公开(公告)号：CN106323596A

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201610815300.4

申请日：2016-09-12

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  李创 ,  张浩亮 ,  苑勇贵 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  苑立波

IPC: G01M11/00

CPC classification number: G01M11/30

Abstract: 本发明设计属于光纤测量领域，具体涉及一种保偏光纤缺陷点检测中对干涉峰的位置-幅值含义预估方法。本发明包括：明确待测保偏光纤中所有缺陷点个数和相应位置，记录缺陷点个数；对各个缺陷点耦合强度进行初始赋值；测量待测保偏光纤中，测量由缺陷点分开的区间光纤长度；设定待测保偏光纤每段区间光纤的线性双折射；明确待测保偏光纤接入测量系统对轴角度；根据缺陷点个数，缺陷点耦合强度，区间光纤长度，对轴角度输入到分析系统进行分析等。本发明推导出了干涉峰的位置-强度一般表达式。给定位置的扫描光程，可直接选择所需公式即得到该干涉峰的幅值含义，简化计算流程，节省计算时间。

公开(公告)号：CN105823624A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201610157526.X

申请日：2016-03-18

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苑勇贵 ,  梁帅 ,  杨军 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  李创 ,  喻张俊 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01M11/02

Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种用于光学相干偏振测量的标定装置及其动态范围标定方法。本发明包括宽谱光源与功率监测装置510、第一光纤连接器521、第二光纤连接器522、高精度标定装置530、光程相关器540、偏振串扰检测与信号记录装置550。使用特定长度和对准角度的保偏光纤搭建标定装置，可对测量峰的位置和幅度进行精确定位；利用多个串扰点的二阶干涉峰，可对较低峰值进行精确定位。利用不同的标定梯度，提高标定精度和准确性。

公开(公告)号：CN105823620A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201610152972.1

申请日：2016-03-17

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  李创 ,  苑勇贵 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  喻张俊 ,  苑立波

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01M11/30 ,  G01M11/0278

Abstract: 本发明提供的是一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法。通过改变待测光纤与起偏器/检偏器之间的对轴角度，分别实现对干涉信号中不同特征干涉峰的抑制和放大；不同对轴角度条件下，将测量干涉峰与预测干涉峰位置?幅值的理论公式进行比对，得到干涉信号中的特征干涉峰的幅值、阶次等信息；通过4次不同对轴角度测量，即可鉴别出其中的伪干涉峰和代表真实缺陷点的干涉峰。本发明中的操作方法简单有效，有助于从分布式干涉测量中准确地估计保偏光纤缺陷点信息，可以广泛应用于保偏光纤中缺陷点的精确测量。

公开(公告)号：CN204202850U

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201420587755.1

申请日：2014-10-11

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  戴明哲 ,  李创 ,  闫德凯 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  苑勇贵 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本实用新型设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导的双通道光学性能双向多对轴角度自动测试装置。包括高偏振稳定度宽谱光源、光信号换轴机构、光信号通道方向切换机构、待测集成波导调制器即Y波导、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，光信号换轴机构具有第一输入端尾纤、第二输入端尾纤，第三输出端尾纤、第四输出端尾纤分别与高偏振稳定度宽谱光源、光程解调装置、光信号通道方向切换机构的第一输入端、第二输入端连接。使用计算机控制装置的换轴、换向、换通道功能，可以对待测波导器件实现多对轴角度、双向、双通道的测试。其测试结果更加详细、全面和精确。

公开(公告)号：CN204405294U

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201420587770.6

申请日：2014-10-11

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  柴俊 ,  戴明哲 ,  李创 ,  闫德凯 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  苑勇贵 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本实用新型设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。

公开(公告)号：CN204202851U

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201420587780.X

申请日：2014-10-11

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  戴明哲 ,  柴俊 ,  李创 ,  闫德凯 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  苑勇贵 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本实用新型设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫-泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。