁设有涡轮;样品台底座上通过螺栓固定有第一电机,第一电机通过涡轮与旋转台中的滚动轴连接;旋转台两端通过螺栓固定有对称放置的第一立柱和第二立柱;第一立柱和第二立柱中心偏上位置开孔,在两孔中插入一摇篮杆;摇篮杆中部通过螺栓固定有第三电机,第三电机上端通过轴承与载物台连接。本实用新型便于放置与拆卸样品,可以在扫描电子显微镜中使用,能够得到更为普遍的应用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种兼容针状试样的透射电镜高倾转原位力学样品座

    公开(公告)号:CN207148005U

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201720289665.8

    申请日:2017-03-23

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本专利为一种兼容针状试样的透射电镜高倾转原位力学样品座,此透射电镜样品座包括样品座杆部,样品座头部,压片和装载样品辅助台。本专利中设计的样品座,结构简单,便于加工和维护,设计的样品台上可放针状,圆弧状和矩形状样品,便于各种类型样品进行透射电镜组织观察。除此之外,将样品座配合原位加载样品杆,在进行原位加载实验的同时能够进行大角度倾转操作(≥±60°),比原有样品杆设计的约±20°有了极大的提高,可以完成以往样品杆无法进行的观察与分析操作,并且兼容三维原子探针样品,在组织-性能-成分耦合分析方面有了质的改变。

    低温真空运输箱
    39.
    实用新型

    公开(公告)号:CN215708651U

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN202121442914.5

    申请日:2021-06-28

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种低温真空运输箱,属于材料保存设备技术领域,包括箱体、制冷装置和真空泵,制冷装置包括有半导体制冷片和制冷片散热器,制冷装置和真空泵设于箱体内,箱体内还设有样品存储腔和电子控制系统,样品存储腔上设有与真空泵连通的抽气管,样品存储腔设于制冷装置上,真空泵和制冷装置分别与电子控制系统电性连接。本实用新型的低温真空运输箱通过便捷的方式建立了低温真空环境条件,有效的保证了金属样品在运输过程中保持原有的特性不变,达到了分析结构准确性的要求。

    一种扫描电镜及三维原子探针用跨设备表征通用样品底座

    公开(公告)号:CN211453418U

    公开(公告)日:2020-09-08

    申请号:CN201922383891.4

    申请日:2019-12-26

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本实用新型的一种扫描电镜及三维原子探针用跨设备表征通用样品底座,属于材料微纳尺度结构与性能原位表征技术领域,由相互凹凸配合并用于夹持片状样品的装载台和固定台组成,装载台在靠近于固定台的一侧顶部开设有侧开凹槽,固定台在靠近装载台的一侧设有与侧开凹槽卡合的凸块,且固定台上所设的凸块相对于装载台上所设的侧开凹槽轴向滑动配合;装载台面对固定台的对应面上并位于侧开凹槽两侧开设有安装孔,固定台面对装载台的对应面上并位于凸块两侧开设有与安装孔对应的通孔,且装载台上所设的安装孔与固定台上所设的通孔通过联接件连接;装载台在背离固定台的一侧顶部开设有用于放置三维原子探针样品的圆孔。本通用样品座适用于原位力学加载、扫描电镜和三维原子探针设备。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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